for a second thereとは 意味・読み方・使い方

Inside the second chamber 2, there are housed two or more second support members 20 for supporting the wafer W in a substantially horizontal attitude.例文帳に追加

第２チャンバ２内には、ウエハＷをほぼ水平姿勢に支持するための複数の第２支持部材２０が収容されている。 - 特許庁

Consequently, since there is no need to form a constitution for connection at the second pipe, the second pipe can be cut and freely adjusted in length.例文帳に追加

これによれば、第２のパイプに連結のための構成を形成する必要がないため、第２のパイプを切断してその長さを自由に調節可能になる。 - 特許庁

At the lower section of a casing 17a, there are a second exhaust pipe 63 for discharging the atmosphere inside the casing 17a, and a second damper 84 for adjusting the exhaust flow rate of the second exhaust pipe 63.例文帳に追加

ケーシング１７ａの下部に，ケーシング１７ａ内の雰囲気を排気する第２排気管６３と，当該第２排気管６３の排気流量を調節する第２ダンパ８４を設ける。 - 特許庁

There are provided a combination of a first drive unit and a second drive unit for positioning an object table in a lithographic apparatus.例文帳に追加

リソグラフィ装置内で対象物テーブルを位置決めする第１駆動ユニット及び第２駆動ユニットの組合せを説明する。 - 特許庁

On the first winding 8 for cascade connection, there is provided a second winding 16 for cascade connection which is formed of metal plating.例文帳に追加

カスケード接続用第１配線８の上に、金属メッキによって形成される、カスケード接続用第２配線１６が設けられている。 - 特許庁

Article 255 When a motion for appeal to the court of second instance has been filed, a final appeal as set forth in the preceding Article shall cease to be effective; provided, however, that this shall not apply when the appeal to the court of second instance is withdrawn or when there is a judicial decision to dismiss the appeal to the court of second instance.発音を聞く 例文帳に追加

第二百五十五条　前条の上告は、控訴の申立があつたときは、その効力を失う。但し、控訴の取下又は控訴棄却の裁判があつたときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

There are a stone pagoda believed to be the tomb for the second son of FUJIWARA no Kamatari, Tankaiko (a posthumous title of FUJIWARA no Fuhito) within a short walk from Tanzan-jinja Shrine.発音を聞く 例文帳に追加

談山神社から、少し歩いたところに藤原鎌足の次男、淡海公（藤原不比等）の墓といわれる石塔がある。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

There is provided the inspection method for semiconductor device including a first wafer inspection step, a second wafer inspection step, and a determination step.例文帳に追加

実施形態によれば、第１ウエハ検査工程と、２ウエハ検査工程と、判定工程とを含む半導体装置の検査方法が提供される。 - 特許庁