「暗欠陥」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

明欠陥に限らず暗欠陥も検出でき、さらに欠陥を検出する際の処理時間を短くすることを目的とする。例文帳に追加

To detect both of a light defect and a dark defect and reduce a process time for detecting the defects. - 特許庁

そして、初期欠陥データに基づいて欠陥補償された後の画像情報をディジタルプロセス１０８で解析することにより、暗出力レベルの大きい画素を欠陥画素として選択するための欠陥検出動作が実行される。例文帳に追加

And the defect detecting operation to select a pixel with large dark output level as the defective pixel is carried out by analyzing image information after compensating the defect based on the initial defect data by the digital process 108. - 特許庁

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。例文帳に追加

The defect classification means includes: a first classification means (50) of identifying an image of the defect having a specific shape; and a second classification means (51) of identifying the image of a punctate low-brightness defect and an image of a light-dark brightness defect. - 特許庁

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。例文帳に追加

The defect classifying means includes first classifying means (50) for identifying a defect image having a specific shape, and second classifying means (51) for identifying a punctiform low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image. - 特許庁

欠陥分類手段は、特有の形状を有する欠陥像を識別する第１の分類手段（５０）と、点状の低輝度欠陥像や明暗輝度の欠陥像を識別する第２の分類手段（５１）とを有する。例文帳に追加

The defect classification means (36) includes first classification means (50) for identifying a defect image having a specific shape and second classification means (51) for identifying a punctate low-brightness defect image and a light-dark brightness defect image. - 特許庁

疑似欠陥を発生させることなく、暗視野像の取得によりマスクの欠陥を高い感度で検出する。例文帳に追加

To detect a defect in a mask with high sensitivity by acquisition of a dark field image without generating a pseudo defect. - 特許庁

光ディスクの暗欠陥及び明欠陥をディフェクトとしてより正確に検出することが可能なディフェクト信号生成回路を提供する。例文帳に追加

To provide a defect signal generating circuit capable of detecting a dark defect and a bright defect of an optical disk more exactly as a defect. - 特許庁

これによれば、欠陥部１ｂの箇所での明暗差が顕著化できて、欠陥部１ｂを精度良く検出することが可能となる。例文帳に追加

Hereby, the brightness difference at the spot of the discontinuity part 1b becomes clear, and the discontinuity part 1b is detected accurately. - 特許庁

欠陥位置検出部７００により、暗時の画素値を基にＸ線平面検出器３００の欠陥画素位置を検出する。例文帳に追加

A defective position detecting part 700 detects the defective pixel position of the X-ray plate detector 300, on the basis of the pixel value when it is dark. - 特許庁

特に、暗い背景にある暗い欠陥および／または明るい背景にある明るい欠陥などの欠陥を複合構造の照らされた部分の画像を捕捉することによって識別することのできるように光源を設けることで、複合構造内の欠陥を識別するための改良されたシステムを提供する。例文帳に追加

To provide an improved system for identifying defects in a complex structure, by providing a light source so that defects, such as dark defects at a dark background and/or bright defects at a bright background, can be identified by capturing an image at an illuminated part in the complex structure. - 特許庁

暗欠陥やフィンガー・プリントのみならず明欠陥や広範囲の欠陥に対しても良好にトラバース・カウントを行って、情報の書き込みや読み出しの速度の向上を図る。例文帳に追加

To increase write/read speed of information by performing traverse counting successfully for not only dark defects or finger print but also for bright defects or a wide range of defects. - 特許庁

被測定物Ｗの凸状欠陥Ｗｉは、ラインセンサカメラ２によって撮像された暗視野部Ｗ_b の画像の中に白い欠陥画像として検出されるが、凹状欠陥は検出されない。例文帳に追加

The projecting defect Wi of the measuring object W is detected as a white defect image in the image of the dark field section W_b imaged by the line sensor camera 2, but the recessed defect is not detected. - 特許庁

暗視野検出だけでは困難であった欠陥高さの高い位相欠陥や振幅欠陥に対する検出感度や検出信頼性を向上できるマスクブランク検査装置および方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device and a method for inspecting mask blank, that improve detection sensitivity to and detection reliability of a phase defect and an amplitude defect which are too high in defect height to detect only through dark field detection. - 特許庁

検査試料の種類や欠陥の方向に応じて、簡単な調整でその欠陥を好条件で観察、検出できる暗視野照明装置、及び、欠陥検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide a dark field illumination device and a defect detection device capable of observing and detecting a defect in preferable conditions by a simple adjustment corresponding to the kind of an inspection sample or the direction of the defect. - 特許庁

透明体シート状物表面に発生した曲率変化の小さな凹凸状欠陥を、最も鮮明な明暗像になる状態で結像させることにより、欠陥を漏れなく検出し、信頼性の高い欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a highly reliable defect inspection device detecting defects without omission by forming, in a clear contrast image, an image of a rugged defect with small curvature changes formed on a transparent body sheet-like material surface. - 特許庁

