「test input output」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test pattern output from the function test pattern output part 21 is input into the LSI 11.例文帳に追加

一方、ファンクションテストパターン出力部２１から出力したテストパターンは、ＬＳＩ１１へと入力される。 - 特許庁

An input/output means 6 for redundant memory cell being exclusive for input/output of data of a redundant memory cell space at the time of a test mode is provided in an input/output circuit 5 for test.例文帳に追加

テスト用入出力回路５に、テストモード時に冗長メモリセル空間のデータ入出力専用の冗長メモリセル用入出力手段６を設ける。 - 特許庁

The metallic test access bath is selectively combined with the input output port to form a test bath.例文帳に追加

メタリックテストアクセスバスは入出力ポートに選択的に結合して、テストパスを確立する。 - 特許庁

An input/output analysis test bench is provided which associates and integrates an input analysis test bench for analyzing the input signals and an output analysis test bench for analyzing the output signals.例文帳に追加

入力信号を解析する入力解析テストベンチと出力信号を解析する出力解析テストベンチを、以上２つを関連付けし統合する入出力解析テストベンチを設ける。 - 特許庁

The device is provided with a test signal input terminal, a test clock input terminal, a test start pulse input terminal, and a test output terminal other than a power source terminal, and also provided inside with a test data generating circuit for generating test digital data, and with a test switch installed correspondingly to an output terminal.例文帳に追加

電源端子以外に、テスト信号入力端子、テストクロック入力端子、テストスタートパルス入力端子、テスト出力端子を、設け、内部に、テスト用ディジタルデータを発生するテストデータ発生回路と、出力端子に対応して設けられるテストスイッチとを設ける。 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE INCLUDING HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT DEVICE例文帳に追加

高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁

A test switch (41) is connected between the first input and the second input of the output amplifier section (40) and is turned on in response to a test signal (TEST) to output the output gradation voltage to the output node (OUT) in a test mode for performing a test related to the output of the D/A converter (50).例文帳に追加

テストスイッチ（４１）は、出力アンプ部（４０）の第１入力と第２入力間に接続され、Ｄ／Ａコンバータ（５０）の出力に関するテストが実施されるテストモードにおいて、テスト信号（ＴＥＳＴ）に応じてオンし、出力階調電圧を出力ノード（ＯＵＴ）に出力する。 - 特許庁

To provide a digital controller capable of lessening operations at an input and output checking test and shortening a period of the input and output checking test.例文帳に追加

入出力確認試験における作業を軽減し、入出力確認試験の期間短縮が可能なディジタル制御装置を提供する。 - 特許庁

To modify a test pattern so as to be in accord with input-output switching timing of an input-output terminal of an integrated circuit measured by an input-output switch timer.例文帳に追加

入出力切替えタイミングが測定する集積回路の入出力端子の入出力切替えタイミングに合うようにテストパタンを修正する。 - 特許庁

An output scan cell 102 receives a mode selection signal 122 which indicates an input test mode or output test mode.例文帳に追加

出力走査セル１０２は、入力テストモード、または出力テストモードを指示するモード選択信号１２２を受ける。 - 特許庁

A test circuit 20 is provided on a circuit for transmitting a test signal inputted from a test signal input section 12 to a test signal output section 14.例文帳に追加

テスト回路２０は、テスト信号入力部１２から入力されたテスト信号を、テスト信号出力部１４へと伝達する回路に設ける。 - 特許庁

To provide an input/output compression circuit for a semiconductor memory device in which a test time can be shortened by decreasing the number of input/output pins for a test.例文帳に追加

テスト用の入出力ピン数を減少させ、テスト時間を短縮させることができる半導体メモリ装置のコンプレス入出力回路提供すること。 - 特許庁

To perform a level test of an input/output buffer of a semiconductor device without bringing a probe into contact with each input/output pad.例文帳に追加

半導体装置の入出力バッファのレベルテストを、各入出力パッドにプローブを接触させることなく行う。 - 特許庁

The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.例文帳に追加

機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁

Next, a test input vector VEC is input into an input signal line, and an initial simulation output vector ISO is acquired in an output signal line.例文帳に追加

次に、テスト入力ベクトルＶＥＣを入力信号線に入力して初期シミュレーション出力ベクトルＩＳＯを出力信号線に得る。 - 特許庁

An input signal Sina output from the test terminal Padt1 and a clock signal Sclka output from the test terminal Padt2 are input to the test circuitry 3, and test results of the paths to be tested are output via the test terminal Padt3.例文帳に追加

テスト回路部３はテスト端子Ｐａｄｔ１から出力される入力信号Ｓｉｎａとテスト端子Ｐａｄｔ２から出力されるクロック信号Ｓｃｌｋａが入力され、テスト対象のパスのテスト結果がテスト端子Ｐａｄｔ３を介して出力される。 - 特許庁

A half SIN1 of a test data SIN is input into FFs 10, 11 from a data input and output node 15 in a test data input mode, and the other half of the half SIN2 of the test data SIN is input into FFs 13, 14 from a data input and output node 16.例文帳に追加

