test for each elementとは 意味・読み方・使い方

A forming processing of a test pattern is performed by using a recording head 124, and the amount of variation of dot forming position is detected for each recording element of the recording head 124 by a variation amount detecting part 128 from the test pattern.例文帳に追加

記録ヘッド１２４を用いてテストパターンの形成処理を行い、当該テストパターンから、記録ヘッド１２４の記録素子ごとのドット形成位置の変動量を変動量検出部１２８で検出する。 - 特許庁

The biological substance test device represents such a system constitution as to separately comprise reagents for each specimen, the microreactor loaded with a fluid transmission element, and a control/detective component.例文帳に追加

生体物質検査デバイスは、検体ごとの試薬類・送液系エレメント搭載マイクロリアクタと、制御・検出コンポーネントとを別個にするシステム構成となっている。 - 特許庁

To provide an inspection method for a semiconductor integrated circuit including an equalization process for generating a burn-in test pattern for equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化するバーンインテストパターンを生成する平準化工程を含む半導体集積回路の検査方法の提供。 - 特許庁

To improve visibility of a test pattern drawn for confirming whether each printing element for forming dots on paper works normally, and reduce the time required for determination.例文帳に追加

用紙上にドットを形成する個々の印字エレメントが正常に動作しているかを確認するために描画されたテストパターンの視認性を向上し、判定に要する時間を短縮する。 - 特許庁

Each of the optical sensors 3 is equipped with a light emitting element 31 for projecting detection light 33 on the edge part 82 of the upper end opening of each of the test tubes 8, and a light detecting element 32 for detecting the reflected light 34 of the detection light 33 from the edge part 82 to subject the same to photoelectric conversion.例文帳に追加

光学センサー３は、試験管８の上端開口の縁部８２に検出光３３を投光する発光素子３１と、検出光３３が縁部８２で反射した反射光３４を受光し、光電変換する受光素子３２とを備えている。 - 特許庁

To provide a printed-circuit board for optical transmission modules that is improved so that a screening test can be executed by simultaneously driving each semiconductor laser element on the printed-circuit board.例文帳に追加

プリント基板上の各半導体レーザ素子を同時に駆動させてスクリーニング試験を実施することができるように改良された光伝送モジュール用プリント基板を提供する。 - 特許庁

This inspection method for the semiconductor integrated circuit includes a burn-in pattern generating process for generating a burn-in test pattern for performing a burn-in test for the integrated circuit, and the generating process is characterized by including an equalization process for generating an equalization burn-in test pattern equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路の検査方法は、前記半導体集積回路のバーインテストを行うためのバーンインテストパターンを生成するバーンインパターン生成工程を含み、該バーンインパターン生成工程は、前記半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化する平準化バーンインテストパターンを生成する平準化工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The function extraction part may comprise: a program control part for making execute the test program previously stored in the test device; a state detection part for detecting each state of constitutional components; and an extraction part for extracting the constitutional element operated according to the test program and on the basis of the state of the constitutional element detected by the state detection part.例文帳に追加

機能抽出部は、試験装置に予め格納されている前記試験プログラムを実行させるプログラム制御部と、試験プログラムを実行させた後に、試験装置のそれぞれの構成要素の状態を検出する状態検出部と、状態検出部が検出したそれぞれの構成要素の状態に基づいて、試験プログラムに応じて動作した構成要素を抽出する抽出部とを有してよい。 - 特許庁