Z=Fの英語

A current spectrum I(t) is calculated from U(f) using the power supply impedance profile Z(f) of this power domain as I(t)=F_f^-1{U(f)/Z(f)}.例文帳に追加

対象電力領域の電源インピーダンス・プロファイルＺ（ｆ）をＩ（ｔ）＝Ｆ_ｆ^−１｛Ｕ（ｆ）／Ｚ（ｆ）｝として使用し、Ｕ（ｆ）から電流スペクトルＩ（ｔ）が計算される。 - 特許庁

After a local power supply impedance profile Z(f) is determined, a local time-resolved power supply voltage U(t) is measured.例文帳に追加

ローカル電源インピーダンス・プロファイルＺ（ｆ）を決定した後、ローカル時間分解電源電圧Ｕ（ｔ）を測定する。 - 特許庁

Then, in the bisecting analysis filter bank, in the step S5, by using H1(z), f(z) and the initial solution H0(z) of H0(Z), H0(z) is decided.例文帳に追加

そして、２分割分析フィルタバンク１０においては、ステップＳ５において、Ｈ_1（ｚ）と、ｆ（ｚ）と、Ｈ_0（ｚ）の初期解Ｈ_0’（ｚ）とを用いて、Ｈ_0（ｚ）を決定する。 - 特許庁

When the progressive refraction surface 12 is defined as the surface expressed by the following equation (1) of connecting Z given as Z=F(X, Y) in an orthogonal coordinate system, this surface is composed of the power functions of n order selected from a range of 8 to 20.例文帳に追加

累進屈折面１２を、直交座標系において、Ｚ＝Ｆ（Ｘ，Ｙ）として与えられるＺを連続的に結び付けた下記一般式で表される面としたとき、８〜２０の範囲から選択されるｎ次のべき乗関数で構成する。 - 特許庁

A temporary measuring probe scanning route 6 off-set by a radial length of a probe tip ball 2 along a normal line direction on an aimed measuring route 5 is found at first based on a design shape z=f(x, y) of a measured face 4, and a probe 1 is scanned to conduct temporary measurement.例文帳に追加

まず、被測定面４の設計形状ｚ＝ｆ（ｘ、ｙ）に基づいて狙いの測定経路５上の法線方向にプローブ先端球２の半径分だけオフセットした仮測定用プローブ走査経路６を求めてプローブ１を走査させ、仮測定を行う。 - 特許庁

The model data 1, 30 have a current table 11 indicating the correspondence between a plurality of frequencies and complex current i(f) of a power supply system, and an impedance table 12 indicating the correspondence between the same plurality of frequencies and the complex impedance Z(f) of the power supply system.例文帳に追加

本発明に係るモデルデータ１，３０は、複数の周波数と電源系の複素数電流ｉ（ｆ）との対応関係を示す電流テーブル１１と、同じ複数の周波数と電源系の複素数インピーダンスＺ（ｆ）との対応関係を示すインピーダンステーブル１２とを有している。 - 特許庁