「self-built」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SELF-TEST CIRCUIT BUILT-IN SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

自己テスト回路内蔵半導体記憶装置 - 特許庁

MICROCOMPUTER BUILT-IN SENSOR HAVING SELF-DIAGNOSTIC FUNCTION例文帳に追加

自己診断機能を有するマイコン内蔵センサ - 特許庁

BUILT-IN SELF TEST HIERARCHY FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路用の組込み自己テスト階層 - 特許庁

SOC WITH BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT, AND SELF-TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ、及びそのセルフテスト方法 - 特許庁

BUILT-IN-TYPE SELF-TEST CIRCUIT AND TEST METHOD例文帳に追加

組み込み型自己テスト回路およびテスト方法 - 特許庁

BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT AND DESIGN VERIFICATION METHOD例文帳に追加

組込み自己テスト回路及び設計検証方法 - 特許庁

TFT ARRAY BUILT-IN SELF-INSPECTION DEVICE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

ＴＦＴアレイ・ビルトイン・セルフ検査装置と検査方法 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SET FOR SCANNING METHOD 3 WEIGHT RANDOM BUILT-IN SELF-TEST AND SCANNING METHOD BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテストのテストセット生成方法、スキャン方式ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

SCANNING METHOD 3 WEIGHT-ADDED RANDOM SCAN BUILT-IN SELF-TEST CIRCUIT例文帳に追加

スキャン方式３重み加重ランダムス・ビルトイン・セルフテスト回路 - 特許庁

To provide a semiconductor IC circuit which accomplishes a BIST(built in self test), whitout having to provide an exclusive test terminal.例文帳に追加

テスト専用端子を設けることなくＢＩＳＴ（Built In Self Test）を行うことができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST COMBINING MICRO- CODE AND FINITE STATE MACHINE SELF-TEST例文帳に追加

マイクロコードと有限状態機械セルフテストを組み合わせるプログラマブル・メモリビルトイン・セルフテスト - 特許庁

To provide a SOC with a built-in self-test circuit and a self-test method therefor.例文帳に追加

内蔵型セルフテスト回路を有するＳＯＣ及びそのセルフテスト方法を提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT例文帳に追加

自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁

BUILT-IN SELF-INSPECTING CIRCUIT, LSI, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SYSTEM BOARD例文帳に追加

組込み型自己検査回路、ＬＳＩ、半導体装置、及びシステムボード - 特許庁

METHOD AND APPARATUS OF PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST)例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR BUILT-IN SELF-TEST FOR RECOVERY TYPE DATA TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

再生型データ伝送システムの内部自己検査方法及びシステム - 特許庁

Is the sales system, etc. built for self-responsibility? 例文帳に追加

る態勢を整備し、自ら責任ある販売態勢等を構築しているか。 - 金融庁

To execute built-in self test without using plural exclusive test terminals.例文帳に追加

複数の専用のテスト端子を用いず、組み込み自己検査を実行する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

The C function always has two arguments, conventionally named self and args.The self argument is only used when the C function implements a built-in method, not a function.例文帳に追加

C 関数は常に二つの引数を持ち、便宜的に self および argsと呼ばれます。 self 引数は C 関数が Python の関数ではなく組み込みメソッドを実装している場合にのみ使われます。 - Python

ALL DIGITAL BUILT-IN SELF-INSPECTION CIRCUIT FOR PHASE LOCK LOOP AND INSPECTING METHOD例文帳に追加

位相ロック・ループ用全ディジタル内蔵自己検査回路および検査方法 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

THERMAL FUSE HAVING SELF-HEATING ELEMENT AND PACK BATTERY WITH THE BUILT-IN THERMAL FUSE例文帳に追加

自己発熱素子を有する温度ヒューズとこの温度ヒューズを内蔵するパック電池 - 特許庁

The method of the programmable memory built-in self test (MBIST), the apparatus, and a system are disclosed.例文帳に追加

プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト（ＭＢＩＳＴ）の方法、装置、及びシステムを開示する。 - 特許庁

To allow a BIST (Built-In Self Test) circuit used for a manufacturing test of a LSI internal memory, to be used for initializing a cache memory also.例文帳に追加

ＬＳＩ内部メモリの製造テストに用いられるＢＩＳＴ（Build-In Self Test）回路をキャッシュメモリの初期化にも使用できるようにする。 - 特許庁

That is, a circuit for generating the CT value in order, a circuit for making a BIST (Built In Self Test) circuit operate and holding its result (right or wrong value) and a circuit for controlling them are held in the macro.例文帳に追加

すなわち、ＣＴ値を順次生成する回路、ＢＩＳＴ(Built In Self Test)回路を動作させその結果（正否値）を保持する回路、それらを制御する回路をマクロ内に保有する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

To ensure turning-on of only one select line of a multiplexer during a logic built-in self test.例文帳に追加

