「testing object」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a forming method and forming device of an elastic-body break surface for rapidly and surely forming a desired broken-out surface suitable for analysis on an elastic body serving as a testing object, without requiring worker skills, and to provide an analysis method of the elastic body.例文帳に追加

作業者の熟練を必要とせずに、試験対象となる弾性体に対して分析に適した所望の破断面を迅速かつ確実に形成することができる、弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus capable of accurately testing the capacity of an viscoelastic object for feeding or frictionally separating a sheet for a short time and excellent in reproducibility.例文帳に追加

本発明は、シートを搬送或いは摩擦分離するための粘弾性体の性能試験を短時間で且つ正確に行うことが出来、再現性に優れた粘弾性体の試験方法及び粘弾性体の試験装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

This tester has a memory part for storing a test program for testing the tested object, and a control means for conducting control by the per-pin system and the shared system by the test program stored in the memory part, based on the per-pin system and the shared system.例文帳に追加

本装置は、被試験対象を試験するテストプログラムを記憶する記憶部と、パーピン方式、シェアード方式に基づいて、記憶部のテストプログラムにより、パーピン方式またはシェアード方式で制御を行う制御手段を有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

The test machine is provided with a moving member guiding means 8 for keeping the attitude of the moving member 7, wherein the moving member guide means 8 is inhibiting an attitude change while allowing the positional change of the moving member 7 which is provided with the engaging part 6 for connecting with the operation lever 5 of the testing object 2 and a cam plate mounting part 4.例文帳に追加

試験対象物２の操作レバー５に接続する係合部６とカム板取付部４とを備えた移動部材７の位置変化を許容して姿勢変化を禁止する移動部材ガイド手段８を設け、移動部材７の姿勢を保持する。 - 特許庁

The device for testing the semiconductor which simultaneously measures a plurality of testing object devices includes: a system control unit which performs measurement, using a plurality of already inspected devices of which the results of measurement are known beforehand, while shifting the inspected devices in a plurality to be objects of measurement; and an execution result verifying means which verifies whether the results of measurement of the same already inspected devices are identical and outputs the results of verification.例文帳に追加

複数の被試験対象デバイスを同時に測定する半導体試験装置において、測定結果が予め分かっている複数の検査済みデバイスを用いて、測定対象となる複数の検査済みデバイスをずらして測定を行うシステム制御部と、同一の検査済みデバイスの測定結果が同じであるか否かを検証し検証結果を出力する実行結果検証手段とを備える。 - 特許庁

To provide an abnormality discrimination apparatus, an image forming apparatus, and a maintenance system correctly carrying abnormality discrimination for a testing object even when status information is not acquired for a specified number of times which is necessary for extracting featured values used for computing an index value.例文帳に追加

指標値を算出するために用いる特徴量を抽出するために必要な所定回数の状態情報が取得されていなくても、被検対象の異常判定を正しく行うことのできる異常判定装置、画像形成装置および保守システムを提供する。 - 特許庁

The reproduction object testing device 10 includes a measured motor 15 which is the motor corresponding to a motor 4 of the electric vehicle to be tested, and a synchronization control unit for controlling a rotation of the measured motor 15 according to rotational position information from a reference position of the motor 4.例文帳に追加

再現対象試験装置１０は試験対象電動車両のモータ４に対応するモータを被測定モータ１５とし、モータ４の基準位置からの回転位置情報に応じて被測定モータ１５を回転制御する同期制御部を有することを特徴とする。 - 特許庁

In this impact testing device, a honeycomb block test piece 11 is loaded on an installation stand 10 having a smooth surface with cell opening parts 11a upward and downward, and an impact absorbing characteristic is measured by dropping a weight object W having a smooth bottom face from the upper side of the honeycomb block test piece 11.例文帳に追加

衝撃試験装置は、表面が平滑な設置台１０上に、セルの開口部１１ａを上下にしてハニカムブロック供試体１１を載置し、ハニカムブロック供試体１１の上方から平滑な底面を有する重量物Ｗを落下させて衝撃吸収特性を測定するものである。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

