そして、制御部７３が、前記搬入状況を所定の搬入状況に保つために設定された基準値と、取得した前記搬入状況とを比較して、得られた比較結果に応じて搬送車１の運行を制御する。例文帳に追加

The controlling part 73 compares a reference value set to maintain the transfer status in a given transfer status and the acquired transfer status, and controls the operation of the transporter 1 according to the acquired comparison result. - 特許庁

位置ずれ量が基準値以下の場合は半導体ウエハをカセット室１０５内のカセットに搬入する（矢印Ｄ）。例文帳に追加

When the misalignment volume of the semiconductor wafer is equal to or smaller than a reference value, the semiconductor wafer is loaded into the cassette chamber 105 (arrow D). - 特許庁

圧着台１４上に搬入された基板の部品実装部の基準マークを撮像した画像データから偏差関連値を求める。例文帳に追加

The deviation associated value is determined from image data obtained by imaging the reference mark at the component mounting part of the substrate carried onto a thermocompression table 14. - 特許庁

その後、上記ウエーハ基準面（９）にウエーハ（１）の外周縁（８）が当る位置までウエーハ（１）を搬入すれば、ウエーハ（１）はチャック（２）を基準として正確にセンタリングされる。例文帳に追加

When the wafer (1) is carried in to a position where the outer peripheral edge (8) of the wafer (1) abuts on the wafer reference face (9), the wafer (1) is correctly centered with the chuck (2) as the reference. - 特許庁

基準ローラ２の紙葉類搬入側と搬出側とには、基準ローラ２に対して所定押圧力で軸方向へ線接触するガイド４１，４２を設置する。例文帳に追加

Guides 41 and 42 in line contact with the reference rollers 2 axially with a predetermined pressing force are installed on the paper sheet carry-in side and carry-out side of the reference rollers. - 特許庁

プリント配線基板の搬送基準が手前側搬送基準でも奥側搬送基準であっても搬入用コンベアを両用として使用でき、且つ、従来の装置と同様に装置をコンパクトに形成することができるクリームはんだ印刷装置を提供する。例文帳に追加

To provide a cream solder printing press wherein though a carrier reference of a printed-wiring board is either of a this side carrier reference or an interior side carrier reference, a carrying-in conveyor can be used for both and an apparatus can be used compact in the same way as that for a traditional apparatus. - 特許庁

回転体１９の基準姿勢において１つの収容部２０が第１搬送コンベヤ１１からのパチンコ機１０の搬入が可能な搬入位置ＩＮに臨み、他の１つの収容部２０が第２搬送コンベヤ１２へのパチンコ機１０の搬出が可能な搬出位置ＯＵＴに臨む。例文帳に追加

In a reference posture of the rotary member 19, one storage unit 20 faces a carry-in position IN for carrying in the Pachinko machine 10 from the first conveyor 11, and the other storage unit 20 faces a carry-out position OUT for carrying out the Pachinko machine 10 to the second conveyor 12. - 特許庁

同種のフィルムロール９が複数ある場合には、記憶部３１（ＩＤタグ９ｄ）に記憶されているストック部５２への搬入日を基準にしてフィルムロール９の選定を行う。例文帳に追加

In a case where there are a plurality of the film rolls 9 of the same kind, the film roll 9 is chosen based on the carried-in date to the stock part 52 in a memory part 31 (ID tag 9d). - 特許庁

次に、基準パタン１０２が形成された絶縁性基板１０１を、よく知られた熱ＣＶＤ装置の処理室内に搬入し、８５０℃に加熱し、原料ガスとしてエタノールガスを供給する。例文帳に追加

Next, the insulating substrate 101 with the reference pattern 102 being formed thereon is conveyed into a treatment chamber of a well-known thermal CVD apparatus, heated to 850°C, and ethanol gas is fed thereto as raw material gas. - 特許庁

搬送経路の基準位置に基板が搬入されたことを基板センサが検出した後、この基板の種類に応じた固有移動距離だけ基板をさらに搬送して目標位置に停止する。例文帳に追加

After conveyance of a substrate at a reference position of a conveying path is detected by a substrate sensor, the substrate is further conveyed by a peculiar shift distance corresponding to the type of this substrate to be stopped at the target position. - 特許庁

基準位置に合わせ込まれた基板Ｗを搬送ロボットＴＲ１，ＴＲ２の吸着搬送アームが吸着保持して塗布処理ユニットに搬送するため、高い位置精度にて基板Ｗを搬入することができる。例文帳に追加

Suction transfer arms on the transfer robots TR1 and TR2 perform suction holding of the substrate W aligned with the reference position for transfer to the coating treatment units, thereby allowing the substrate W to be carried in with high positioning accuracy. - 特許庁

