time reference scanning beamとは 意味・読み方・使い方

The slew rate of the reference signal is in a level higher than N/Tn (volt/sec), where a noise level superimposed on the reference signal is denoted by N (volt), and the tolerant time of a time lag in the main scanning direction with the laser beam caused by the noise is denoted by Tn (sec).例文帳に追加

基準信号のスルーレートは、この基準信号に重畳されるノイズレベルをＮ［ボルト］とし、当該ノイズによってレーザビームの主走査方向における時間のずれの許容時間をＴｎ［秒］とした場合に、Ｎ／Ｔｎ［ボルト／秒］より高いレベルにある。 - 特許庁

A type of an object is identified by emitting for scanning an optical beam 7 from a sensor head 1 to a regression reflector 2 obtaining time series data according to a reflected beam amount of the beam 7, storing reference data corresponding to the time series data of the reflected beam in the case of existing the object, and comparing the obtained time series data with previously stored reference data.例文帳に追加

そこで、センサヘッド１から光ビーム７を回帰反射体に投光走査し、その光ビーム７の反射光光量に応じた時系列データを取得し、物体が存在する場合の反射光の時系列データに対応する基準データを予め複数種類の物体について記憶しておき、取得した時系列データと予め記憶されている基準データとを比較することによって、物体の種類を識別するようにした。 - 特許庁

A scattered beam is measured while changing a relative scanning direction of the beam with respect to a semiconductor wafer by a prescribed angle at a time, using a crystalline direction of a semiconductor constituting the semiconductor wafer as a reference, and measured results in the every change by the prescribed angle at the one time are compared, in this method of the present invention.例文帳に追加

半導体ウェーハを構成する半導体の結晶の方向を基準にして、所定角度ずつ半導体ウェーハに対する光の相対的な走査方向を変化させつつ、散乱光を測定し、所定角度ずつ変化させる毎に得られた測定結果を比較する。 - 特許庁

The circuit (7) is constituted so as to measure the scanning time by counting a specified reference clock from detecting the light beam by the 1st photodetector (DEPT1) until detecting it by the 2nd photodetector (DEPT2).例文帳に追加

また、書込みクロック生成回路（７）は、光ビームを第１の光検出器（DEPT1）が検出してから第２の光検出器（DEPT2 ）が検出するまで所定の基準クロックをカウントすることにより前記走査時間を測定する構成にした。 - 特許庁

The time elapsing after passage of a reference mark 161 provided on a disc 160 rotating integrally with a polygon mirror is detected by a photointerrupter 151 before a laser beam is detected by a sensor 220 provided on the scanning unit manufacturing device 200 side is measured as the count of the number of pulses of reference clock and stored in a memory 180.例文帳に追加

例えば、ポリゴンミラーと一体的に回転する円板１６０上に設けられた基準マーク１６１の通過がフォトインタラプタ１５１により検出されてから、走査ユニット製造装置２００側に設けられた検出センサ２２０によりレーザビームが検出されるまでの時間を、基準クロックのパルス数のカウント値として計測し、メモリ１８０に格納する。 - 特許庁

Since respective optical beam light amount is adjusted when images are exposed according to potentials in a detected reference toner image, variations in the latent images due to reciprocity law failure are corrected and the difference in the images due to the difference in time intervals of writing the adjacent image data in the sub scanning direction can be reduced.例文帳に追加

検知した基準トナー像の電位に応じて、画像露光する場合の各々の光ビーム光量を調整するので、相反則不軌による潜像の変化を補正し、副走査方向に隣接する画像データの書き込み時間間隔の差による画像の差を低減することができる。 - 特許庁