「testing object」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The present invention implements improvements on the tester simulation apparatus performing the simulation by a DUT model simulating the operation of an object under test and a tester model simulating the operation of a tester in testing the object under test by the tester.例文帳に追加

本発明は、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a device and for testing flexibility capable of readily and quickly changing the width of the back and forth movement of a part of an object to be tested, and to provide a method for the device.例文帳に追加

容易かつ迅速に被試験物の一部の往復移動の幅を変化させることが可能な耐屈曲性試験装置および耐屈曲性試験方法を提供する。 - 特許庁

A PDP driver module 100, which is a testing object is loaded with an LSI 110 for driving the PDP and a circuit wiring 111, is connected to its terminal.例文帳に追加

被検査対象であるＰＤＰドライバモジュール１００は、ＰＤＰ駆動用のＬＳＩ１１０を搭載しており、回路配線１１１は、その端子に接続されている。 - 特許庁

Normally, discrimination is carried out for abnormality of the testing object by a first abnormality discrimination means predicting the abnormality on the basis of data of change with time in the status information.例文帳に追加

通常は、状態情報の経時変化データに基づいて異常を予測する第１異常判定手段で被検対象の異常について判定を行う。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.例文帳に追加

近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An MLA 12 is placed in a pupil plane or an imaging plane of the objective lens 11, and an imaging element 13 is placed behind the MLA 12 and images the testing object formed by the objective lens 11.例文帳に追加

MLA１２は、対物レンズ１１の瞳面又は結像面に配置され、撮像素子１３は、MLA１２の背後に設置され、対物レンズ１１による被検物像を撮像する。 - 特許庁

A plurality of the first measurement modules receive the trigger signal through the trigger bus, and the IC tester for testing a to-be-tested object is modified.例文帳に追加

本発明は、複数の第１計測モジュールがトリガバスを介してトリガ信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a testing device and method in which termination processing can be carried out efficiently in safety upon occurrence of abnormality in a test object, i.e. a power converter.例文帳に追加

試験対象である電力変換器の異常発生時に、効率的かつ安全な異常検出時終了処理が可能な試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.例文帳に追加

クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁

An X-ray microscope includes a wide range X-ray source, and a means for arranging a testing object 3 and a recording means, and an X-ray capillary lens is arranged therebetween.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡は、広域Ｘ線源と、テスト物体３および記録手段を配置する手段とを備え、これらの間にＸ線キャピラリレンズが配置される。 - 特許庁

A test emulation part 140 operates a device test program 112 to be an object to be debugged under the operating system of a general-purpose computer, and a semiconductor testing apparatus is constituted in a pseudo manner.例文帳に追加

テスタエミュレート部１４０は、汎用コンピュータのオペレーティングシステムの下でデバッグ対象となるデバイステストプログラム１１２を動作させ、疑似的に半導体試験装置を構成する。 - 特許庁

This surge tester 100 is for performing a surge test on a testing object correspondingly to an input signal input from an impressed waveform generator 11 generating an impressed waveform.例文帳に追加

サージ試験装置１００は、印加波形を発生する印加波形発生器１１から入力される入力信号に応じて被試験対象のサージ試験を行う。 - 特許庁

To provide a method of a truncated life test capable of simply and quickly trial calculating the life level of the testing object even an unskilled person without generation of discrepancy of interpretation from the undamaged time while a part of the testing object are still subjected to the test without being damaged with high reliability in the truncated life test.例文帳に追加

打切り試験において、一部の試験対象品が破損することなく試験を継続している未破損時間から試験対象品のロットの寿命水準を、試験データの解釈の違いを引き起こすことなく、簡単かつ迅速に試算することができ、かつ信頼性の高いものとでき、熟練者でなくても試算できる方法を提供する。 - 特許庁

To precisely and rapidly repeat a drop test for a number of test piece on an object to be tested or a number of the objects by the same shock loading by preventing a steel ball from hitting the objects two times regarding a drop testing apparatus for testing by dropping the steel ball from a specific height onto the object.例文帳に追加

本発明は、鋼球を所定の高さから被試験体上に落下させて試験を行う落下試験装置に関し、被試験体への鋼球の２度当りを防止し、被試験体上の多数の試験物あるいは多数の被試験体に同じ衝撃加重による落下試験を精度良くかつ迅速に繰り返し行うことを目的とする。 - 特許庁