光電センサ８２は、切断位置Ｐから基準値Ｌ０以上離れた送りバイス機構６６近傍に、送りバイス機構６６がワークＷの搬入方向に往復するのと一体に移動可能に取り付けられる。例文帳に追加

The photoelectric sensor 82 is fitted near the feeding vice mechanism 66 positioned away from the cutting position P by a reference value L0 or more, movably integrated with the reciprocating movement of the feeding vice mechanism 66 in the carrying direction of the workpiece W. - 特許庁

搬送経路の基準位置に基板が搬入されたことを基板センサが検出した後、この基板の種類に応じた固有移動距離だけ基板をさらに搬送して目標位置に停止する。例文帳に追加

After conveyance of a substrate at a reference position of a conveying path is detected by a substrate sensor, the substrate is further conveyed by a peculiar shift distance corresponding to the type of the substrate to be stopped at the target position. - 特許庁

ロードロック室ＬＬ１、ＬＬ２とローダモジュールＬＭとの間でのウェハＷの入れ替えタイミングを基準として、いずれかのロードロック室ＬＬ１、ＬＬ２にウェハＷが搬入された時Ｔｐに、そのロードロック室ＬＬ１、ＬＬ２に次のウェハＷを搬入可能となるまでの時間ＰＳＬを算出する。例文帳に追加

At time Tp, when a wafer W is carried into either of load lock chambers LL1 and LL2 with exchange timing of the wafer W between each of load lock chambers LL1 and LL2 and a loader module LM as a reference, time PSL, until the next wafer W can be carried into that load lock chamber LL1 or LL2, is calculated. - 特許庁

この途中搬出工具ホルダ選択手段４２は、複数スケジュール工具ホルダ使用順情報Ｆ２において、スケジュール途中の工具ホルダ７の搬入の後、次に使用される順位が最も遅い工具ホルダ７を選択する基準４４を有するものとする。例文帳に追加

The in-process carrying-out tool holder selection means 42 has criteria 44 for selecting the latest tool holder 7 in an order to be used next after carrying-in of the tool holders 7 in the process of the schedule in a plurality of schedule tool holder use order information F2. - 特許庁

基板が描画システムに搬入されると、露光対象面に形成されたアライメントマークの位置を検出し、第１面の基準アライメントマークとアライメントマークのマーク間隔の誤差量から、補正アライメントマークを算出する。例文帳に追加

When the substrate is carried into a lithographic system, a position of an alignment mark formed on the exposure object plane is detected, and a corrected alignment mark is calculated from an error amount of mark intervals of the alignment mark and a reference alignment mark of a first plane. - 特許庁

例えば両面搬送パス６７に搬入されたシート上の複数の基準画像（パッチ画像）に対して、濃度センサ９が受光した光量に応じて画像形成装置全体の制御を司る制御装置Ｃではパッチ画像のそれぞれの濃度測定値を算出して取得する。例文帳に追加

A controller C for controlling the entire image forming apparatus in accordance with the quantity of light received by a density sensor 9 calculates and acquires density measurement values of a plurality of reference images (patch images) on a sheet conveyed into, for example, a both-face conveyance path 67. - 特許庁

制御コンピュータ２０は、Ｘ線ラインセンサ１４によって検出されたＸ線透過量により作成したＸ線画像に基づいて、シールドボックス内に搬入された商品について、上記基準物理量に対応する物理量を測定する。例文帳に追加

The control computer 20 measures a physical quantity corresponding to the basic physical quantity about the article which is conveyed into a shield box, based on an X-ray image generated by using a value of transmitted X rays sensed by an X-ray line sensor 14. - 特許庁

再商品化の実績については、平成20 年度においては家電リサイクルプラントに搬入され、処理された廃家電4品目は合計1,273万台（前年度比5.9％増）となっており、その再商品化率は品目により74 ～ 89％といずれも家電リサイクル法の基準値を達成しています（図-Ⅱ-27）。例文帳に追加

With regard to the composition of the weight of materials recycled, iron, copper, aluminum and glass account for the majority of the total, depending on products (see Figs. II-28 and II-29).発音を聞く  - 経済産業省

この整合ポイント補正のためのオートラーニングにおいては、実際の加工対象ではないダミーの半導体ウエハをチャンバ内に搬入し、実プロセスと同じ条件でプラズマプロセスを実行して、基準インピーダンスＺ_sの下で整合器にオートマッチングを行わせ、反射波測定回路で得られた反射波電力の測定値を取り込んでメモリに格納する。例文帳に追加

In the automatic learning for the matching point correction, a dummy semiconductor wafer which is not an actual processing object is transported into a chamber and plasma processing is carried out under the same condition as the actual process and automatic matching is made to perform to a matching unit under a reference impedance Z_s, and the measured value of reflected wave power obtained by the reflected wave measuring circuit is fetched and stored in a memory. - 特許庁