alignment testとは 意味・読み方・使い方

The start time of the alignment test signal is adjusted until the frequency content of the return alignment test signal corresponds to the alternating pattern of frequencies.例文帳に追加

位置調整検査信号の開始時間は、戻り位置調整検査信号の周波数コンテンツが周波数の交互パターンに対応するまで調整される。 - 特許庁

An alignment test signal having an alternating pattern of frequencies is generated and transmitted over a communication link 108 that carries the alignment test signal in a sequence of frames.例文帳に追加

周波数の交互パターンを持つ位置調整検査信号が生成され、フレームのシーケンスで位置調整検査信号を搬送する通信リンク１０８を通じて送信される。 - 特許庁

An alignment test signal having an alternating pattern of frequencies is generated and transmitted over a communication link that carries the alignment test signal in a sequence of frames.例文帳に追加

周波数の交互パターンを持つ位置調整検査信号が生成され、フレームのシーケンスで位置調整検査信号を搬送する通信リンクを通じて送信される。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer capable of more easily performing alignment with a test apparatus than conventional, and to provide a test method of the same.例文帳に追加

試験装置との位置合わせが従来よりも容易に行える半導体ウエハとその試験方法を提供する。 - 特許庁

(xviii)-3 Test equipment, calibration equipment, or alignment equipment for those listed in preceding two items発音を聞く 例文帳に追加

十八の三　前二号に掲げるものの試験装置、校正装置又は心合わせ装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a liquid crystal film which does not cause appearance abnormality such as crack on a liquid crystal alignment layer even in a severe environmental test such as a cycle test between a high-temperature test and a high-temperature/high-humidity test.例文帳に追加

高温試験と高温高湿試験とのサイクル試験のような厳しい環境試験においても、液晶配向層にクラックなどの外観異常を発生させない液晶フィルムを提供する。 - 特許庁

The vacuum chamber 1 installs the theodolite 2 measuring changes of the alignment of the test piece 4 by a thermal vacuum test in an outer wall, when the thermal vacuum test is carried out to the test piece 4 arranged inside.例文帳に追加

内部に配設された供試体４に対して熱真空試験を行う際に、熱真空試験による供試体４のアライメントの変化を測定するセオドライト２を、外壁に組み込んだ真空チャンバ１。 - 特許庁

To measure the shape of a test surface with high accuracy even when an alignment error exists in an optical system.例文帳に追加

光学系にアラインメント誤差が存在しても、被検面の形状を高精度に計測する。 - 特許庁