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particles systemsの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 17件
law obeyed by a systems of particles whose wave function changes when two particles are interchanged (the Pauli exclusion principle applies) 例文帳に追加
波動関数が、2つの粒子がいつ交換されるかを(パウリ排他原理が適用される)変える粒子のシステムによって従われた法 - 日本語WordNet
To provide delivery devices, methods and systems for the delivery of particles into a biological tissue.例文帳に追加
薬剤粒子を経皮的に生体組織内へ送達するための送達機器、方法及びシステムを提供する。 - 特許庁
Such particles may be used as delivery systems for a diverse range of immunogenic epitopes, including the HBV capsid-binding peptides.例文帳に追加
このような粒子の、多様な範囲の免疫原性エピトープ(HBVキャプシド結合ペプチドを含む)のための送達系としての使用。 - 特許庁
the branch of physics that makes theoretical predictions about the behavior of macroscopic systems on the basis of statistical laws governing its component particles 例文帳に追加
その構成要素である粒子を支配する統計的法則に基づき、巨視的な系統の行動を理論的に予想する物理学の分野 - 日本語WordNet
Pieces of specific information of particle coordinate systems C0 to C3 where particles are arranged locally are generated so that respective particle coordinate system are coupled with one another.例文帳に追加
複数のパーティクルがローカルに配置されるパーティクル座標系C0〜C3の特定情報を、各パーティクル座標系同士が互いに連結するようにしながら、リアルタイムに生成する。 - 特許庁
To provide accessory function systems capable of producing rAAV virion particles in commercially significant level without generating significant levels of infectious adenovirus virions or other contaminating by-products.例文帳に追加
有意のレベルの感染性アデノウイルスビリオン、または他の混入する副産物をも産生することなく、商業的に有意のレベルのrAAVビリオン粒子を産生し得る補助機能系を提供すること。 - 特許庁
The debris suppressing systems are disposed so as to directly evaporate the debris particles, to directly charge the debris, or to directly generate plasma from the debris particles, or to perform arbitrary combinations of them.例文帳に追加
デブリ抑制システムは、放射線源から光学システムへ放射線が進む経路内で、デブリ粒子を直接蒸発させるように、デブリ粒子を直接荷電するように、またはデブリ粒子からプラズマを直接発生させるように、あるいはそれらの任意の組合せを行うように配置される。 - 特許庁
To obtain a radiation detector that allows two systems of photodetectors to minimize mutual influence and maximize detection efficiency in a wavelength-identification-type double-layer photodetector for discriminating particles.例文帳に追加
粒子弁別を行う波長識別型二層光検出器において、2系統の光検出器を相互の影響を最小にして検出効率を最大限に高めることができる放射線検出器を提供する。 - 特許庁
A filter 820 system includes a plurality of foils F1 and F2 for trapping debris particles, supports S1 and S2 for storing a plurality of foils and cooling systems CS1 and CS2 having surfaces configured to be cooled.例文帳に追加
フィルタ・システムは、デブリ粒子をトラップするための複数のホイルF1,F2と、複数のホイルを保持するためのサポートS1,S2と、冷却されるようになされた表面を有する冷却システムCS1,CS2とを含む。 - 特許庁
Such systems and methods include identifying a first quantum state of a lattice having a system of quasi-particles disposed thereon, moving the quasi-particles within the lattice according to at least one predefined rule, identifying a second quantum state of the lattice after the quasi-particles have been moved, and determining a computational result based on the second quantum state of the lattice.例文帳に追加
そのような装置および方法は、そこに配置された準粒子のシステムを持っている格子の最初の量子状態を識別すること、少なくとも1つのあらかじめ決められた規則に従って格子内で準粒子を移動すること、準粒子が移動された後に格子の2番目の量子状態を識別すること、および格子の2番目の量子状態に基づいた計算の結果を決定することを含む。 - 特許庁