テストデータ入力モード時は、データ入出力ノード１５からテストデータＳＩＮの半分ＳＩＮ１をＦＦ１０、１１に入力すると共に、データ入出力ノード１６からテストデータＳＩＮの他の半分ＳＩＮ２をＦＦ１３、１４に入力する。 - 特許庁

It is possible to reduce the number of pins of a test interface since test input and output signals can be unwired by using this means.例文帳に追加

本手段を用いれば，テスト入出力信号を無線化できるためテストインターフェースの少ピン化を図れる。 - 特許庁

As a result, the number of input terminals for scan test and the number of output terminals for scan test can be inhibited.例文帳に追加

この結果、スキャンテスト用入力端子数およびスキャンテスト用出力端子数を抑えることができる。 - 特許庁

The test substrate includes wiring connecting the scan output terminals and input terminals.例文帳に追加

試験基板は、スキャン出力端子と入力端子とを接続する配線を備える。 - 特許庁

The input data comparison circuit compares the corresponding data items of the plurality of input test writing data and the plurality of test output data, and identifies the matching test output data.例文帳に追加

前記入力データ比較回路は、入力された前記複数のテスト書き込みデータと前記複数のテスト出力データとの対応するもの同士を比較して、一致した前記テスト出力データを特定する。 - 特許庁

All test patterns are sequentially inputted in the logic integrated circuit 3 which is the test target from application software of a test pattern input/output controller 4 composed of a PC, its output is read by the test pattern input/output controller 4, and an output pattern 6 is created.例文帳に追加

ＰＣで構成されたテストパターン入出力制御装置４上のアプリケーションソフトから試験対象となる論理集積回路３に全てのテストパターンを順次入力し、その出力をテストパターン入出力制御装置４に読み出しアウトプットパターン６を作成する。 - 特許庁

During a test, a signal is sent from a test input terminal to drive the test control circuit, a signal is output from the output side of an input/output tri-state circuit provided for use in test, and the drive result is observed at an input buffer of the input/output tri-state circuit, thereby checking whether the pull-up and pull-down resistance of a load is present.例文帳に追加

テスト時にはテスト用入力端子から信号を送りテスト制御回路を駆動し、テスト用に設けた入出力トライステート回路の出力側から信号を出力し、その駆動結果を入出力トライステート回路の入力バッファで観測することにより、負荷のプルアップ、プルダウン抵抗があるかどうかをチェックする。 - 特許庁

Each time the test is run, the input is processed, and the current output is compared to the content of Output file. 例文帳に追加

テストが実行されるそれぞれのタイミングで、入力が行われ、その時点の出力結果を Output ファイルの内容と比較します。 - NetBeans

INPUT/OUTPUT TRANSFORMER, TEST METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE, AND ELECTRICAL QUANTITY INPUT/OUTPUT METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE例文帳に追加

入出力変成器、電力用保護制御装置の試験方法、並びに電力用保護制御装置の電気量入出力方法。 - 特許庁

To provide a test interface circuit for mixed memory in which the number of test data input/output terminals is reduced and a practicable test pattern is increased.例文帳に追加

テストデータ入出力端子の数を低減しかつ実行可能なテストパターンを増加させる混載メモリ用テストインターフェイス回路を提供する。 - 特許庁

A test piece 19 is sandwiched between the input rod 3 and the output rod 5.例文帳に追加

入力棒３と出力棒５との間には、試験片１９が挟持されている。 - 特許庁

In a test result output mode, a test result SOUT1 latched by the FFs 10, 11 is output to the data input and output node 15 via a tristate buffer 19, and a test result SOUT2 latched by the FFs 13, 14 is output to the data input and output node 16 via a tristate buffer 20.例文帳に追加

テスト結果出力モード時は、ＦＦ１０、１１がラッチしたテスト結果ＳＯＵＴ１をトライステートバッファ１９を介してデータ入出力ノード１５に出力すると共に、ＦＦ１３、１４がラッチしたテスト結果ＳＯＵＴ２をトライステートバッファ２０を介してデータ入出力ノード１６に出力する。 - 特許庁

The switching circuit 13 switches a connecting destination of an input and output circuit 11 from a regular connector 12 to the test connector 14 when a test tool cable 31 of a test tool 30 is connected with the test connector 14, and makes the test tool 30 connect with the input and output circuit 11.例文帳に追加

切換回路１３は、試験コネクタ１４に試験ツール３０の試験ツールケーブル３１が接続されるとき、入出力回路の接続先を正規コネクタ１２から試験コネクタ１４に切り換えて、試験ツール３０を入出力回路１１と接続させる。 - 特許庁

A test procedure changing part 33 of the programmable remote controller 3 starts output of the test pattern B in accordance with the input file.例文帳に追加

プログラマブルリモコン３のテスト手順変更部３３は、入力したファイルに従いテストパターンＢの出力を開始する。 - 特許庁

The test latch circuit 12 holds temporarily a data pattern for test inputted through a data input/output buffer 9.例文帳に追加

