「scanning method」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an X-ray CT system for performing a contrast radiography by a helical shuttle scanning smaller in the amount of exposure, and to provide a scanning control method.例文帳に追加

造影撮影を被曝量のより小さいヘリカルシャトルスキャンで行うＸ線ＣＴ装置およびスキャン制御方法を実現する。 - 特許庁

To provide an optical deflector which is adaptive to high-speed scanning by a simple method and can expand the scanning range of a light beam.例文帳に追加

簡易な手法によって高速スキャンにも対応できて光線の走査範囲を拡張できる構成を持つ光偏向器である。 - 特許庁

To provide a double side document scanning apparatus and method, for automatically scanning both sides of a document in simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で原稿の両面の自動読み取りが可能な原稿両面読取装置および原稿両面読み取り方法を得ること。 - 特許庁

To provide a server scanning device and a server scanning method for efficiently processing a huge amount of image data via a network.例文帳に追加

ネットワークを経由して大量のイメージデータを効率良く処理することができるサーバスキャン装置およびサーバスキャン方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement method that uses a scanning probe microscope having high quantitative precision, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

高い定量精度を有する走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法、および、その走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning exposure method which is capable of scanning and exposing a large exposure region with good imaging performance without enhancing joint accuracy.例文帳に追加

継ぎ精度を高めることなく良好な結像性能をもって、大きな露光領域を走査露光することのできる走査露光方法。 - 特許庁

OPTICAL SCANNER AND IMAGE DISPLAY DEVICE WITH THE SAME, AND RETINA SCANNING TYPE IMAGE DISPLAY DEVICE AND METHOD OF DRIVING OPTICAL SCANNING ELEMENT例文帳に追加

光走査装置及びそれを備えた画像表示装置並びに網膜走査型画像表示装置、及び光走査素子の駆動方法 - 特許庁

To provide a laser bar code scanner and a scanning method for automatically adjusting intensity and the width of a scanning beam and improving reading efficiency.例文帳に追加

自動的にスキャン光線の強度及び幅を調整し、読取り効率を向上できるレーザーバーコードスキャナ及びスキャン方法の提供。 - 特許庁

To provide a visually proper method of processing for edge parts, in deriving interpolated pixels in the conversion from interlace scanning to progressive scanning.例文帳に追加

インターレース走査からプログレッシブ操作への変換において、補間画素におけるエッジ部の視覚的に良好な処理方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING HEAR-FIELD MICROSCOPE, AND PROBE FOR SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE MANUFACTURED BY THE SAME例文帳に追加

走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法とその製造方法によって作製された走査型近視野顕微鏡用プローブ - 特許庁

To provide a light beam scanning apparatus which can improve the drawing efficiency as well as maintaining the drawing accuracy and to provide a method for scanning with light beam.例文帳に追加

描画効率の向上と描画精度の維持とを両立できる光ビーム走査装置および光ビーム走査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, LIGHT ABSORBING MATERIAL DETECTING METHOD USING IT, AND MICROSPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた光吸収物質の検出方法並びに顕微分光方法 - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ITS DRIVING METHOD AND SCANNING LINE SELECTION METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電気光学装置、電気光学装置の駆動方法、電気光学装置の走査線選択方法及び電子機器 - 特許庁

METHOD OF INTRODUCING SAMPLE INTO GLASS CAPILLARY, AND METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR MEASUREMENT BY DIFFERENTIAL SCANNING CALORIIMETER(DSC)例文帳に追加

ガラスキャピラリーへの試料導入方法および示差走査熱量計用測定試料の調製方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD, RECORDING/REPRODUCING METHOD, SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND RECORDING/ REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

表面観察方法及び記録再生方法、並びに、走査型プローブ顕微鏡及び記録再生装置 - 特許庁

ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ITS DRIVING METHOD AND SCANNING LINE SELECTING METHOD, AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

電気光学装置、電気光学装置の駆動方法、電気光学装置の走査線選択方法及び電子機器 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SCANNING EXPOSURE AND DEVICE MANUFACTURING METHOD SURFACE POSITION SETTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

走査露光方法、走査型露光装置、及び前記方法を用いるデバイス製造方法面位置設定装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, DISCHARGE ELECTRON DETECTED VALUE ESTIMATION METHOD, SEM IMAGE SIMULATION METHOD, AND ITS PROGRAM例文帳に追加

走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム - 特許庁

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD例文帳に追加

走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁

Since the method can adopt the optimum scanning method, the compression efficiency of the signal can be enhanced.例文帳に追加

よって、最適の走査方法を用いることができるので、信号の圧縮効率を高めることができる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE例文帳に追加

半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR PROCESSING PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE PROCESSED BY THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に用いられるプローブの処理方法およびこの処理方法で処理されたプローブ - 特許庁