凹凸欠陥７が存在すると、境界６が通過する際に明暗反転部８，９が生じる。例文帳に追加

If a irregularity defect 7 exists, brightness inversion parts 8, 9 are generated when the border 6 passes. - 特許庁

高速，安定かつ明暗コントラストの大きい良質の画像を取得し、欠陥を高感度に検出する。例文帳に追加

To detect defects with high sensitivity while obtaining a fine image with high speed, stability and contrast. - 特許庁

また、このような暗視野照明装置を用いて、欠陥検出装置を構成する。例文帳に追加

This defect detection device is constituted by using the dark field illumination device. - 特許庁

暗視野照明及び明視野照明を兼用する帯状光源１と、暗視野及び明視野で欠陥を検出する受光素子３とから構成した光学系を用い、取り込んだ画像を所定値と比較して欠陥か否かを判定するようにした表面欠陥検出方法及び装置。例文帳に追加

The surface defect detecting method and device is constituted so that whether it is defect or not is discriminated by using an optical system constituted of a belt like light source 1 used for both dark field lighting and bright field lighting and a light receiving element 3 for detecting the defect in the dark field and bright field and comparing the taken image with a prescribed value. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14. - 特許庁

ステップＳ１０６で真っ暗な状態で所定時間露光したときに検出された各画素のデータＤｎが欠陥判定値Ｄｔｈａを超えるときにはステップＳ１０８でその画素は欠陥画素に該当するとして欠陥補正の対象とする。例文帳に追加

When data Dn of respective pixel detected when carrying out exposure in a predetermined time in a dark status exceed a defect decision value Dtha in a step S106, the pixels are defined as those pertinent to defective pixels, and set as the object of defect correction in a step S108. - 特許庁

ウェーハ上の欠陥の種類を判別するためのアルゴリズムによれば、複数の暗視野部検出器を含むウェーハ検査装置によって測定されたウェーハ上の欠陥のサイズがＣＯＰの最大サイズを表わす限界値よりも小さければ前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。例文帳に追加

According to algorithm for discriminating the kind of defect on a wafer, if the size of defect measured with a wafer inspection device containing a plurality of dark field part detectors is smaller than a limit value indicating the maximum size of COPs, the kind of defect is decided as being not particles. - 特許庁

画像センサの暗レベルを暗ピクセルの平均レベルにより定めると、欠陥ピクセルなどの影響を受け、誤差が大きくなりうる。例文帳に追加

To solve the problem that the determination of a dark level of an image sensor by adopting an average dark level of dark pixels can be affected by defective pixels or the like and results in causing a error large. - 特許庁

表面の欠陥の検出は透過及び暗視野反射画像を取得すると共に結合上方を使用して粒子及び他の表面の欠陥を検出することにより行われる。例文帳に追加

The detection of defects of the surfaces is executed by detecting the defects of the particles and the other surfaces by acquiring the transmitted and darkfield reflected images and using the upper part of the bonds. - 特許庁

又、前記出力値に対する補正値を、撮像素子の欠陥画素の補正値とすることで、撮像素子の暗電流起因の欠陥画素補正を良好に行えるようにする。例文帳に追加

Or the correction value of the defective pixels of the imaging element is used for the correction value applied to the output value to excellently correct the defective pixels caused by a dark current of the imaging element. - 特許庁

この領域をＳＥＭ走査して、各延伸配線のＳＥＭ像明暗配列状態から、電極パターンの欠陥情報（オープン・ショートの判定、欠陥電極の位置など）を得る。例文帳に追加

An SEM scanning of the region provides defect information (determining whether open or short, positions of the defect electrode) of the electrode patterns based on an SEM image light-dark arrangement state of the respective extension wirings. - 特許庁

欠陥が暗部に存在する場合であっても、欠陥を精度よく確実に検出することが可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a visual examination method which enables the precise and certain detection of a flaw even in a case that the flaw is present in a dark part, and a visual examination device. - 特許庁

輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。例文帳に追加

To improve the display quality of an E-ink display device by repairing a pixel unit of the E-ink display device, which has a bright point defect or a dark point defect. - 特許庁

薄膜トランジスタ(TFT)を用いたマトリクス型のアレイ基板の液晶表示装置において、短絡部が発生した場合にその短絡部を切り離して開放し、短絡による明点欠陥を目立たない暗点欠陥にする。例文帳に追加

To make a luminous-dot defect by a short circuit to be an inconspicuous dark-dot defect by separating and opening short-circuited parts when the short circuit parts are generated in a liquid crystal display device having a matrix type array substrate using thin film transistors(TFT). - 特許庁

