「sorting test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

In the IC tester 1, a test control part 71 executes an IC test based on a test program 61 to a device under test on a tester board part 5, the test result is stored in a data acquisition file 62 as the sorting data, and the sorting data which is stored in the file 62 is extracted via a data acquisition part 73.例文帳に追加

ＩＣテスタ１において、テスト制御部７１はテスタボード部５上の被測定デバイスにテストプログラム６１に基づくＩＣテストを実行し、テスト結果を分類データとしてデータ収集ファイル６２に格納し、データ収集ファイル６２に格納された分類データをデータ収集部７３を介して抽出する。 - 特許庁

To provide a sorting machine of an acoustic input product for testing a lot of acoustic input products at high speed and performing sorting work based on the test results.例文帳に追加

高速に多量の音響入力製品をテストして、検査結果による分類作業を行うことができる音響入力製品の選別装置に提供すること。 - 特許庁

For each folder to which a sorting setting of form data has been made, a propriety setting for registration of the test form data is made.例文帳に追加

帳票データの仕分け設定を行ったフォルダごとに、テスト帳票データの登録の可否設定を行う。 - 特許庁

To provide an image formation apparatus which precisely reproduces multiple colors without imposing a user sorting operation of test print sheets.例文帳に追加

テストプリント紙の仕分け作業をユーザーに強いることなく、多次色を精度良く再現する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Thereafter, a power supply voltage and a first test signal are supplied from a testing apparatus body through the probe pin to the semiconductor chip A under conditions determined by a specification and a sorting test is implemented.例文帳に追加

その後、試験装置本体からプローブピンを介して半導体チップＡに仕様で定められた条件で電源電圧と第１のテスト信号とを供給し、選別試験を実施する。 - 特許庁

The steps 1 to 4 are repeated for predetermined number of times, and then, the test data is sorted by the data sorting device learned and constituted lastly (Step 5).例文帳に追加

ステップ１〜４を一定回数繰り返した後、最後の学習され構成されたデータ分類装置でテストデータを分類する（ステップ５）。 - 特許庁

A schedule preparation means 13 prepares the acceptance test schedule 16 formed by sorting the single body program names in the order of the higher average running frequencies.例文帳に追加

スケジュール作成手段１３は、平均ラン回数が多い順に単体プログラム名をソーティングした受入検査スケジュール１６を作成する。 - 特許庁

In a post-wafer-sorting stage of device manufacture, a plurality of flash memory devices which each include a flash controller die related to a common housing and at least one flash memory die are passed to a test process such as a batch test process or mass test process.例文帳に追加

デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。 - 特許庁

To execute easy trouble sorting, between the telephone line of an ADSL circuit and the processor within a station and the circuit test in an ADSL system.例文帳に追加

ＡＤＳＬシステムでＡＤＳＬ回線の電話線路とセンタ局内の処理部との容易な障害切分けと回線試験とを実行することができる。 - 特許庁

Under this situation, the capacitance characteristics of each of a plurality of variable capacitance diodes in a sealing body 22 are measured at a first test position T1 and a second test position T2 of a sorting and taping apparatus in a distributed manner.例文帳に追加

この状況下において、封止体２２中の複数の可変容量ダイオードの各々の容量特性を選別テーピング装置の第１の検査位置Ｔ１と第２の検査位置Ｔ２とに分散して測定する。 - 特許庁

To obtain an IC tester which analyzes and edits sorting data as an IC test result and which displays the tendency and cause of generating failures.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタにおいて、ＩＣテスト結果である分類データを解析及び編集し、ＦＡＩＬが発生する傾向や要因をグラフ等により表示することである。 - 特許庁

For setting the sorting voltage, the isolation valve after using for the first period W1 is subjected to an accelerated degrading test for the second period W2, and the operating voltage V2 is measured.例文帳に追加

選別電圧を設定するために、第１期間Ｗ１の使用後の遮断弁に、第２期間Ｗ２の促進劣化試験を行い、この動作電圧Ｖ２を測定する。 - 特許庁

To provide a method for simply evaluating the quality of aggregate in a short time without performing the test kneading of concrete or a test for confirming the physical properties of concrete, and a method for sorting the aggregate on the basis of the quality evaluation result of the aggregate.例文帳に追加

コンクリートの試験練りやコンクリート物性の確認試験等を行うことなく、簡単にかつ短時間に骨材の品質を評価し得る方法、及びこの方法による評価結果に基づいて骨材を選別する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a jig for an automatic sorting apparatus used in IC tests which can open latch devices of a tray, when a pressuring device for bringing an IC and its terminals into contact with a test base is used.例文帳に追加

ＩＣ及びその端子をテストベースに接触させる加圧装置を使用する際、トレイのラッチ装置を開くことのできる、ＩＣテストに使用される自動ソーティング装置のジグを提供する - 特許庁

For setting the sorting performance Pon2Las, a component after use for the first period W1 is subjected to an accelerated degrading test for a second period W2, and the operation performance Pon2, V2 is measured.例文帳に追加

選別性能Ｐｏｎ２Ｌａｓを設定するために、第１期間Ｗ１の使用後の部品に、第２期間Ｗ２の促進劣化試験を行い、この動作性能Ｐｏｎ２，Ｖ２を測定する。 - 特許庁

A memory BIST circuit 4 where semiconductor chips 2 are used for a die sorting test, and contact pads 8 exclusive for testing are formed on dicing regions 3 separating the adjacent semiconductor chips 2.例文帳に追加

隣接する半導体チップ２間を分離するダイシング領域３上に、前記半導体チップ２をダイソート・テストに使用するメモリＢＩＳＴ回路４およびそのテスト専用コンタクトパット８を形成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a drop in the reliability of a bump connection can be prevented, a drop in the reliability of a flip-chip connection can be prevented and a die sorting test is performed easily and simply when the semiconductor device having a pad for bump connection is manufactured.例文帳に追加

バンプ接続用パッドを有する半導体装置の製造に際して、バンプ接続部の信頼性の低下を防止するとともに、フリップチップ接続時の信頼性の低下を防止することができ、ダイソートテストを容易かつ簡便に行う。 - 特許庁