EXPOSURE VALUE UNIFORMITY MEASURING METHOD IN EXPOSURE FIELD, RETICLE AND SCANNING-TYPE ALIGNER例文帳に追加

露光フィールド内露光量均一性測定方法、レチクル、及びスキャン型露光装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SCANNING DETECTOR ARRAY IN X-RAY IMAGING SYSTEM例文帳に追加

Ｘ線イメージング・システムにおいて検出器アレイをスキャンするための方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DECIDING LINE START WRITE-IN POSITION AND POWER OF SCANNING LIGHT BEAM例文帳に追加

走査光ビ—ムのライン開始書き込み位置及びパワ—の決定方法及び装置 - 特許庁

To display a movement of blood flow or the like by a simple construction in a mechanical scanning method.例文帳に追加

メカニカルスキャン方式において、簡単な構成で血流等の動きを表示する。 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGE SENSING DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, IMAGE READING UNIT, AND IMAGE SCANNING APPARATUS例文帳に追加

固体撮像装置、その製造方法、画像読取ユニット及び画像走査装置 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for encoding or decoding an interlaced scanning image.例文帳に追加

飛越し走査映像符号化または復号化方法および装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING CONTACT THERMAL RESISTANCE IN DIFFERENTIAL SCANNING CALORIMETER例文帳に追加

差分走査熱量計における接触熱抵抗を調整するシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD OF SCANNING PICTURE USING LOOK-DOWN TYPE LINEAR ARRAY SCANNER AND SYSTEM THEREOF例文帳に追加

ルックダウン型線形アレイ・スキャナを使用して画像を走査する方法およびそのシステム - 特許庁

OPTICAL SCANNING APPARATUS, METHOD FOR CONTROLLING THE APPARATUS, AND IMAGE FORMING APPARATUS USING THE APPARATUS例文帳に追加

光走査装置、該装置の制御方法及び該装置を用いた画像形成装置 - 特許庁

PULLDOWN SIGNAL DETECTOR, PULLDOWN SIGNAL DETECTION METHOD, AND PROGRESSIVE SCANNING CONVERTER例文帳に追加

プルダウン信号検出装置及びプルダウン信号検出方法、順次走査変換装置 - 特許庁

INFORMATION PROCESSOR, PRINTER, AND METHOD AND PROGRAM FOR DETERMINING SCANNING DIRECTION例文帳に追加

情報処理装置、プリンタ、スキャン方向判定方法、及びスキャン方向判定プログラム - 特許庁

LIGHT DEFLECTOR, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, OPTICAL SCANNING DEVICE AND IMAGE FORMING DEVICE例文帳に追加

光偏向器、光偏向器の製造方法、光走査装置及び画像形成装置 - 特許庁

The sub-scanning conveyance amount in the first recording method is to be L1.D (L1 = an integer) and the sub-scanning conveyance amount in the second recording method is to be L2.D (L2 = an integer).例文帳に追加

第１の記録方式における副走査送り量をＬ１・Ｄ（Ｌ１は整数）とし、第２の記録方式における副走査送り量をＬ２・Ｄ（Ｌ２は整数）とする。 - 特許庁

PRINT HEAD, AND METHOD OF SETTING CORRECTION VALUE OF SUB-SCANNING DIRECTIONAL DEVIATION OF PRINT HEAD例文帳に追加

プリントヘッドおよびプリントヘッドにおける副走査方向ずれ補正値の設定方法 - 特許庁

Used voltage ranges of the respective driving methods are characterized in that when the Duty is equal, the scanning-side voltage of the MLA method is low and the scanning-side voltage of the SA method is high.例文帳に追加

各駆動方法における使用電圧範囲の特徴は、同一Ｄｕｔｙで比較するとＭＬＡ法では走査側の電圧が低く、ＳＡ法では高い。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, a semiconductor integrated circuit design method, a scanning test pattern generation method, and a program capable of reducing cost in a scanning test.例文帳に追加

スキャンテストにおけるコストを低減することができる半導体集積回路、半導体集積回路設計方法、スキャンテストパタン生成方法及びそのプログラムを提供すること - 特許庁

MAGNETIC RESONANCE IMAGING DEVICE, SCANNING DEVICE, MAGNETIC RESONANCE IMAGING METHOD, AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

磁気共鳴イメージング装置、スキャン装置、磁気共鳴イメージング方法、および、そのプログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁

SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE AND METHOD USING SAME FOR DISCRIMINATING CONDUCTION-TYPE OF SEMICONDUCTOR例文帳に追加

走査型容量顕微鏡とそれを用いた半導体の導電形判定方法 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TYPE MICROSCOPE, ITS POSITIONING METHOD, PROGRAM FOR THE SAME, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加

共焦点走査型顕微鏡、その位置合わせ方法、プログラム及び記憶媒体 - 特許庁