この空転送により、欠陥画素１３ｂ−３から垂直転送路の終端の画素まで、欠陥に起因した暗電流成分１３０が存在する状態となる。例文帳に追加

Because of this idle transfer, an area from a defective pixel 13b-3 to a pixel at an end portion of the vertical transfer path becomes a state in which a dark current component 130 caused by defect exists. - 特許庁

固体撮像素子の動作温度が高い場合、明線および暗線の線状欠陥を検出し、検出された線状欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供するにある。例文帳に追加

To provide an imaging apparatus for detecting a linear defect of bright and dark lines and correcting a pixel signal of the detected linear defect when the operating temperature of a solid-state image sensor is high, and to provide a correction method of the pixel signal. - 特許庁

暗視野画像は明視野画像に比べて微小な欠陥まで表示することができ、検査者は両画像を見比べて明視野画像では表示できない微小な欠陥が存在することを確認することができる。例文帳に追加

The dark field image can show a minute flaw as compared with the bright field image and an inspector compares both images to confirm the presence of minute flaws incapable of being shown by the bright field image. - 特許庁

ウェーハ表面のＬＰＤの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、ＬＰＤの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs. - 特許庁

輝点欠陥又は暗点欠陥を有する電子インク表示装置の画素ユニットを修復し、電子インク表示装置の表示品質を向上させる。例文帳に追加

To repair the pixel unit of an electronic ink display device, which has a white spot defect or a dark spot defect, and to improve the display quality of the electronic ink display device. - 特許庁

レーザ光の照射により可視画像の描画が可能な画像記録層を有する光ディスクであって、最大暗欠陥の最大長（Ａ）と最大明欠陥の最大長（Ｂ）との比（Ｂ／Ａ）が１未満である光ディスクである。例文帳に追加

In the optical disk having an image forming layer on which a visible image can be drawn by irradiation of laser light, a ratio (B/A) of the maximum length (B) of a maximum bright defect to the maximum length (A) of a maximum dark defect is <1. - 特許庁

検体１の表面の凹凸欠陥７では、境界６の通過時に明暗反転部８，９が生じるので、画像の動きとして凹凸欠陥７を容易に判断することができる。例文帳に追加

Since the brightness inversion parts 8, 9 are generated when the border 6 passes on the irregularity defect 7 on the surface of the test body 1, the irregularity defect 7 can be determined easily as the movement of the images. - 特許庁

太陽電池セルの欠陥をタイプごとに分け、暗部の形状を各タイプと比較して解析し（Ｓ５０）欠陥の有無を判定し、太陽電池セルの良否判断を行う。例文帳に追加

Each photovoltaic cell defect is classified according to defect types and a shape of the dark region is compared with the defect types (S50), and the presence or absence of the defect is determined to determine whether the photovoltaice cells are good or not. - 特許庁

つまり、検出レベルとは無関係に、暗出力レベルが大きいワースト３２個の画素が欠陥画素として判定されることになる。例文帳に追加

Namely, the worst 32 pixels with the large dark output level are judged as the defective pixels irrespective of a detection level. - 特許庁

欠陥検出器が光学的に暗視野光学ユニットに結合されており、散乱光の角度分布を生成する。例文帳に追加

A defect detector is optically coupled to the dark field optical unit to generate the angle distribution of scattered light. - 特許庁

これにより、高速モンゴメリ電力ラダーアルゴリズムを利用する暗号化システムで正確な欠陥検出動作を行える。例文帳に追加

Consequently, the correct fault detection operation will be performed by a cryptography system by using the fast Montgomery power ladder algorithm. - 特許庁

照明部２Ａによる同軸落射照明により、コーティング層の表面の欠陥が画像上に周囲より暗い領域として現れる。例文帳に追加

The defect on the surface of the coating layer appears on an image as an area darker than its periphery, with coaxial epi-illumination by the illumination part 2A. - 特許庁

これにより、高速モンゴメリパワーラダーアルゴリズムを利用する暗号化システムで正確な欠陥検出動作を行える。例文帳に追加

Consequently, the correct fault detection operation will be performed by a cryptography system by using the fast Montgomery power ladder algorithm. - 特許庁

すなわち、欠陥検出信頼性判定部１１２ｅは、「撮像エリアの中央部６４×６４画素の出力（暗電荷レベル）の平均値を求める。例文帳に追加

Namely, a defect detection reliability judging part 112e calculates the average value of outputs (dark electric charge level) of 64×64 pixels at a center part of an image pickup area. - 特許庁

隣接する画素電極11間の補助容量部13に短絡部が発生した場合も同様に暗点欠陥にできる。例文帳に追加

Also, when short circuit parts are produced in the auxiliary capacitance part 13 between adjacent pixel electrodes 11, a luminous-dot defect can be made to be a dark-dot defect similarly. - 特許庁