指定測定範囲の英語

デジタルカメラにおいてＣＰＵ１は、予め実空間上における撮影対象範囲の大きさが任意に指定されている状態において、カメラ位置から撮影対象までの距離を測定し、指定された撮影対象範囲の大きさと測定距離に基づいて当該撮影対象範囲がフレーム内において所定の大きさとなるようなズーム倍率を算出して光学ズーム機能７１を調整する。例文帳に追加

In a digital camera, a CPU 1 measures the distance from the camera position to the photographing object in the state that the size of the photographing object range on the real space is optionally designated in advance, and calculates the zoom magnification so that the photographing object range becomes the designated size based on the size of the designated photographing object range and the measured distance, thereby adjusting an optical zoom function 71. - 特許庁

スリットサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、原子動径分布関数測定用、及び、異常散乱Ｘ線回折用の、Ｘ線回折装置の測定精度を高めること。例文帳に追加

To enhance measurement accuracy of an X-ray diffractometer for measuring an atomic radial distribution function and anomalous diffraction scattering X-rays, by setting the size of a slit within the range specified by this invention. - 特許庁

測定制御装置１１は指定された元素の特性Ｘ線種に従って記憶装置１４から１次線の波長データを読出し、回折次数に基づいて実際の分光波長位置と測定波長範囲を求める。例文帳に追加

A measurement control device 11 reads the wavelength data of the first-order ray from a storage device 14, according to the characteristic X-ray type of a specified element to obtain the actual spectroscopic wavelength position and the measurement wavelength range, based on the diffraction order. - 特許庁

この指定範囲に含まれるＣＡＤデータに基づき、どのような条件で測定を行うか、及び測定結果をどのような条件で解析するかを決定する。例文帳に追加

Based on the CAD data contained in the specified range, it is decided under what conditions measurement is to be made, and the measured result is analyzed. - 特許庁

レーザ光を照射する指定方向及びスキャンニング範囲を容易に設定出来、かつ受光後の演算用ＣＰＵの負荷が小さく測定精度の高いレーザ光利用距離・移動速度・移動方向測定装置を提供する。例文帳に追加

To easily set a specified direction of irradiation with laser light and its scanning range, and to make an arithmetic CPU load small, and high in the measurement precision after photodetection. - 特許庁

半導体を製造する際、ＬＳＩ回路などの微細パターンのうち、自動寸法測定装置を用いて配線パターンに代表される広範囲におよぶ長く連続したパターンの寸法を測定する際、測定者が指定する特定パターンの寸法について個人差なく位置を決定し測定する。例文帳に追加

To determine and measure a position without an individual difference relating to a dimension of a specific pattern designated by a person in measuring a dimension of a long continuous pattern over a wide range such as a wiring pattern by an automatic dimension measuring device with respect to a fine pattern such as a LSI circuit in manufacturing a semiconductor. - 特許庁

プローブに対向して配置された試料の表面電位を測定する表面電位測定装置のプローブ固定治具に関し、プローブと試料との距離を指定の測定範囲内で確実に位置決めできる表面電位測定装置のプローブ固定治具を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a probe fixing jig for a surface potential measuring apparatus which can surely position a distance between a probe and a sample within a specified measurement range, concerning the probe fixing jig of surface potential measuring apparatus for measuring a surface potential of the sample arranged so as to face the probe. - 特許庁

マスク領域制限手段３５は、操作部５０の操作により任意の幅と角度を指定させ、基準マスク設定手段３２により評価対象のデータ信号に対するコンプライアンス測定のために設定された基準マスクＭｒの有効範囲を、指定された幅と角度で決まる範囲に制限するとともに、制限された有効範囲Ｅｓを表示器４０に示す。例文帳に追加

Mask area limiting means 35 designates optional width and angle by the operation of an operating portion 50; limits an effective range of a reference mask Mr set for measuring compliance to a data signal of an evaluation target by reference mask setting means 32, within a range decided by the designated width and angle; and indicates the limited effective range Es in a display 40. - 特許庁