To effectively prevent damage of each part, even if a testing object is short-circuited and so on, applying a testing device to a test of a semiconductor element which operates by a high voltage such as a plasma display panel (PDP) driving IC or the like for example.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えばＰＤＰ（プラズマディスプレー）パネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、試験対象が短絡した場合等にあっても、各部の損傷を有効に回避することができるようにする。 - 特許庁

A semiconductor testing system 1 includes: a test board 2 on which a semiconductor device 4 of an object to be tested is mounted; and a semiconductor testing device 3 which outputs test signals of the semiconductor device 4 to the test board 2.例文帳に追加

本発明の一形態に係る半導体試験システム１は、試験対象の半導体装置４が搭載される試験ボード２と、試験ボード２に半導体装置４の試験信号を出力する半導体試験装置３と、を備える半導体試験システムである。 - 特許庁

To provide a testing and recording device for dies and a testing and recording method for dies which can surely distinguish and view minute irregularity on a test object such as dust and blemish on a non-plane molding face of a die from a specific reflection area.例文帳に追加

金型の非平面状成形面上にあるゴミや傷等の微小凹凸検査対象を、非平面状成形面上の特定反射域と区別して確実に視認できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

To quickly and flexibly narrow down any problematic operation and an object being the factor of the problematic operation without depending on the source code of an object mounted on a system and the hardware and OS of the system at the time of tracking an object being the factor of any problematic operation at the time of testing this system.例文帳に追加

システムの試験時に、問題となる動作を起こしたオブジェクトを追跡する場合において、システムに実装されたオブジェクトのソースコードおよびシステムのハード、ＯＳ等に依存せずに、問題となる動作および問題となる動作の原因となるオブジェクトの迅速かつ柔軟な絞り込みを可能とすること。 - 特許庁

The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.例文帳に追加

ＤＡＣ１６から所望の電圧をオペアンプ１８の正入力端に印加することで、抵抗２４に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの１８が動作して、試験対象トランジスタ１４に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁

A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.例文帳に追加

テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁

To provide an information-processing device which verifies and evaluates the operation of software which is installed in equipment, both under an environment of an evaluation-object machine and under an environment of an emulator, and also to provide an image-processing device, a method for testing software operation, a program for testing software operation, and a recording medium to which the program is recorded.例文帳に追加

評価対象機とエミュレータの両方の環境において、機器に搭載されるソフトウェアの動作を検証・評価することが可能な情報処理装置、画像処理装置、ソフトウェア動作テスト方法、ソフトウェア動作テストプログラム、及びそのプログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test method capable of reproducing an approximately same phenomenon as frost formation generated in a natural world, and to provide an environmental testing device capable of forming frost on a test object.例文帳に追加

自然界で生じる着霜と略同一の現象を再現できる環境試験方法、及び被試験物に着霜させることができる環境試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The testing device 1 comprises: a travel face, on which the tyre 10 of a test object can travel, on an outer peripheral surface 2o thereof; and a cylindrical drum 2 supported in a manner allowing drive and control of rotation.例文帳に追加

テスト対象のタイヤ１０が走行しうる走行面を外周面２ｏに有し、かつ回転駆動及び制動が可能に支持された、円筒形状のドラム２を具える。 - 特許庁

To provide a heat cycle testing device and a heat cycle test method capable of giving a temperature gradient to a sample, and fluctuating periodically the temperature of an evaluation object portion of the sample.例文帳に追加

試料に温度勾配を持たせられ、しかも試料の評価対象部位の温度を周期的に変動可能な熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法を提供する。 - 特許庁

A test apparatus to be an object of calibration includes a socket board 32 with a plurality of connector pins Ps to which a DUT is fixed directly or indirectly during a period of testing.例文帳に追加

キャリブレーションの対称となる試験装置は、試験時においてＤＵＴが直接的または間接的に装着される複数のコネクタピンＰｓを有するソケットボード３２を備える。 - 特許庁

To provide a temperature-testing device, capable of quickly performing an operation confirming test at the accurate temperature by directly setting a part of an object to be tested to the predetermined temperature.例文帳に追加

試験対象の部品を直接、所定の温度にすることができ、正確な温度での動作確認試験をしかも速く行うことが可能な温度試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a vibration testing system for facilitating control of response amplitude of the maximum displacement amount and the maximum acceleration of a test object to a target value, and a method for controlling the same.例文帳に追加