A process includes adding a metal (a metal compound in an embodiment) at the beginning of coalescence, which speeds a coalescence process and produces toner particles having a desired particle size and circularity for use in electrophotographic imaging systems.例文帳に追加
金属(実施形態において金属化合物)を合体開始時に付加することを含み、これにより、合体プロセスが高速化され、電子写真画像化システムにおいて用いられる所望のサイズおよび真円度を有するトナー粒子が生成される。 - 特許庁
(a) Spraying or fogging systems designed to be mounted in aircraft, airship, balloon, or unmanned aerial vehicles capable of dispersing droplets initial particles of which have a median cubic diameter less than 50 microns from an on-board liquid device at a rate exceeding 2 liters per minute 例文帳に追加
イ 航空機、飛行船、気球又は無人航空機に搭載するように設計した噴霧器又は煙霧機であって、初期粒径が体積メディアン径で五〇ミクロン未満の飛沫を液体搭載装置から二リットル毎分超の割合で散布できるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
In addition, inspection systems, circuits, and methods are provided to enhance defect detection by reducing thermal damage to large particles by dynamically altering the incident laser beam power level supplied to the specimen during a surface inspection scan.例文帳に追加
加えて、表面検査の走査の間に試料に供給される入射レーザ・ビームパワー・レベルを動的に変更することによって大きな粒子に対する熱破損を削減することにより欠陥検出を強化するための検査システムや回路、方法が提供される。 - 特許庁
Incorporation of the composition into a resin exhibits a high synergetic effect which cannot be achieved in respective single systems because the composition harmoniously comprises the reinforcing fiber and the fine particles to come to a resin composition which excels in high rigidity, impact resistance, flame retardance, and tracking resistance.例文帳に追加
該組成物を樹脂に配合することにより、強化繊維と微粒子がバランスよく配合されるため、各単独系ではなし得なかった高い相乗効果が発現し、高剛性、耐衝撃性、難燃性及び耐トラッキング性に優れる樹脂組成物となる。 - 特許庁
The charged particles beam irradiation device 10 is provided with the plurality of charged particle beam sources 6 in order to generate the charged particle beams, and electron optical systems (2, 3, 4) to converge the plurality of charged particle beams B onto the sample 5, which were generated from the plurality of charged particle beam sources 6.例文帳に追加
荷電粒子ビームを発生させるための複数の荷電粒子ビーム源6と、複数の荷電粒子ビーム源6から発生された複数の荷電粒子ビームBを試料5上に収束させるための電子光学系(2、3、4)とを備えた荷電粒子ビーム照射装置10である。 - 特許庁
The method relates to forming an electrode member 51 of a thin layer used to constitute an electrode of a film electrode junction body for fuel cell, and forms an electrode member by supplying conductive particles 62 and resin-dispersed liquid 63 onto a substrate 61 via systems 111 and 112 independent of each other.例文帳に追加
燃料電池用膜電極接合体の電極を構成するために用いられる薄層の電極用部材51を形成する方法であって、別個独立した系統111と112を介してそれぞれが供給される導電性粒子62と樹脂分散液63とを基材61上に供給することによって、電極用部材を形成する。 - 特許庁
In inspection of the bare silicon type semiconductor wafer, the semiconductor wafer is evaluated by classifying a projecting defect from a recessed defect by using a laser surface inspection device equipped with one low-angle incident system and two light receiving systems, to thereby enable to evaluate the semiconductor wafer by classifying accurately the adhering particles from the COP on the bare silicon type semiconductor wafer.例文帳に追加
ベアシリコン半導体ウエーハの検査において、1つの低角度入射系と、2つの受光系とを備えたレーザー表面検査装置を用い、凸状欠陥と凹状欠陥を分類して半導体ウエーハを評価することにより、ベアシリコン半導体ウエーハの付着パーティクルとCOPを正確に分類して半導体ウエーハを評価することができる。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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