「sub- nanometer」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To form a single particulate layer uniformly coated with particulates from about sub-nanometer to micron in a range from about μm^2 to cm^2.例文帳に追加

μｍ^2 からｃｍ^2 程度の領域で一様にサブナノメーターからミクロン程度の粒径の微粒子がコーティングされた単微粒子層を形成する。 - 特許庁

To provide a near-field nanoprobe capable of conducting infrared spectroscopic method, ranging from sub-micron order to several-nanometer order, without being restricted by the opening diameter.例文帳に追加

開口径の制約を受けることなく、サブミクロンから数ナノメートルオーダーの赤外分光法が可能である近接場ナノプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for manufacturing an extremely smooth grating stably forming a fine structure line constructing the extremely smooth grating scale used at a nanometer level or at a sub-nanometer level besides on an accurate position.例文帳に追加

ナノメータレベル、あるいは、サブナノメータレベルで用いられる超平滑グレーティングスケールを構成する微細構造線を、安定、かつ、正確な位置に形成することかできる超平滑グレーティングの製造装置及び製造方法を提供する。 - 特許庁

To form an extremely thin insulating film of a sub-nanometer to several nanometers (nm) in thickness on a silicon surface, and to actualize a low-voltage operating MOS device using the same.例文帳に追加

シリコン表面に厚さがサブナノから数ナノメートル（ｎｍ）レベルの極薄の絶縁膜を形成し、これを利用して、低電圧動作ＭＯＳデバイスを実現する。 - 特許庁

A small-diameter bright probe produced by an FEG can be used to map peak intensities of EDS spectra from a sub-nanometer diameter specimen area. 例文帳に追加

FEGによって作られる小さな径の輝度が高いプローブは、直径サブナノメータの試料領域からのEDSスペクトルのピーク強度を地図に描く(マッピングする)のに使うことができる。 - 科学技術論文動詞集

This nano-porous material is substantially composed of silica and has a nano-porous structure uniform in pore size over a range from sub- nanometer to ten several nanometer and having a specific surface area of 400-1,300 m2/g and the inner surface of the nano-porous structure is made hydrophilic.例文帳に追加

実質的にシリカを素材とし、サブナノメーターから十数ナノメーターまでの径の均一なナノ細孔構造を有するナノ多孔材料であって、比表面積が４００〜１３００ｍ^２／ｇであり、前記ナノ細孔構造の内部表面が親水化されている。 - 特許庁

To provide a combined evaluation system for a surface, having a comparatively simple device structure, inexpensive, and capable of simultaneously measure a corpuscle of a nanometer order, a scratch, and micro-roughness of sub-nanometer order on an ultra-precisely processed surface such as a Si wafer, by a light scattering method.例文帳に追加

光散乱法によってＳｉウエハ等の超精密加工面のナノメータオーダの微粒子、スクラッチ、サブナノメータオーダのマイクロラフネスを同時に短時間で測定でき、装置構造も比較的簡単で安価である光散乱法による表面の複合評価システムを提供する。 - 特許庁

Fine metal lines 2a, 2b, 2c and 2d are formed on the nanometer scale element 1, and sub-micron scale metal wires 3a, 3b, 3c and 3d and micron scale metal electrodes 4a, 4b, 4c and 4d are formed and connected sequentially.例文帳に追加

ナノメータースケール素子１に金属細線２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄを形成し、さらにサブミクロンスケールの金属配線３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄおよびミクロンスケールの金属電極４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄを順次形成し接続するようにしている。 - 特許庁

A carbon based material (carbon based substrate) 10, which the irregular structure having nanometer order or sub micrometer order pitches is formed on its surface, is attached to an inner wall or the like of a housing 11.例文帳に追加

表面にナノメートルオーダまたはサブマイクロメートルオーダの幅（ピッチ）の凹凸構造が形成されている炭素系部材（炭素系基板）１０を、筐体１１の内壁等に取り付ける。 - 特許庁

To provide a particle measuring method and its device suitable for detection of a trace of particles included in a large volume of fluid (medium) and having a size of several micron (μm) to sub-micron (μm) or several nanometer (nm).例文帳に追加

大容量の流体（媒質）中に混在するサイズが数ミクロン（μｍ）からサブミクロン（μｍ）あるいは数ナノメートル（ｎｍ）の微量の微粒子の検出に好適な微粒子測定方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a nano flake-like metal composite material with low energy consumption by using a green chemical template, a flake-like metal composite material having a size from nanometer size to sub-micrometer size obtained by this manufacturing method, and a use of the same.例文帳に追加

グリーンケミカルなテンプレートを用い、低エネルギー消費量のナノフレーク状金属複合材料の製造方法、それによって得られるナノサイズからサブミクロンサイズのフレーク状を有する金属複合材料およびその用途を提供すること。 - 特許庁

To stably measure a displacement amount and a moving amount of a measuring object with a sub-nanometer order or less of precision, without being affected by a disturbance such as air fluctuation and mechanical vibration.例文帳に追加

空気揺らぎや機械振動といった外乱の影響を受けることなく、サブナノメートルオーダ以下の精度で計測対象物の変位量や移動量を安定に計測可能な変位計測方法及びその装置並びにプローブ顕微鏡等を提供することにある。 - 特許庁

To provide an optical measuring device operated with the principle of an elliptic polarimeter capable of simplifying and miniaturizing a constitution, and measuring all of UV-VIS-IR spectral range even to a range of sub- nanometer with high accuracy.例文帳に追加

楕円偏光計の原理で作動する光学的測定装置において、構成を簡潔にコンパクトにし、すべてのＵＶ−ＶＩＳ−ＩＲスペクトル範囲にわたってサブナノメーターの範囲に至るまで高精度の測定が可能であるように構成する。 - 特許庁

The method for forming the single particulate layer comprises: depositing a dispersion 8 in which the particulates 3 of a grain size from about sub-nanometer to micron order is dispersed on a particulate holder 1; pressing the particulate holder 1 by a pressing plate 9 and horizontally vibrating the particulate holder and the pressing plate 9; and vacuum drying both to separate the pressing plate 9 from the particulate holder 1.例文帳に追加

サブナノメーターからミクロン程度のオーダーの粒径の微粒子３が分散された分散液８を微粒子保持体１上に被着した後、プレス板９により押圧しかつ微粒子保持体１とプレス板９とを水平方向に振動させ、その後真空乾燥して、プレス板９を微粒子保持体１上から分離する。 - 特許庁