論理の組み込み自己試験中にマルチプレクサのセレクトライン１つのみがオンとなることを保証する。 - 特許庁

A built-in self-test circuit 300 and a built-in redundancy analyzing circuit 400 are respectively provided in a plurality of DRAM cores 100.1-100.n.例文帳に追加

ビルトインセルフテスト回路３００およびビルトイン冗長解析回路４００とは、複数のＤＲＡＭコア１００．１〜１００．ｎに共通に設けられる。 - 特許庁

More particularly, in a first aspect, a dual mode BIST controller comprises both a logic built-in self-test ('LBIST') domain and a memory built-in self-test ('MBIST') domain.例文帳に追加

より具体的に言えば、第１の態様で、デュアル・モードＢＩＳＴ制御装置は、論理組込み形自己試験（「ＬＢＩＳＴ」）領域とメモリ組込み形自己試験（「ＭＢＩＳＴ」）領域の両方を含む。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH SELF-RESTORATION CIRCUIT FOR BUILT IN MEMORY, AND MEMORY RESTORING METHOD例文帳に追加

内蔵メモリのための自己復旧回路を具備する集積回路半導体装置及びメモリ復旧方法 - 特許庁

SIMULTANEOUS CODE CHECKER AND HARDWARE EFFICIENT HIGH-SPEED I/O HAVING BUILT-IN SELF-TEST AND DEBUG FUNCTION例文帳に追加

組込み自己試験及びデバッグ機能を有する同時コードチェッカー及びハードウエア効率的高速Ｉ／Ｏ - 特許庁

Combining multiple such self-test instructions allows a custom test methodology to be built up by a user using a generic self-test controller 10.例文帳に追加

多数のこのような自己テスト命令を組み合わせることにより、ユーザは総称的自己テスト・コントローラ１０を用いて特注のテスト方法を構築できる。 - 特許庁

To drastically reduce the power consumption at the time of self-timer photography than that in the conventional manner in a camera with a self-timer function built in.例文帳に追加

本発明は、セルフタイマ機能を内蔵したカメラに関し、セルフタイマ撮影における消費電力を従来より大幅に低減することを目的とする。 - 特許庁

Furthermore, the mechanism of the printing state checking means is built into the printer, so that the printer can be equipped with a mechanism for self-correcting and self-determining the printing state.例文帳に追加

さらに、印字装置内に上記手段の機構を盛り込むことにより、印字状態の自己修正、自己判定機構を持つ印字装置を可能とする。 - 特許庁

The circuit is provided with a plurality of memories 10a to 10n which can store data, a built-in self-test circuit 20 performing tests of a plurality of memories, and an analyzing circuit 30 analyzing a test result of the built-in self-test circuit.例文帳に追加

データを記憶可能な複数のメモリ１０ａ〜１０ｎと、複数のメモリのテストを行う組込自己テスト回路２０と、組込自己テスト回路のテスト結果を解析する解析回路３０と、を備えている。 - 特許庁

The safe heat source is formed of a self-digestive resin, and constituted as an overheat prevention device by a built-in sensor.例文帳に追加

安全な熱源を消化学性樹脂で形成し、内蔵のセンサーにより、過熱防止装置で形成する。 - 特許庁

To easily diagnose a failure of a semiconductor integrated circuit with a built-in self-test circuit for a memory.例文帳に追加

メモリの自己テスト回路が組み込まれた半導体集積回路の故障診断を容易に実行できるようにする。 - 特許庁

Additionally, a practice ground for the Japan Ground Self-Defense Force was also built, and Kyoto Prefecture and the northern part of Hyogo Prefecture have been designated as a security area. 例文帳に追加

また陸軍演習場も備えており京都府と兵庫県の北部を警備担任区域としている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The encryption function is a built-in function or a self-contained function of the drive and/or its dedicated controller.例文帳に追加

暗号化機能はドライブおよび／またはその専用コントローラの組込み機能または自己充足機能である。 - 特許庁

To use auxiliary light prepared for autofocusing and built in a camera, also as display light at photographing by a self-timer mode.例文帳に追加

カメラに組み込まれたオートフォーカス用の補助光をセルフタイマーモードによる撮影時の表示光として兼用する。 - 特許庁

To obtain an integrated circuit device equipped with a built-in self-test circuit suitable for testing a multi-port memory.例文帳に追加

マルチポートメモリをテストするのに好適な組み込み自己テスト回路を備える集積回路装置を実現する。 - 特許庁

A self-diagnosis processing section 38 of the television receiver 30 executes the self-diagnosis processing when powered up and designation by a user or the like and stores the result to a built-in memory 40.例文帳に追加

テレビジョン受像機３０の自己診断処理部３８は、電源の投入時やユーザの指定等によって自己診断処理を実行し、結果を内蔵メモリ４０に蓄積する。 - 特許庁

To provide a battery with built-in capacitor which is of high output and can be used for a long period with less self discharge.例文帳に追加

高出力であり、かつ、自己放電が少なくて長期間使用可能なキャパシタ一体型電池を提供する。 - 特許庁

A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加

機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