This system used for the stress corrosion cracking test for tubes in nuclear power generation is provided with a tube material 310 of a testing object and a heater 340, a tube inside is formed into a sealed space 315 sealed with end plugs 311, 312, and stores a strong alkaline solution 316.例文帳に追加

原子力発電における配管類の応力腐食割れ評価試験に用いるシステムであって、試験対称とする管材３１０及び加熱装置３４０を具え、管材内部は端栓３１１、３１２により密封された封止空間３１５とし、強アルカリ応溶液３１６を収容する。 - 特許庁

Liquid supplied to a fuel injection valve for inspection is supplied to the metering pipe 41 having controlled inner diameter from a testing liquid supply flow passage 53, and is pressurized by gas (injected from a gas injection opening 21p) of same pressure as pressure actually used in an object to be inspected 1.例文帳に追加

検査用燃料噴射弁に供給される液は、管理された内径を有する計量管４１に試験液供給流路５３から供給され、検査対象物１で実際に使用される圧力と同圧のガス（ガス注入口２１ｐから注入）で加圧されている。 - 特許庁

To provide a simple and safe printing test method of a gravure ink for evaluating the quantity of a gravure ink without causing whitening even under high humidity condition in a manufacturing site of the gravure ink which is a dangerous object manufacturing factory and a printing testing machine used for the same.例文帳に追加

本発明は、危険物製造所であるグラビアインキの製造現場において、高湿度下においてもブラッシングを起こすことなく、グラビアインキの品質を評価するための簡便かつ安全な印刷試験方法と、その方法に用いる印刷試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁

The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.例文帳に追加

その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁

To provide a method capable of quantitatively measuring concentration of an object to be analyzed in a sample which is difficult to be quantified by using conventional methods, and a kit and a device capable of being used for the method, and to provide a method which controls quality by testing the performances of the kit and the device.例文帳に追加

従来定量化が困難であった試料中の被分析物濃度を定量的に測定する方法及び前記方法に使用し得るキット及び装置を提供し、また、前記キット及び装置の性能を検査することにより品質を管理する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The control/electric source 4 for generating high voltage, a capacitor 15 to be charged by the high voltage, a discharge chip 6 for impressing charges accumulated in the capacitor 15 on the testing object, a switch 16 for connection with discharge chip 6 while switching capacitor 15 and grand level.例文帳に追加

高電圧を発生するコントロール／電源４と、この高電圧によって充電するコンデンサー１５と、このコンデンサー１５に蓄積された電荷を被験体７に印加する放電チップ７と、放電チップ６をコンデンサー１６またはグランドレベルに切り換え接続するスイッチ１６を設けている。 - 特許庁

Then, a holding step is carried out to continue the heating by the heater 16 at a heating value allowing the testing object 12 to be temperature-lowered by the water cooling, for a prescribed holding time, and a cooling step is executed thereafter to cool the temperature to a lower limit temperature by stopping the heating by the heater 16.例文帳に追加

次に、試験体１２が水冷により温度低下するのを許容する熱量での加熱装置１６による加熱を所定の保持時間だけ継続する保持工程を行なった後、加熱装置１６による加熱を停止して下限温度まで冷却する冷却工程を行なう。 - 特許庁

After a single test process system 130 tests an object process to be tested 100 and its result is stored in a trace log file 125, the program to be tested 100 calls an initializing function 111 for testing and common memory information is read in from a common memory information file 120.例文帳に追加

被テスト対象プロセス１００のテストを単体テスト処理システム１３０によりテストし、その結果をトレースログファイル１２５に格納後、被テストプログラム１００よりテスト用初期化関数１１１がコールされ、共有メモリ情報を共有メモリ情報ファイル１２０より読み込む。 - 特許庁

When a pulse rising time of an inverter pulse testing power source used when inspecting or diagnosing a motor is different from a rising time of a surge voltage observed in a motor terminal of an inspection diagnosis object at an inverter driving time, the magnitude ΔV of the surge voltage of the inverter pulse testing power source is heightened or lowered as much as a value necessary for applying a peak voltage Vm generated at the inverter driving time between motor winding turns.例文帳に追加

