「testing object」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The present invention provides an improved IC tester for testing a tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This device is obtained by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The invention improves an IC tester for testing an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This is an improved IC tester for testing an object of test.例文帳に追加

本発明は被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This invention is the improved test system for testing a tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To efficiently generate a test specification without any omission for testing object oriented software.例文帳に追加

オブジェクト指向のソフトウェアをテストする漏れの無いテスト仕様を効率的に生成する。 - 特許庁

The improved IC tester for testing an object under test is provided.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The present invention is a test method for testing the characteristics of a columnar test object by loading compressive or tensile force on the test object.例文帳に追加

柱状の試験体の特性を試験するために当該試験体を圧縮・引張する載荷試験方法である。 - 特許庁

This invention makes an improvement in the IC tester for testing an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a surge tester for performing a surge test corresponding to the characteristics of a testing object.例文帳に追加

被試験対象の特性に応じたサージ試験を行うサージ試験装置を提供する。 - 特許庁

A probing device 100 for testing an object W in a vacuum state is provided.例文帳に追加

被検査体Ｗを真空状態で検査するプローブ装置１００が提供される。 - 特許庁

The present invention provides an improved IC tester for testing a testing object wherein a specific voltage is output with respect to an input voltage.例文帳に追加

本発明は、入力電圧に対して、比電圧を出力する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The second needle body is also connected to the contact head, sends a reaction signal generated by the object for testing according to the test signal, and obtains the electric characteristics of the object for testing.例文帳に追加

さらに、第２の針本体は、コンタクトヘッドにも接続し、テスト信号にしたがってテスト用物体によって生成される反応信号を送り、テスト用物体の電気的特性を得ている。 - 特許庁

This device is equipped with a control device for controlling the test of the plurality of testing object devices having the same pin arrangement, and a plurality of pin resources provided respectively corresponding to each terminal of the testing object devices.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験を制御する制御装置と、それぞれが被試験デバイスの端子に対応して設けられた複数のピンリソースとを備える。 - 特許庁

Support parts 5 are members for supporting the testing object 1 between the testing object 1 and the ground surface plate 4, and a pair of rails for supporting wheels 1b of the vehicle model.例文帳に追加

支持部５は、試験対象物１と移動地面板４との間でこの試験対象物１を支持する部材であり、車両模型の車輪１ｂを支持する一対のレールである。 - 特許庁

To potentiate high-speed testing of a tested object and to make it possible to obtain an output value of the tested object.例文帳に追加

高速に被試験対象の試験を行うことができ、被試験対象の出力値を得ることができるを目的にする。 - 特許庁

A vibration testing system 100 performs a vibration test by loading a test object 13 on a table 1, and exciting the test object 13 with a hydraulic exciter 2.例文帳に追加

振動試験装置１００は、被試験体１３をテーブル１に搭載し、油圧加振機２で加振して振動試験する。 - 特許庁

A testing item extraction part 12 extracts the candidates of testing items of object software from testing items, which a testing item management part 17 manages, based on a precondition inputted from a precondition input part 11.例文帳に追加

テスト項目抽出部１２は前提条件入力部１１から入力された前提条件に基づいて、テスト項目管理部１７が管理するテスト項目の中から、対象となるソフトウェアのテスト項目の候補を抽出する。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

A control part 141 executes external force calculation control for calculating an external force df taken into consideration with the interaction of the testing object mounted on the testing object mounting part with respect to the testing object mounting part, and a modeling error based on a damping coefficient Cd of a damper and an elastic modulus Kd of a spring.例文帳に追加

制御部１４１は、試験体載置部に載置された試験体が当該試験体載置部に対して与える相互作用、及び、ダンパーの減衰係数Ｃｄ及びバネの弾性係数Ｋｄに基づくモデル化誤差、を考慮した外力値ｄｆを算出する外力算出制御を実行する。 - 特許庁

The present invention provides improvement for a testing device for testing the examined object for outputting a digital data and a synchronization word detecting signal.例文帳に追加

本発明は、デジタルデータ及び同期ワード検出信号を出力する被試験対象を試験する試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The testing device for the automobile 1 transmits the input vibration while imparting the rotational load to the wheels of the testing object X.例文帳に追加

そして、自動車用試験装置１は、試験対象Ｘの車輪に回転負荷を付与しつつ入力振動を伝達することを特徴とする。 - 特許庁

The present invention provides an improved system for testing a tested object by an IC tester.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をＩＣテスタにより試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide an impulse voltage testing apparatus capable of properly detecting even fine abnormality of a test object.例文帳に追加

