ブラッグ反射の英語

分布ブラッグ反射型半導体レーザおよびその製造方法例文帳に追加

DISTRIBUTION BRAGG REFLECTION TYPE SEMICONDUCTOR LASER AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR - 特許庁

半導体レーザ・ダイオードであって、ｎ型分散ブラッグ反射器と、ｐ型分散ブラッグ反射器と、前記ｎ型分散ブラッグ反射器とｐ型分散ブラッグ反射器との間に配置される活性層とを含む共振器と、前記共振器の側面の外周囲に備わる凹凸パターンとを有する。例文帳に追加

The semiconductor laser diode comprises a resonator having an n-type distributed Bragg reflector, a p-type distributed Bragg reflector and an active layer disposed between the n-type distributed Bragg reflector and the p-type distributed Bragg reflector; and a concavo-convex pattern provided on an outer circumference of a side of the resonator. - 特許庁

光ファイバブラッグ回折格子反射光の波長測定方法例文帳に追加

METHOD FOR MEASURING WAVELENGTH OF LIGHT REFLECTED BY OPTICAL FIBER BRAGG'S DIFFRACTION GRATING - 特許庁

伸縮値はブラッグ反射光の波長変化として実測できる。例文帳に追加

A expansion/contraction value can be actually measured as a change in the wavelength of a Bragg reflection light. - 特許庁

ｎ側反射防止層２及びｐ側ブラッグ反射層４は、コンタクト層の役割も兼ねている。例文帳に追加

The n-side reflection prevention layer 2 and the p-side Bragg reflection layer 4 also work as a contact layer. - 特許庁

本発明に係る発光素子は、第１ブラッグ反射型ミラー層１０３と、前記第１ブラッグ反射型ミラー層より光射出面側に形成された第２ブラッグ反射型ミラー層１０８と、前記第１ブラッグ反射型ミラー層及び前記第２ブラッグ反射型ミラー層の間に位置する活性層１０５と、を具備する発光素子であって、前記発光素子の設計波長をλＰＬとし、前記第１ブラッグ反射型ミラー層及び前記第２ブラッグ反射型ミラー層の中心波長をλcntとした場合に下記式を満たすことを特徴とする。例文帳に追加

This light emitting element includes a first Bragg reflection type mirror layer 103, a second Bragg reflection type mirror layer 108 formed on the side of optical projection face from the first Bragg reflection type mirror layer, and an active layer 105 located between the first Bragg reflection type mirror layer and the second Bragg reflection type mirror layer. - 特許庁

ＦＢＧ１１ｄによる反射光のブラッグ波長、あるいは、デフォルトのブラッグ波長に対する反射光のブラッグ波長の変化（乃至変化量）を、光受発光ユニット１３によって検出する。例文帳に追加

A change (or the changed amount) of the Bragg wavelength of the reflected light by the FBG 11d or a change (or the changed mount) of the Bragg wavelength of the reflected wave relative to a default Bragg wavelength is detected by a light receiving/emitting unit 13. - 特許庁

ブラッグ格子間隔が異なる複数のブラッグ格子センサを有する光ファイバに光を入射し、前記各ブラッグ格子センサにより反射された反射光の波長ごとのスペクトルを検出し、この検出された各波長のスペクトルと基準レベルとを比較することにより、前記ブラッグ格子センサの故障を検査する。例文帳に追加

The fault of the Bragg grid sensor is inspected, by comparing the spectrum with the reference level of each of this detected wavelength. - 特許庁