暗欠陥の英語

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。例文帳に追加

The defect classification means includes: a first classification means (50) of identifying an image of the defect having a specific shape; and a second classification means (51) of identifying the image of a punctate low-brightness defect and an image of a light-dark brightness defect. - 特許庁

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。例文帳に追加

The defect classifying means includes first classifying means (50) for identifying a defect image having a specific shape, and second classifying means (51) for identifying a punctiform low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image. - 特許庁

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。例文帳に追加

The defect classification means (36) includes first classification means (50) for identifying a defect image having a specific shape and second classification means (51) for identifying a punctate low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image. - 特許庁

疑似欠陥を発生させることなく、暗視野像の取得によりマスクの欠陥を高い感度で検出する。例文帳に追加

To detect a defect in a mask with high sensitivity by acquisition of a dark field image without generating a pseudo defect. - 特許庁

光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出することが可能なディフェクト信号生成回路を提供する。例文帳に追加

To provide a defect signal generating circuit capable of detecting a dark defect and a bright defect of an optical disk more exactly as a defect. - 特許庁

これによれば、欠陥部１ｂの箇所での明暗差が顕著化できて、欠陥部１ｂを精度良く検出することが可能となる。例文帳に追加

Hereby, the brightness difference at the spot of the discontinuity part 1b becomes clear, and the discontinuity part 1b is detected accurately. - 特許庁

欠陥位置検出部７００により、暗時の画素値を基にＸ線平面検出器３００の欠陥画素位置を検出する。例文帳に追加

A defective position detecting part 700 detects the defective pixel position of the X-ray plate detector 300, on the basis of the pixel value when it is dark. - 特許庁

特に、暗い背景にある暗い欠陥および／または明るい背景にある明るい欠陥などの欠陥を複合構造の照らされた部分の画像を捕捉することによって識別することのできるように光源を設けることで、複合構造内の欠陥を識別するための改良されたシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an improved system for identifying defects in a complex structure, by providing a light source so that defects, such as dark defects at a dark background and/or bright defects at a bright background, can be identified by capturing an image at an illuminated part in the complex structure. - 特許庁