テストラッチ回路１２は、データ入出力バッファ９を介して入力されたテスト用のデータパターンを一時的に保持する。 - 特許庁

By using the created input-related information or the input/output relationship information after the change, the test case or the test case after the change is created.例文帳に追加

その作成された該入力関係情報又は変更後入出力関係情報を用いて、テストケース又は変更後テストケースを作成する。 - 特許庁

To provide a test diagnostic method for a computer system for starting test diagnosis even in a status that the normal operation of an input/output port is not sufficiently secured without using any input/output port for the transfer of a test diagnostic program.例文帳に追加

試験診断プログラムの転送に入出力ポートを使わず、入出力ポートの正常動作が十分に保証されない状態でも試験診断を開始できるコンピュータシステムの試験診断方法を提供する。 - 特許庁

A tri-state input/output buffer having small drive capacity and a test control circuit for controlling the entire test are provided in parallel at an input/output terminal under normal use of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の通常使用されている入出力端子に、並列にドライブ能力の小さいトライステート入出力バッファーを設け、テスト全体を制御するテスト制御回路を設ける。 - 特許庁

An input rod 9 hangs down from an output rod 3 through a test piece 7, and centering of the input rod 9, the test piece 7 and the output rod 3 is performed automatically.例文帳に追加

入力棒９は試験片７を介して出力棒３にぶら下がった状態となり、自動的に入力棒９、試験片７、出力棒３の芯だしが行われる。 - 特許庁

The test pattern generated by the test pattern generator 10 is input in the tested LSI2 and the output pattern output from the tested LSI2 is input in a comparator 12.例文帳に追加

テストパターン発生部１０によって発生されたテストパターンは被試験ＬＳＩ２に入力され、被試験ＬＳＩ２から出力された出力パターンは比較部１２に入力される。 - 特許庁

A test output control unit outputs the input data signal received by the data input unit in synchronization with the timing signal.例文帳に追加

テスト出力制御部は、データ入力部で受けた入力データ信号をタイミング信号に同期して出力する。 - 特許庁

The master latch 104 is coupled to the data input 112 and to the scan test input 114 and includes an output.例文帳に追加

マスタラッチ１０４は、データ入力１１２および走査試験入力１１４に連結され、そして１出力を含む。 - 特許庁

An input buffer 12 outputs an output of the phase comparing circuit to a data output terminal in a test mode.例文帳に追加

入出力バッファ１２はテストモードにおいて位相比較回路１８の出力をデータ出力端子に出力する。 - 特許庁

A test probe is contacted with only a portion of representative input/output pads among a plurality of input/output pads, data inputted from the representative input output pad are expanded to data equivalent to all input output pads by a compressed data expanding circuit 631.例文帳に追加

複数の入出力パッドのうち、一部の代表入出力パッドにのみ試験用の針を当て、代表入出力パッドから入力されたデータを、圧縮データ展開回路６３１により、すべての入出力バッド分のデータに展開する。 - 特許庁

In the DC test, a test signal for the DC test is output from the tester 20 and is input into each logic circuit 31, and an output signal output from each logic circuit 31 is returned to the tester 20 by time sharing in each semiconductor integrated circuit via the input/output terminals B1-Bm and F1-Fm.例文帳に追加

ＤＣ試験時には、テスタ２０からＤＣ試験用のテスト信号を出力させて各論理回路３１に入力させ、各論理回路３１から出力する出力信号を入出力端子Ｂ１〜Ｂｍ，Ｆ１〜Ｆｍを介して半導体集積回路毎に時分割でテスタ２０に戻す。 - 特許庁

A test mode for performing data compression of test output data from a memory core part and transferring the test output data to a data input-output node 50 includes a normal mode and a fine mode, the degree of data compression of which is lower than that of the normal mode.例文帳に追加

メモリコア部からのテスト出力データをデータ圧縮した上でデータ入出力ノード５０へ伝達するテストモードは、通常モードと、通常モードよりもデータ圧縮度が低いファインモードとを含む。 - 特許庁

A test case generation part 7 creates a test case from an obtainable value of an input variable of the function of the test target and an obtainable value of the output variable of the stub function output by the stub function output value generation part 6.例文帳に追加

テストケース生成部７は、試験対象の関数の入力変数の取り得る値と、スタブ関数出力値生成部６が出力したスタブ関数の出力変数の取り得る値とからテストケースの作成を行う。 - 特許庁

A test scenario describing an arbitrary parameter is imparted to the test bench 102, the input pattern and the output expected value are automatically generated within the test bench 102, and they are stored in the memory 104 within the test bench 102.例文帳に追加

任意のパラメータを記述するテスト・シナリオをテストベンチ１０２に与えて、テストベンチ内で入力パターンおよび出力期待値を自動生成し、テストベンチ内メモリ１０４に蓄積する。 - 特許庁

After a test mode is set, an input side of a switch is switched to a pulse output line side.例文帳に追加

テストモードに設定された後、スイッチの入力側がパルス出力ライン側に切り換えられる。 - 特許庁