exposure measuresとは 意味・読み方・使い方

The exposure system measures temperature data from a temperature sensor 33 attached to each section of the system.例文帳に追加

露光装置の各部に取り付けられた温度センサ３３から温度データを測定する。 - 特許庁

To provide an exposure device which accurately measures the deviation of an exposure position when the exposure position is deviated from an original proper position due to the accumulation of temporal shape changes of an exposure head or the like.例文帳に追加

露光ヘッド等の経時的形状変化の蓄積により露光位置が本来の適正位置からずれた場合に、その露光位置ずれを正確に測定することができる露光装置の提供。 - 特許庁

The exposure quantity calculation part 8 automatically measures the pattern rate, and optimizes the exposure time of a photoresist film according to the pattern rate to eliminate the need for test exposure.例文帳に追加

露光量算出部８で自動的にパターン率を測定し、このパターン率の大きさでフォトレジスト膜の露光時間を最適することで、試し露光を不要にできる。 - 特許庁

To provide a method and a device for charged particle beam exposure which enables stable exposure by taking measures for the discharge of an electron gun.例文帳に追加

電子銃の放電対策を施し、露光を安定に行うことのできる荷電粒子線露光方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an exposure system which highly accurately measures the positions of stages to be moved concerning the exposure system having a plurality of stages, for example.例文帳に追加

例えば複数のステージを有する露光装置において、移動するステージの位置計測を高精度に行いうる露光装置を提供する。 - 特許庁

Exposure time information in photographing is acquired by an exposure time determination part which measures the exposure time of an imaging device in a step 100, and it is decided in accordance with exposure time information whether or not defective pixel correction should be performed in a step 102.例文帳に追加

撮像デバイスの露光時間を計測する露光時間決定部によって撮影時の露光時間情報の取得が行われ（１００）、露光時間情報に応じて欠陥画素補正を実施するか否かの判定が行われる（１０２）。 - 特許庁

To provide an aligner and an exposure method to which measures are taken to prevent a foreign substance from adhering to a reticle.例文帳に追加

レチクルに異物が付着しにくくなるような対策を加えた露光装置及び露光方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reticle for measuring effective σ which accurately and easily measures variation in σ within an exposure field.例文帳に追加

露光フィールド内のσバラツキを正確かつ簡便に測定する実効σ計測用レチクルを提供する。 - 特許庁