モータを検査又は診断する際に用いるインバータパルス試験電源のパルス立ち上がり時間が、インバータ駆動時に検査診断対象のモータ端子で観測されるサージ電圧の立ち上がり時間と異なる際には、モータ巻線ターン間にインバータ駆動時に発生するピーク電圧Ｖｍを印加するのに必要な値だけ、前記インバータパルス試験電源のサージ電圧の大きさΔＶを高くあるいは低くすることを特徴とする。 - 特許庁

This IEEE1394 serial bus tester that checks the operation of various communication facilities based on a 1394 communication protocol in equipment connected to the IEEE1394 serial bus is made to be switched between a service mode for preparing and testing a test command and a test sequence for test object equipment and a test mode for performing tests for the test object equipment according to the generated test command and test sequence.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４シリアルバスに接続される機器の１３９４通信プロトコルに基づく各種通信機能の動作をチェックするＩＥＥＥ１３９４シリアルバステスタであって、検査対象機器に対する検査コマンドおよび検査シーケンスの作成とテストを行う保守モードと、作成された検査コマンドおよび検査シーケンスに従って検査対象機器に対する検査を実行する検査モードに切り換えられるようにしたもの。 - 特許庁

The monitoring apparatus 101 includes: a receiving traffic counter 51 for counting testing frames received from the upstream apparatus by an object apparatus, which is the house side apparatus 202 or station side apparatus 201; and a reporting frame transmission section 59 for, when the object apparatus receives a reporting frame from the upstream apparatus, transmitting the reporting frame together with the count value of the receiving traffic counter 51 to the downstream apparatus.例文帳に追加

モニタ装置１０１は、宅側装置２０２または局側装置２０１である対象装置が前段の装置から受信した試験用フレームの数をカウントするための受信トラフィックカウンタ５１と、対象装置が前段の装置から報告用フレームを受信した場合には、受信トラフィックカウンタ５１のカウント値を報告用フレームに含めて後段の装置へ送信するための報告用フレーム送信部５９とを備える。 - 特許庁

Further, the invention is a method for treating a test object including neoplastic cells refractory to the chemotherapeutic agent and the method comprises step (a) wherein an effective amount of the reovirus is administered to the testing body under the conditions causing the infection of the neoplastic cells, and step (b) wherein an effective amount of the chemotherapeutic reagent is administered to the test object.例文帳に追加

増殖性障害を有する被験体を処置する方法であって、上記被験体が化学療法薬剤に対して不応性である新生物細胞を含み、上記方法が：（ａ）レオウイルスによる新生物細胞の感染が生じる条件下で、有効量の上記レオウイルスを上記被験体に投与する工程；および、（ｂ）有効量の化学療法薬剤を上記被験体に投与する工程、を含む、方法。 - 特許庁

This method for testing the cytotoxicity comprises evaluating toxicity of a test object based on the toxicity to an established cell line derived from a sturgeon, wherein a STIP-1 cell line (FERM P-18909) or a STIP-3 cell line (FERM P-18910) is exemplified as the suitable established cell line derived from the sturgeon.例文帳に追加

本発明は、チョウザメ由来の株化細胞に対する毒性に基づいて被検物質の毒性評価を行う細胞毒性試験方法であり、好適なチョウザメ由来の株化細胞としては、ＳＴＩＰ−１細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９０９）とＳＴＩＰ−３細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９１０）が挙げられる。 - 特許庁

This device includes the first electrode 12 and the second electrode 14 installed separately on an insulator which is an object for testing the high conductivity state or the high dielectric constant state, and a high voltage power source for supplying the power to the first electrode and the second electrode with each different potential.例文帳に追加

この装置は、高導電性の状態又は高誘電率の状態を試験する対象の絶縁体上に、離れて設置される第１の電極１２及び第２の電極１４と、第１の電極及び第２の電極に異なる電位で電力供給する高電圧電源とを含んでいる。 - 特許庁

