tof simsとは 意味・読み方・使い方

This method of detecting the volatile organic compound existing on the base material surface has (1) a process for bringing the compound into reaction with a volatility modifying reagent to make the compound nonvolatile, and (2) a process for measuring the base material surface by a time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) to detect the compound.例文帳に追加

基材表面に存在する揮発性有機化合物の検出方法であって、（１）該化合物と揮発性の修飾試薬とを反応させ、該化合物を不揮発化する工程、及び（２）飛行時間型二次イオン質量分析計（TOF-SIMS）により基材表面を測定し、該化合物を検出する工程、を有する、検出方法。 - 特許庁

To provide a toner for developing an electrostatic charge image, in which the secondary ion intensity value of an ionic functional group derived from a surfactant is ≤30,000 when measured by ToF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectrometry).例文帳に追加

ＴｏＦ−ＳＩＭＳで測定した界面活性剤由来のイオン性官能基量がｉｎｔｅｎｓｉｔｙ値で３００００以下であることを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁

Concerning a method for specifying the composition ratio of each organic compound in the mixed organic compound formed by mixing at least two or more kinds of organic compounds, this specification method of the composition ratio of the mixed organic compound has a characteristic wherein a spectrum acquired by measuring the mixed organic compound by using TOF-SIMS is specified from a calibration graph formed based on data acquired by performing main component analysis.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の有機化合物を混合してなる混合有機化合物中の各有機化合物の組成割合を特定する方法であって、該方法が、混合有機化合物をTOF-SIMSで測定して得られたスペクトルを、主成分分析して得られたデータに基づき作成した検量グラフから特定することを特徴とする混合有機化合物の組成割合の特定方法。 - 特許庁

A method for analyzing an object by means of TOF-SIMS is adapted to apply an ionization promoter (a metal, such as silver or gold) to the object and generate secondary ions that correspond to the parent molecules and can be used to determine the kind of the object.例文帳に追加

ＴＯＦ−ＳＩＭＳ法を用いて対象物を分析する方法において、対象物にイオン化促進物質（銀や金などの金属）を付与し、対象物の種類を判別できる親分子に相当する二次イオンを生成させる。 - 特許庁

In measurement of fragment ion using TOF-SIMS (time-of flight secondary ion mass spectrometry), the ratio I_D/I_T of fragment ion strength I_D originated from the diamide derivative to the total value I_T of all fragment ions to be detected is 0.1×10^-2 to 0.3×10^-2.例文帳に追加

ＴＯＦ−ＳＩＭＳを用いたフラグメントイオンの測定において、検出されるすべてのフラグメントイオンの強度の合計値Ｉ_Tに対するジアミド誘導体に由来するフラグメントイオン強度Ｉ_Dの比率Ｉ_D／Ｉ_Tが０．１×１０^-2〜０．３×１０^-2である。 - 特許庁

The ionization of the intracellular metabolite is promoted using a substance for promoting the ionization of the intracellular metabolite, and the intracellular metabolite is flown, when acquiring information as to the intracellular metabolite, using a TOF-SIMS (time-of-flight secondary mass spectrometer).例文帳に追加

細胞内代謝物質に関する情報を飛行時間型二次イオン質量分析法を用いて取得する取得する際に、細胞内代謝物質のイオン化を促進するための物質を用いて細胞内代謝物質のイオン化を促進して細胞内代謝物質を飛翔させる。 - 特許庁

The masses of ion kinds on the surface of the wafer W, such as CH3Si+, C3H9Si+, C3H9Si-, etc., are analyzed by using an analytical section such as TOF-SIMS, etc., thereby of the analytical equipment A2 measuring the quantity of HMDS(hexamethyl disilazane) on the surface of the wafer W.例文帳に追加

分析装置Ａ２では例えばＴＯＦ−ＳＩＭＳなどの分析部においてウエハＷ表面の例えばＣＨ3Ｓｉ+，Ｃ3Ｈ9Ｓｉ+，Ｃ3Ｈ9ＯＳｉ-等のイオン種の量を質量分析し、これによりウエハＷ表面のＨＭＤＳ量（ヘキサメチルジシラザン）の測定を行う。 - 特許庁

This method for analyzing the sample is characterized by detecting the presence or absence of the formation of the nucleic acid probe-target nucleic acid hybrid product formed in a measurement sample obtained by reacting a sample with the probe carrier by the measurement of a halogen atom labeling the target nucleic acid with a flight time type secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS).例文帳に追加

プローブ担体に試料を反応させた測定用試料に形成された核酸プローブと標的核酸とのハイブリッド体の形成の有無を、標的核酸に標識したハロゲン原子を飛行時間型二次イオン質量分析法（ＴＯＦ−ＳＩＭＳ）によって測定することにより検出する。 - 特許庁