試験対象の微小異常をも適切に検出できるインパルス電圧試験装置提供する。 - 特許庁

The present invention can be applied to the profile measuring apparatus for measuring the 3-dimensional profile of the testing object.例文帳に追加

本発明は、被検物の３次元の形状を計測する形状測定装置に適用できる。 - 特許庁

To provide an arrangement and alignment method of structured light system for carrying out optical gage testing of an object (A).例文帳に追加

物体（Ａ）を光ゲージ試験するための構造化光システムの配置及び位置合わせの方法。 - 特許庁

The present invention is applicable to the profile measuring apparatus for measuring the 3-dimensional profile of the testing object.例文帳に追加

本発明は、被検物の３次元の形状を計測する形状測定装置に適用できる。 - 特許庁

A vibration testing device 100 places the object 13 to be tested in a 1 freedom degree system on a table 1 and excites the object to be tested by a shaker 2 for excitation tests.例文帳に追加

振動試験装置１００は、一自由度系の被試験体１３をテーブル１に搭載し、加振機２で加振して加振試験する。 - 特許庁

When the first testing device is connected to the system, this method includes the step of making the first testing device operatable with an interface(320) for the system, in which the first testing device can be connected to an object device to be tested.例文帳に追加

第１の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第１の試験装置が試験対象デバイスに接続可能なシステムのインタフェース(320)と共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection testing technique capable of evaluating a shape of a defect, even when a direction of the defect existing in a testing object 4 is unknown.例文帳に追加

試験体４に存在する欠陥の向きが不明である場合にも、欠陥の形状を評価することができる超音波探傷試験技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing germination ratio of seeds of an arboreous plant as an object for testing the germination ratio in a short period such as within about 7 days.例文帳に追加

木本植物種子を対象としたほぼ７日以内という短期間で発芽率を検定するための種子の発芽率検定方法を提供する。 - 特許庁

The circuit testing device 100 also has a function for executing an operation test of the object circuit 102 by the generated circuit testing mechanism 110.例文帳に追加

また、回路試験装置１００は、生成した回路試験機構１１０によって、対象回路１０２の動作試験を実行する機能も備えている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing substrate capable of detecting defective contact with a semiconductor device, without providing a circuit additionally to the semiconductor device of a testing object.例文帳に追加

試験対象の半導体装置に回路を付加することなく、当該半導体装置との接触不良を検出可能な半導体試験基板を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor chip, capable of testing correctly an object to be tested, by simple regulation, even when a kind or state of the object to be tested varies, or even when one part of a contact unit develops trouble.例文帳に追加

被試験物の状態や種類が変化し、または、コンタクトユニットの一部が故障しても、簡単な調整で、被試験物を正しく試験することができる半導体チップの試験装置を提供する。 - 特許庁

To precisely detect a load acting on a testing object.例文帳に追加

試験対象物に作用する荷重を高精度に検出することができる風洞試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide shear graphic image machine for making electronic shear graphing on testing object, especially tire or tread-reconstructed tire.例文帳に追加

試験物、特にタイヤ又はトレッド再生したタイヤにて電子せん断グラフィを行う装置に関する。 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

A data recording device 10 is installed in each site of measurement on an object to be measured such as a crash-testing dummy 2.例文帳に追加

衝突試験用ダミー２等の計測対象の各計測部位にデータ記録装置１０を設置する。 - 特許庁

The water cooled hole is formed in the testing object 12, and a notch is formed in the inside of the water cooled hole.例文帳に追加

試験体１２には水冷孔が形成されると共に、水冷孔の内部にノッチが形成される。 - 特許庁

This IC tester is acquired by improving an IC tester for testing a test object in various test patterns.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を各種試験パターンで試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This clock generator is an improved clock generator for generating a clock in a object of testing.例文帳に追加

本発明は、被試験対象にクロックを発生するクロック発生装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

A load detecting part 9 detects a load acting on the testing object 1 by the gas flow.例文帳に追加

荷重検出部９は、気体の流れによって試験対象物１に作用する荷重を検出する。 - 特許庁

To detect a critical defect of a testing object previously in a productive step.例文帳に追加

被検査物の致命的な不良の発生を、製造過程において事前に知ることができるようにすること。 - 特許庁

The present invention is the improved test system for testing the tested object for decoding the encode data.例文帳に追加

本発明は、エンコードデータをデコードする被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