被試験体の最大変位量や最大加速度の応答振幅を目標値に制御することを容易にすることができる振動試験装置及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

An integrated circuit, where a wiring electrode 103 is formed on a circuit substrate 101 via an insulation film 102 and an insulation protection film 104 and the like are formed on it, is to be a testing object.例文帳に追加

回路基板１０１上に絶縁膜１０２を介して配線電極１０３が形成され、その上に絶縁保護膜１０４などが形成された集積回路が試験対象となる。 - 特許庁

A test case may use mock objects to assist the testing, particularly if using a real object is difficult, time-consuming, or hard to generate. 例文帳に追加

特に、実際のオブジェクトを使用することが難しかったり、時間がかかったり、生成が困難であったりする場合、テストケースでは、テストに役立つモックオブジェクトが使用されることがあります。 - NetBeans

To provide fire-resistance test object structure and a fire-resistance testing method capable of executing a "buckling test", in a fire resistance qualification test for a steel beam provided along a fire-resistant wall.例文帳に追加

耐火壁に沿って設けられる鉄骨梁の耐火認定試験において、「座屈試験」を実施できるような耐火試験体構造および耐火試験方法を提供することにある。 - 特許庁

This testing device 200 which is adapted to test the concentration of an object to be analyzed in a solution has a picking-up area 210 having a first volume for housing the solution.例文帳に追加

液体中の分析対象物の濃度を試験するように適合された試験装置２００は、液体を収容するための第１の容積を有するピックアップ区域２１０を有する。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.例文帳に追加

ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁

To provide a friction test device capable of correctly analyzing μ-S characteristic between an object to be tested and a road surface having various conditions, and particularly accurately analyzing the relationship between the object to be tested having a high temperature dependence and the road surface on a testing machine.例文帳に追加

被試験体と様々な条件の路面との間のμーＳ特性を正確に解析し、特に温度依存性の高い被試験体と路面との関係を精度良く、試験機上にて解析することができる摩擦試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool.例文帳に追加

被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a driving testing apparatus capable of accurately conforming phase synchronization of a rotary driving unit with that of an object driving apparatus to surely collide, with a high success rate, a projection object with specified one out of a plurality of objects rotated at high speed.例文帳に追加

回転駆動装置と物体打込機器の位相同期を正確に合わせることができ、これにより高速回転する複数の対象物のうち特定の１つに、投射物を高い成功率で確実に衝突させることができる打込み試験装置を提供する。 - 特許庁

The apparatus for testing the model structure, for example, measures a variation in pressure occurring when the model mobile object 1 passes through the model structure 2 and also measures a stream of air occurring at the aperture 2e when the model mobile object 1 passes through the model structure 2.例文帳に追加

試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁

A data recording section 11, in advance, allows each advance level obtained from the level detection section 7 by switching and emitting a plurality of high-frequency signals to the object to be measured for testing to correspond to each kind of object to be measured and high-frequency signal for storing.例文帳に追加

データ記録部１１は、事前に、テスト用被測定物に対して複数の高周波信号を切り換え発射してそのレベル検出部７から得られた個々の事前検出レベルを、被測定物の種類とその高周波信号毎に対応させて格納する。 - 特許庁

To provide a balancing machine capable of making a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily.例文帳に追加

試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードの不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁

To provide a defect tolerance evaluation method for a structure within a reactor accurately carrying out defect tolerance evaluation by using material testing data obtained from a sample taken from an evaluation object portion itself.例文帳に追加

評価対象部位そのものから採取したサンプルから得られた材料試験データを用いて精度よく欠陥裕度評価を行う炉内構造物の欠陥裕度評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system devised so as to be capable of efficiently pinpointing a part where a fault occurs in a system being a test object including a plurality of components, on the occasion of the occurrence of the fault.例文帳に追加

複数の構成部分を含む試験対象の機器に故障が発生したときに、効率よく故障が発生した部位を特定することができるように工夫された試験装置を提供する。 - 特許庁

To make a person superficial in knowledge and experience as to each degree of vibration mode of a testing object correct easily unbalance in the each degree of vibration mode and carry out a balance test easily.例文帳に追加

試験体の各次数の振動モードに関する知識や経験が浅い者でも、各次数の振動モードにおける不釣合いの修正を容易に行うことができて、釣合い試験を容易に行う。 - 特許庁