がんけんがいはんの英語

出願が1964年法の趣旨の範囲内で条約出願として行われた場合において，ただし，当該趣旨の範囲内で条約出願の要件が充足されるときは，当該出願は，有効な優先権主張が第26条に基づいて行われたのと同様の優先権を享受する。例文帳に追加

where the application was made as a Convention application within the meaning of the Act of 1964, then, provided the requirements for Convention applications within such meaning are met, the application shall enjoy the same right of priority as if a valid claim to priority had been made under section 26発音を聞く  - 特許庁

意匠出願の公告がなされた後は，(2)に従うことを条件として，何人も当該意匠若しくは当該意匠出願が意匠権の何らかの要件を遵守していない旨の所見を，意匠権付与の手続において，ハンガリー特許庁に提出することができる。例文帳に追加

Subject to paragraph (2), after publication of the design application any person may file an observation with the Hungarian Patent Office in the procedure for the grant of the design right to the effect that the design or the application therefore does not comply with any of the requirements for design right.発音を聞く  - 特許庁

種々の撮影モードで被検眼眼底を撮影しても、被検眼の前眼部（水晶体、角膜）での有害反射光が少なく、良好な眼底像を取得することが可能な眼科撮影装置を提供する。例文帳に追加

To provide an ophthalmologic photographing apparatus capable of reducing harmful reflection light at the anterior eye part (lens, cornea) of an eye to be examined even when the fundus of the eye to be examined is photographed in various photographing modes and acquiring excellent fundus images. - 特許庁

撮影系は、光を検出して画像信号を出力する撮像素子を有し、眼瞼の裏面による赤外光の反射光を撮像素子に導き、かつ被検眼による可視光の反射光を撮像素子に導く。例文帳に追加

A photography system includes an imaging device for detecting light and outputting an image signal, guides the reflected light of the infrared light from the rear surface of the eyelid to the imaging device, and guides the reflected light of the visible light from the examined eye to the imaging device. - 特許庁

Ｈｇを含有する化合物半導体層中の不純物を低減し、検出効率が高い赤外線検出器の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing an infrared with high detection efficiency by reducing impurities in a compound semiconductor layer containing Hg. - 特許庁

本願は概して光計測に関し、より詳細には、フォトニックナノジェットによる半導体ウエハの検査領域の検査に関する。例文帳に追加

To achieve optical instrumentation, in detail, the inspection of the inspection area of a semiconductor wafer by photonic nanojet. - 特許庁

外乱による影響を排除してより精度良く被験者の開眼度を検出可能な開眼度判定装置及び開眼度判定方法を提供する。例文帳に追加

To provide an eye opening degree determining device and an eye opening degree determining method, capable of accurately detecting the eye opening degree of a subject by removing the influence of disturbance. - 特許庁

意匠出願が第41条(1)に定める要件を満たしている場合は，ハンガリー特許庁は，当該意匠出願についての実体審査を実施する。例文帳に追加

If a design application satisfies the requirements laid down in Article 41(1), the Hungarian Patent Office shall carry out a substantive examination of the design application.発音を聞く  - 特許庁