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主な意味F検定

コンピューター用語辞典での「F test」の意味

F-test



「F test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 94



例文

Code Listing4.1: Default system crontab */15 * * * * test -x /usr/sbin/run-crons /usr/sbin/run-crons0 * * * * rm -f /var/spool/cron/lastrun/cron.hourly0 3 * * * rm -f /var/spool/cron/lastrun/cron.daily15 4 * * 6 rm -f /var/spool/cron/lastrun/cron.weekly30 5 1 * * rm -f /var/spool/cron/lastrun/cron.monthly発音を聞く例文帳に追加

コード表示4.1:デフォルトのシステムcrontab - Gentoo Linux

(f) The quantity of the test samples for which inspections, etc. were conducted;発音を聞く例文帳に追加

ヘ 検査等を行つた試験品の数量 - 日本法令外国語訳データベースシステム

TEST CIRCUIT, SERIAL I/F CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト回路、及び、シリアルI/F回路、半導体装置 - 特許庁

For example, an F/F (frip-frop) chain circuit 21 for a SCAN test to activate the critical path 12 in the combination circuit 11 is configured by using SCAN F/F (frip-frop for scan test) (1) 21a to SCAN F/F (5) 21e having MUXs 22a-22e.例文帳に追加

たとえば、組み合わせ回路11のクリティカルパス12を活性化させるためのSCANテスト用F/Fチェーン回路21を、MUX22a〜22e付きのSCAN F/F(1)21a〜SCAN F/F(5)21eを用いて構成する。 - 特許庁

Tests results based on OECD Test Guidelines 301 A-F (Degradability Tests) or equivalent may be adopted.例文帳に追加

OECDテストガイドライン301A~F(易分解性試験)およびそれに相当する試験の結果は、受け入れることができる。 - 経済産業省

Since this function is adapted even to various test pieces in the same way, √At=f(hr) is determined even if a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁

例文

Since the function is applied similarly to various test pieces, determination byAt=f(hr) is applicable even when a plurality of test pieces are used.例文帳に追加

この関数は多様な試験片に対しても同様に適用できるため、複数の試験片を用いても、√At = f(hr)を定め得る。 - 特許庁

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機械工学英和和英辞典での「F test」の意味

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和英河川・水資源用語集での「F test」の意味

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学術用語英和対訳集での「F test」の意味

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JST科学技術用語日英対訳辞書での「F test」の意味

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英和実験動物学用語集での「F test」の意味

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Weblio英和対訳辞書での「F test」の意味

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「F test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 94



例文

the symbol 'F' which denotes failure of a test発音を聞く例文帳に追加

試験の成績などの等級を表す語で,最下級である不可 - EDR日英対訳辞書

A stub function I/F extraction part 3 extracts the I/F of the input/output between the function of the test target and the lower function called by the function of the test target, and a stub function I/F analysis part 4 analyzes the extracted I/F.例文帳に追加

スタブ関数I/F抽出部3は試験対象の関数とこの試験対象の関数が呼び出す下位関数との間の入出力のI/Fを抽出し、スタブ関数I/F分析部4は抽出されたI/Fを分析する。 - 特許庁

A voice I/F 205 converts a test voice signal into a test voice, and uses the speaker 213 to output the test voice.例文帳に追加

音声I/F205は、テスト音声信号をテスト音声に変換してスピーカ213によって出力させる。 - 特許庁

To provide a test circuit, a semiconductor device and a method for manufacturing the same, for applying a stress to a node of a combination circuit to which the stress is not applied by only F/F in a burn-in test or a leak test of the semiconductor device, and inhibiting circuit overhead of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のバーンインテストまたはリークテストの際に、F/Fだけではストレスを印加できない組み合わせ回路のノードにストレスを与えるとともに、半導体装置の回路オーバーヘッドを抑えることができるテスト回路、半導体装置及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

A skew value of each pin of the tester is calculated from a result h measured by the test pattern f and the test program g created, and a test program i for an actual test is created by reflecting the skew value in the original test program c.例文帳に追加

生成したテストパタンfとテストプログラムgで測定した結果hから、テスタの各ピンのスキュー値を算出し、それを元のテストプログラムcに反映させ、本テスト用のテストプログラムiを生成する。 - 特許庁

To prevent increase in a scan shift time along with the number of F/F mounted on a plurality of IP circuits for suppressing increase of a price per a chip when a scan test is carried out on a plurality of IP circuits mounted on the same chip.例文帳に追加

同一チップ上に搭載された同一の複数のIP回路のスキャンテストを行う際、複数のIP回路に搭載されるF/F 数に依存してスキャンシフト時間が増大することを抑制し、チップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁

Icasim Weight and Balance is an application based on NetBeans Platform 4.0 to calculate the centre of gravity of tactical aircraft (e.g. F/A-18) during test-flights.発音を聞く例文帳に追加

Icasim Weight and Balance は、NetBeans Platform 4.0 を基盤にした、戦闘用航空機 (F/A-18 など) の試験飛行中の重心を計算するアプリケーションです。 - NetBeans

例文

(f) Test equipment or accessories for laser oscillators which fall under any of the following発音を聞く例文帳に追加

ヘ レーザー発振器の試験装置又は附属品であって、次のいずれかに該当するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

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