The testing device 101 includes a stage 120 on which the force sensor 113, the object to be tested, can be placed, a driving part 130 capable of moving the force sensor 113 via the stage 120 to 6 directions of each axis rotation of X, Y, Z axes, and a loading part 140 capable of loading the force sensor 113 placed on the stage 120.例文帳に追加

試験装置１０１は、被試験体である力センサ１１３を載置可能なステージ１２０と、ステージ１２０を介して力センサ１１３をＸ・Ｙ・Ｚ軸の各軸回転の６方向に移動可能な駆動部１３０と、ステージ１２０上に載置された力センサ１１３に加重可能な加重部１４０と、を備えている。 - 特許庁

The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is also provided with: an input device 330 for designating a reference area of the cross section image of a reference body 200 and the concerned area of the object to be tested in the image; and a CPU 300 for calculating the ratio of the MRI signal intensity of the concerned area to the MRI signal intensity of the reference area.例文帳に追加

又、核磁気共鳴検査装置１０は画像の中で、基準体２００の断面画像の基準領域と、前記検査対象の関心領域を指定する入力装置３３０と、基準領域のＭＲＩ信号強度に対する関心領域のＭＲＩ信号強度の比を演算するＣＰＵ３００を備える。 - 特許庁

The drop testing apparatus comprises a clamp mechanism for locking a rope when the steel ball is pulled up to a specific height by a rope, and a locking mechanism for pushing the rope between the rollers to the roller side for preventing the second collision when a clamp mechanism cancels locking and the steel ball drops on the object for rebounding.例文帳に追加

鋼球をロープで所定高さに引き上げたときに当該ロープをロックするクランプ機構と、クランプ機構がロックを解除して鋼球が被試験体上に落下して跳ね返ったときにローラの間にあるロープを当該ローラ側に押し込んで引き上げ、２度衝突を防止するロック機構とを備えた落下試験装置である。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by the staining evaluation device of the present invention having the optical waveguide substrate 1 installed to contact closely with the testing object 3, a light source for making the light 2 get incident into the one end side of the optical waveguide substrate 1, and a detector for detecting the light 2 emitted from the other end side of the optical waveguide substrate 1.例文帳に追加

また、試験体３を密着して設置する光導波路基板１と、光導波路基板１の一端側に光２を入射する光源と、光導波路基板１の他端側から出射される光２を検出する検出器と、を有する汚染性評価装置により上記課題を解決する。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁

In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.例文帳に追加

半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.例文帳に追加

本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a plurality of contactors 11 contacting the semiconductor device 20 of an measuring object, heating elements 31 thermally connected to each of the plurality of contactors 11, and a driving part 8 for giving each of the contactors the difference of height fitting to the irregularity of the surface of the semiconductor device 20 by vertically driving each of the plurality of contactors 11.例文帳に追加

測定対象の半導体装置２０に当接する複数のコンタクタ（当接体）１１と、複数のコンタクタ１１の各々に熱的に接続された発熱体３１と、複数のコンタクタ１１の各々を上下に駆動することにより、コンタクタ１１の各々に半導体装置２０の表面の凹凸に合った高低差を付与する駆動部８とを有する半導体試験装置１による。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

A calculation process circuit 34 generates a plurality of measuring images from the output of the image taking element 13 and measures the profile of the testing object by using a reference image obtained from the pixels in the position crossing the principal ray of the objective lens 11, among the pixels composing the imaging area of the imaging element 13 corresponding to each of a plurality of MLs arranged on the MLA 12, as the correction information.例文帳に追加

演算処理回路３４は、撮像素子１３の出力から複数の測定画像を生成し、MLA１２に配列された複数のＭＬの各々に対応する撮像素子１３の撮像領域を構成する画素のうち、対物レンズ１１の主光線と交わる位置にある画素から得られる基準画像を補正情報として用いて、被検物の形状を測定する。 - 特許庁