「"ささぐ"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

走査探針顕微鏡用プローブ例文帳に追加

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD - 特許庁

恰も青年の如く熱烈なる愛を捧ぐ例文帳に追加

He loves as ardently as if he were a youth―with all the ardour of youth.  - 斎藤和英大辞典

走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING THE SAME - 特許庁

高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針例文帳に追加

HIGH-FREQUENCY OSCILLATION PROBE FOR HIGH-SPEED SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

超音波センサ、探傷検査装置及び方法例文帳に追加

ULTRASONIC SENSOR, AND FLAW DETECTION INSPECTING APPARATUS AND METHOD - 特許庁

走査探針顕微鏡および試料観察方法例文帳に追加

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR OBSERVATING SAMPLE - 特許庁

検査探針装置及びこれを用いた検査用ソケット例文帳に追加

INSPECTION PROBE DEVICE, AND SOCKET FOR INSPECTION USING THE SAME - 特許庁

音叉−走査探針結合振動計例文帳に追加

VIBRATION METER COMBINING TUNING FORK AND SCANNING PROBE - 特許庁

センサ（探触子）の最小送りピッチは０．０５ｍｍである。例文帳に追加

The minimum feed pitch of the sensor (probe) is 0.05mm. - 特許庁

交流電圧を印加されて振動する音叉と、音叉の一側に接着されて、音叉によって振動する走査探針と、走査探針の側面に接触するが、走査探針との接触点の位置を調整して、音叉−走査探針結合振動計の固有振動数を変化させる接触部材と、を含む音叉−走査探針結合振動計を提供する。例文帳に追加

The tuning fork-scanning probe combined vibration meter includes a tuning fork vibrated by application of an AC voltage; the scanning probe adhered to a negative side of the tuning fork and vibrated by the tuning fork; and a contact member coming into contact with a side of the scanning probe and changing a natural frequency of the tuning fork-scanning probe combined vibration meter by adjusting a position of a contact point with the scanning probe. - 特許庁

走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法例文帳に追加

METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁

振動走査探針の走査速度を改善して、迅速な試料の観測を可能とし、特に、移動する物体の観測も行い得る高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a high-frequency oscillation probe for a high-speed scanning probe microscope that permits a quick observation of a sample and, especially, an observation of a moving object by improving the scanning speed of an oscillation scanning probe. - 特許庁

宣伝には日本語で『聖将東郷元帥永久の思ひ出にシガーロス「元帥」を日本の皆様に捧ぐ』と書かれていた。例文帳に追加

The Japanese words used in the advertisement read "Cigarros 'Gensui' is dedicated to Japanese people for the eternal memory of Fleet Admiral Togo."  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

笹口番所の裏道から阿波国に入り、讃岐国琴平の旅籠に泊まっていたところ、関所破りで捕まる。例文帳に追加

They went to Awa Province through a back road at the Sasaguchi bansho (guard house) and were staying at hatago (inn with meals) in Konpira, Sanuki Province when they got caught for sekisho yaburi (breaking through or sneaking past a barrier).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

走査型走査探針顕微鏡においてパラメータとしてのＱ／ωを設計事項に取り入れてプローブの共振のＱ値を小さくする。例文帳に追加

To reduce a Q value of resonance of a probe by taking Q/ω as a parameter into a design item in a scanning-type scanning probe microscope. - 特許庁

スキャナーの整列誤差に起因するイメージの歪曲が防止された走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope for preventing an image from being distorted due to an alignment error of a scanner, and a measurement method utilizing it. - 特許庁

木山寺（真庭市）、西大寺(岡山市寺院)（岡山市）、極楽寺（廿日市市）、国分寺（下関市、防府市）、立江寺(小松島市)（小松島市）、薬王寺(美波町)（美波町）、鶴林寺(勝浦町)（勝浦町）、三角寺（四国中央市）、南蔵院（福岡県篠栗町）、呑山観音寺（福岡県篠栗町）例文帳に追加

Kiyama-ji Temple (in Maniwa City), Saidai-ji Temple (in Okayama City), Gokuraku-ji Temple (in Hatsukaichi City), Kokubun-ji Temple (in Shimonoseki City, in Hofu City), Tatsue-ji Temple (in Komatsushima City), Yakuo-ji Temple (in Minami-cho), Kakurin-ji Temple (in Katsuura-cho), Sankaku-ji Temple (in Shikokuchuo City), Nanzo-in Temple (in Sasaguri-machi, Fukuoka Prefecture), Nomiyama Kannon-ji Temple (in Sasaguri-machi, Fukuoka Prefecture)  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

長澤まさみと岡田将生はどちらも｢世界の中心で，愛をさけぶ｣や｢僕の初恋をキミに捧(ささ)ぐ｣などの悲劇的なラブストーリーで主役を演じている。例文帳に追加

Nagasawa Masami and Okada Masaki have both played leading roles in tragic love stories like "Crying Out Love in the Center of the World" and "I Give My First Love to You." - 浜島書店 Catch a Wave

走査探針（６）と保持部材（２）の所定の基準点（９）との間の距離（１２）は一定であり、そのため走査プローブ（１）を交換した際に走査プローブ（１）の縦方向の位置決めが不要となる。例文帳に追加

Distances (12) of the scanning needle (6) and the holding part (2) from a prescribed reference point (9) are constant, thereby eliminating the need to vertically position the scanning probe (1) when exchanging the scanning probe (1). - 特許庁

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。例文帳に追加

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon. - 特許庁

迅速、簡単に交換でき、極小カンチレバーの長さによらず走査探針がサンプルに高い再現性で自動的に位置合わせされるように走査プローブの高精度の自動位置決めを可能にする走査プローブを提供する。例文帳に追加

To provide a scanning probe which can be exchanged quickly and easily and enables its scanning needle to be automatically positioned to a sample with high repeatability regardless of the length of a minute cantilever, in order to realize a high-precision automatic positioning of the scanning probe. - 特許庁

被検体が厚板や高減衰材等の場合にも、十分な感度で探傷でき、状況に応じて振動子開口幅を可変にすることも、走査探傷も可能で、且つ不要なエコーの発生の少ない超音波探傷方法およびその装置。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for ultrasonically detecting a flaw capable of detecting the flaw with sufficient sensitivity, detecting with a variable opening width in response to a status, scanning to detect the flaw by generating a small unnecessary echo. - 特許庁

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）に用いられる探針ティップを製造する方法において、（１１１）一般シリコンウェーハをパターニングし、両側壁に保護膜が形成されている三角柱を形成する段階と、前記シリコンウェーハをエッチングし、前記三角柱を三角錐状の探針ティップに形成する段階と、前記保護膜を取り除く段階と、を含む探針ティップの製造方法を提供する。例文帳に追加

The method for fabricating a probe tip for use in the scanning probe microscope includes steps of forming a triangular prism formed with protective films on both sidewalls by patterning a (111) general silicon wafer; etching the silicon wafer to make the triangular prism into a probe tip of triangular pyramid shape; and removing the protective films. - 特許庁