「"testing terminal"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TESTING TERMINAL OF CHIP TYPE ELECTRONIC PART AND TESTING METHOD AND TESTING DEVICE USING IT例文帳に追加

チップ型電子部品の検査端子とそれを用いた検査方法および検査装置 - 特許庁

A signal delay part 24 is arranged on a communication passage of the CPU 10 and the trial shoot testing terminal 22 for transferring a control data signal outputted from the CPU 10 to the trial shoot testing terminal 22 by delaying by a prescribed time.例文帳に追加

ＣＰＵ１０と試射試験用端子２２との通信経路上には、ＣＰＵ１０から出力される制御データ信号を所定時間遅延させて試射試験用端子２２に転送する信号遅延部２４が設けられている。 - 特許庁

To provide a control device of a game machine capable of stably delaying and outputting a signal to a trial shoot testing terminal.例文帳に追加

試射試験用端子に信号を安定して遅延出力させることのできる遊技機の制御装置を提供する。 - 特許庁

An adjustment value s of spatial resolution and an adjustment value z of time resolution are output to a testing terminal 17 without restriction.例文帳に追加

検査用端子１７には、空間解像度の調整値ｓ及び時間解像度の調整値ｚが垂れ流し的に出力されている。 - 特許庁

The electronic equipment is provided with a rear case 61, the circuit board 101 housed inside the rear case 61, and a testing terminal 102 disposed on a substrate, wherein the rear case 61 has an opening forming part 106 for forming an opening 109 at a part in the rear case 61, facing the testing terminal 102.例文帳に追加

リアケース６１と、リアケース６１の内部に収納された回路基板１０１と、基板に配設された試験用端子１０２とを備え、リアケース６１は、リアケース６１における試験用端子１０２に対向する部位に、開口部１０９を形成する開口形成部１０６を有する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit capable of testing a first frequency dividing circuit and a second frequency dividing circuit respectively without adding newly a testing terminal.例文帳に追加

新たなテスト用端子を付加することなく第１の分周回路と第２の分周回路のそれぞれをテストできる集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an acceptance-testing terminal device, an acceptance test support system, and a program, allowing an easy acceptance test of a component incorporated in a commodity.例文帳に追加

商品に組み込まれた部品を容易に検収することができる検収用端末装置、検収支援システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal device, etc. in which corrosion resistance, etc. of a testing terminal for testing goodness/badness of a display panel and a connection terminal can be improved.例文帳に追加

表示パネルの良否を検査する検査用端子、及び接続用端子の耐食性等の向上を図ることが可能な液晶装置等を提供する。 - 特許庁

A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.例文帳に追加

基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁

To provide a game machine and its inspection method for making accurate inspection by acquiring correct inspection information in a testing terminal in inspecting the game machine.例文帳に追加

遊技機の検査の際に、試験端子に正確な検査情報を得ることができ、正確な検査ができる遊技機およびその検査方法の提供。 - 特許庁

A display control device 102 of the game machine being one example of this invention has a CPU 10, and the trial shoot testing terminal 22 of a third person inspection institute.例文帳に追加

本発明の一例である遊技機の表示制御装置１０２は、ＣＰＵ１０と、第三者検査機関の試射試験用端子２２とを備える。 - 特許庁

A pattern control part 4 acquires command data from a main control part 1 to control an image displayed on a display, and outputs the acquired command data to the testing terminal 5.例文帳に追加

図柄制御部４は、主制御部１からのコマンドデータを取得して表示器に表示される画像の制御を行うとともに、その取得したコマンドデータを試験端子５に出力する。 - 特許庁

A mounting terminal 92 connected with another semiconductor apparatus is formed on one side of a substrate 81, and a testing terminal 103 is formed on the substrate 81 of the side opposite to the side on which the mounting terminal 92 is located.例文帳に追加

他の半導体装置と接続される実装用端子９２を基板８１の一方の側に設け、実装用端子９２が設けられた側とは反対側の基板８１にテスト用端子１０３を配設した。 - 特許庁

An acquiring device 27 acquires the final adjustment value in series of adjustment of the adjustment values s and z, from the adjustment values s and z which are output to the testing terminal 17 and sends them to a storing device 29.例文帳に追加

取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device allowing suppression of influence imparted to an inspection result of a function of an internal circuit even if variation is present in a resistance value of an internal resistance while sharing a testing terminal with another terminal.例文帳に追加

本発明は、テスト用端子を他の端子と共用しつつ、内部抵抗の抵抗値にばらつきがあっても、内部回路の機能の検査結果に与える影響を抑えることができる、半導体装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a testing terminal for chip type electronic part capable of precisely measuring characteristic without exposing an internal electrode layer constituting the outer electrode of a chip type electronic part, and a testing method and testing device using it.例文帳に追加

チップ型電子部品の外部電極を構成する内部の電極層を露出させることなく、正確に特性を測定することができるチップ型電子部品の検査端子と、それを用いた検査方法および検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a voltage testing plug that can prevent temporary blackout in the event of measuring a voltage even when the plug is inserted into or pulled out from a voltage testing terminal of an electric device and can prevent an interphase short circuit even when a tester is connected in the event of testing the electric device.例文帳に追加

電気装置の電圧試験ターミナルに抜き差ししても、電圧測定のときには瞬断を防止でき、電気装置を試験するときには試験器を接続していても相間短絡を防止できる電圧試験プラグを提供することである。 - 特許庁

When a person in charge of a building site operates an input part 52 of the acceptance-testing terminal device 5 to perform reading operation of the IC tag, the control part 51 reads data recorded in the IC tag embedded in the building member used in a building.例文帳に追加

建築現場の担当者が検収用端末装置５の入力部５２を操作してＩＣタグの読み取り操作を行うと、制御部５１は、建築物に使用された建築部材に埋め込まれたＩＣタグに記録されたデータを読み取る。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a terminal resistance circuit capable of stabilizing the level of an input-output terminal at the input mode time, even when the input/output terminal unconnected to a testing terminal of an LSI tester exists, and reducing the through-current at the output mode time.例文帳に追加

ＬＳＩテスターのテスト用端子に接続されていない入出力端子が存在する場合であっても、入力モード時における、その入出力端子のレベルが安定し、出力モード時の貫通電流を低減させることができる終端抵抗回路を提供する。 - 特許庁

A comparative determining part 6 stores the command data supplied from the main control part 1 to the pattern control part 4, compares the stored command data with command data outputted to the testing terminal 5 from the pattern control part 4, and when both data are discordant, outputs a retransmission request signal for requesting the retransmission of the same command data, to the main control part 1.例文帳に追加

比較判定部６は、主制御部１から図柄制御部４に供給されるコマンドデータを記憶するとともに、この記憶するコマンドデータと、図柄制御部４から試験端子５に出力されるコマンドデータとを比較し、その両者が不一致の場合に、その同一のコマンドデータの再送を要求する再送要求信号を、主制御部１に対して出力する。 - 特許庁