ION BEAM ANALYSISとは 意味・読み方・使い方

MAGNET FOR ION ANALYSIS AND METHOD TO MEASURE ION BEAM CURRENT WITH IT例文帳に追加

イオン分析マグネット及び該マグネットを用いたイオンビーム電流測定方法 - 特許庁

NEGATIVE ION SOURCE, ION BEAM ANALYSIS DEVICE, ETCHING DEVICE, OXYGEN RADICAL GENERATION DEVICE AND WASTE GAS PROCESSOR例文帳に追加

負イオン源、イオンビーム分析装置、エッチング装置、酸素ラジカル発生装置及び排ガス処理装置 - 特許庁

MINUTE PART ANALYZER USING FOCUSED ION BEAM AND MINUTE PART ANALYSIS METHOD USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームを用いる微細部位解析装置および集束イオンビームを用いる微細部位解析方法 - 特許庁

GAS CLUSTER ION BEAM GUN, SURFACE ANALYSIS DEVICE AND SURFACE ANALYTICAL METHOD例文帳に追加

ＧＣＩＢ（ガスクラスターイオンビーム）銃、表面分析装置および表面分析方法 - 特許庁

The ion beam irradiation device includes ion sources 2a, 2b, analysis electromagnets 6a, 6b, and a substrate driving device 14.例文帳に追加

このイオンビーム照射装置は、イオン源２ａ、２ｂ、分析電磁石６ａ、６ｂおよび基板駆動装置１４を備えている。 - 特許庁

To prevent deviation of a focus of an ion beam from a position of an analysis slit affected by a space charge in an ion implanting device equipped with an analysis electromagnet and an analysis slit.例文帳に追加

分析電磁石および分析スリットを備えるイオン注入装置において、空間電荷の影響によってイオンビームの焦点が分析スリットの位置からずれるのを防止する。 - 特許庁

To suppress a diffusion phenomenon of a metal element induced by oxygen ion beam irradiation as primary ion used for analysis, concerning a depth direction analysis method of the metal element and a secondary ion mass spectrometer.例文帳に追加

金属元素の深さ方向分析方法及び二次イオン質量分析装置に関し、分析に用いる一次イオンとしての酸素イオンビーム照射に誘起される金属元素の拡散現象を抑制する。 - 特許庁

To provide an analysis electromagnet in which a ribbon-shaped ion beam is bent, and disorder in the form of the ion beam at the time of emitting can be suppressed small, and its related technology.例文帳に追加

リボン状のイオンビームを曲げる分析電磁石であって、出射時のイオンビームの形態の乱れを小さく抑えることができる分析電磁石とその関連技術を提供する。 - 特許庁