defective part sampleとは 意味・読み方・使い方

When the sample 6 is given in executing the analysis, a sample identification part 18 recognizes the sample number thereof, an image processing part 21 detects a defective part by the image of the analysis surface of the sample 6 obtained by a CCD camera 12.例文帳に追加

分析実行時に試料６が与えられると試料識別部１８がその試料番号を認識し、が層処理部２１はＣＣＤカメラ１２により得られた試料６の分析面の画像により欠陥部を検出する。 - 特許庁

A test vector is generated with a program that segments the part between the breakpoint of the real program 18 and the fail point FP and the internal status of the defective sample 30 or the non-defective sample 32 at the breakpoint.例文帳に追加

実プログラム１８のブレークポイントからフェイルポイントＦＰまでを切り出したプログラムと、ブレークポイントにおける不良品サンプル３０又は良品サンプル３２の内部ステータスとにより、テストベクタを生成する。 - 特許庁

The defective part is detected from the difference of brightness from a normal part of the sample surface by the image analysis, and an analysis position is extracted so that the analysis position avoids the defective part.例文帳に追加

画像解析により試料表面の正常部との輝度の違いから欠陥部を検出して、分析する位置が欠陥部を避けるように分析位置を抽出する。 - 特許庁

The test sample is left, as it is, in iodine gas; and when a defective part exists in the transparent gas barrier film, having the metal oxide evaporation layer, the defective part is specified, by observing density difference in coloring by the iodine generated by the contact of the iodine with the adhesive agent through the defective part.例文帳に追加

この試験試料を沃素ガス中に放置し、前記金属酸化物蒸着層を有する透明ガスバリアフィルムに欠陥個所が存在するとき、この欠陥個所を通して沃素が粘着剤に接触して生じる沃素による発色の濃度差を観察することで、前記欠陥個所の特定を行う。 - 特許庁

To brake sample and defective sheets of a machine for processing flat bodies to be printed guided along a sheet paper guide part, for example, a printing machine.例文帳に追加

枚葉紙が枚葉紙案内部に沿って案内される、平坦な被印刷体を処理する機械、たとえば印刷機の見本紙および不良紙を減速させる。 - 特許庁

To prevent erroneous measurement or breakage of a thermal analysis equipment arising from defective sealing and to improve greatly a workability inside a glove box by a method wherein a powder sample is prevented from adhering to a sealing part of a sample container main body when the powder sample is filled into a sealed-up type small sample container.例文帳に追加

密封式小型試料容器への粉末試料充填の際に、試料容器本体のシール部に粉末試料が付着するのを防いでシール不良による測定の失敗あるいは熱分析装置の破損を防止できるようにし、しかもグローブボックス内での作業性を大幅に改善できるようにする。 - 特許庁

An SEM system appearance inspection method and a device thereof, in which, after loading a sample on a portable stage and carrying out measurement of a height of the sample, electron beams are scanned over the sample to find a defective part from an image thus obtained, include a height measurement with a correction processing function through stage movement.例文帳に追加

試料を移動可能なステージ上にロード後、試料の高さ計測を行った後、試料に電子線ビームを走査させ、得られた画像から欠陥部を求めるＳＥＭ式外観検査方法及び装置において、高さ計測がステージ移動による補正処理機能を備えている。 - 特許庁