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「マーク線」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > マーク線に関連した英語例文

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マーク線の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 905



例文

マークバンド例文帳に追加

MARK BAND FOR WIRING - 特許庁

ポリマークラッド光ファイバ心例文帳に追加

COATED POLYMER CLAD OPTICAL FIBER - 特許庁

マークチューブ保持具例文帳に追加

WIRING MARK TUBE RETAINER - 特許庁

手相及びマークシール例文帳に追加

PALM LINE AND MARK SEAL - 特許庁

例文

ポリマークラッド光ファイバ心例文帳に追加

POLYMER CLAD COATED OPTICAL FIBER - 特許庁


例文

レングスマーク付電・ケーブル例文帳に追加

ELECTRIC WIRE OR CABLE WITH LENGTH MARK - 特許庁

指示マークおよびそのマーキング装置ならびに電指示マークが装着された電例文帳に追加

ELECTRIC WIRE INDICATION MARK, MARKING DEVICE, AND ELECTRIC WIRE INDICATED WITH ELECTRIC WIRE INDICATION MARK - 特許庁

交差するマークする、または交差するから成る例文帳に追加

mark with or consist of a pattern of crossed lines  - 日本語WordNet

電気毛布などに配するマーク付き導電例文帳に追加

CONDUCTIVE WIRE FITTED WITH MARK FOR WIRING ELECTRIC BLANKET, AND THE LIKE - 特許庁

例文

マーク欄をチェックする際に書き込む記入マークの形状を、走査方向に対して傾きをもつ分を含むマークと、チェック後に記入マークを取り消す取消マークの形状を、前記走査方向に対して傾きをもつ分を前記記入マークの形状に付加したマークと定義する。例文帳に追加

A shape to be filled in checking the mark column and the shape of deletion mark deleting the filled mark after the checking are defined as a mark which includes a segment having an inclination to a scanning direction and a mark formed, by adding a segment having an inclination in the scanning direction to the shape of the filled mark, respectively. - 特許庁

例文

多層配プロセス用転写マーク構造および多層配プロセス用転写マーク作成方法例文帳に追加

TRANSFER MARK STRUCTURE FOR MULTILAYERED WIRING PROCESS AND FORMATION OF TRANSFER MARK FOR MULTILAYERED WIRING PROCESS - 特許庁

転写倍率に誤差が生じていなければ、直マークA1と直マークB1との間の中心L1と直マークA2と直マークA3との間の中心L2とが重なり合う。例文帳に追加

If no error occurs in a transfer magnification, a center line L1 between a straight mark A1 and a straight mark B1 overlaps a center line L2 between a straight mark A2 and a straight mark A3. - 特許庁

傾斜マークkは、ターゲットマークtに対して傾斜したように見える状のマークとされている。例文帳に追加

A linear mark that looks as if it is inclined relative to the target mark is used as the inclined mark k. - 特許庁

レーザー光照射装置を備えたマーク用生地の裁断機例文帳に追加

LASER BEAM CUTTER FOR MARKING CLOTH - 特許庁

ターゲットマーク及び荷電粒子露光装置例文帳に追加

TARGET MARK AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS - 特許庁

多層積層板の基準マークのX検出方法例文帳に追加

X-RAY DETECTING METHOD FOR REFERENCE MARK OF MULTILAYER LAMINATED BOARD - 特許庁

熱感知型回転検知マーク付電例文帳に追加

ELECTRIC WIRE WITH HEAT SENSITIVE ROTATION DETECTING MARK - 特許庁

識別用リングマーク印刷装置例文帳に追加

DISCRIMINATION RING MARK PRINTER CONDUCTOR - 特許庁

金属配工程用アライメントマーク例文帳に追加

ALIGNMENT MARK FOR METAL WIRING PROCESS - 特許庁

放射透過検査用フィルムマークの表示方法例文帳に追加

DISPLAY METHOD OF FILM MARK FOR RADIATION TRANSMISSION INSPECTION - 特許庁

距離表示マーク付きプリント配基板例文帳に追加

PRINTED WIRING BOARD HAVING DISTANCE DISPLAY MARK - 特許庁

アライメントマーク、レチクル及び荷電粒子露光装置例文帳に追加

ALIGNMENT MARK, RETICLE, AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM - 特許庁

マークチューブ取付構造例文帳に追加

FITTING STRUCTURE OF MARK TUBE FOR ELECTRIC WIRE - 特許庁

エックス写真に容易にマークを入れるための補助具例文帳に追加

AID FOR EASILY PUTTING MARK TO X-RAY PHOTOGRAPH - 特許庁

黒色マークは、赤外非透過性である。例文帳に追加

The black mark does not pass infrared rays. - 特許庁

識別用リングマーク印刷装置例文帳に追加

ELECTRIC WIRE IDENTIFYING RING MARK PRINTING DEVICE - 特許庁

位置ずれ検出用のマークは、横または斜の1本の分である。例文帳に追加

A mark for detecting misregistration is a segment of a horizontal or oblique line. - 特許庁

本発明は、ハイパーテキストマークアップ言語(HTML)等の第1のマークアップ言語で書かれたオリジナル電子文書を、無アプリケーションプロトコル(WAP)の無マークアップ言語(WML)等の第2の無マークアップ言語に変換する。例文帳に追加

The text document elements and non-text document elements (e.g. images) of the original electronic document are converted into a format suitable to a 2nd markup language from a format suitable to the 1st markup language. - 特許庁

環境への負荷の低減化が図られた電指示マーク、およびそのマーキング装置、ならびに電指示マークが装着された電を提供する。例文帳に追加

To provide an electric wire indication mark, a marking device, and an electric wire indicated with the electric wire indication mark, each reducing a load to environment. - 特許庁

θが0でなく(a)に示すように、凸マーク2、凹マーク3と4が傾いている場合、凸マーク2の方が先に電子ビーム1の照射を受け、凹マーク3が遅れて電子ビーム1の照射を受ける。例文帳に追加

When θ is not zero and the projecting mark 2, the recessed mark 3 and the line 4 are inclined as shown in (a), the projecting mark 2 is irradiated with the electron beam 1 first, and the recessed mark 3 is irradiated with the electron beam 1 later. - 特許庁

トラッキングマークP1が偶数トラックの延長上に形成され、トラッキングマークP2が奇数トラックの延長上に形成されている。例文帳に追加

A tracking mark P1 is formed on extension lines of even tracks, and a tracking mark P2 is formed on extension lines of odd tracks. - 特許庁

十字マークJの縦と横のそれぞれが目盛りマークMのどの数値を通るかによって、斜視の定量的測定を行う。例文帳に追加

A quantitative measurement of squint is made by determining which each of the vertical and horizontal lines of the cross mark J passes, among values of the mark M. - 特許庁

照射装置1により下側からXを基板マーク7に照射し、該基板マーク7を蛍光板3上に投影する。例文帳に追加

A substrate mark 7 is irradiated with an X-ray from below by an X-ray irradiation device 1, thereby projecting the substrate mark 7 onto a fluorescent board 3. - 特許庁

ワークマークとマスクマークが境界上で重なって適正に両マークが認識できない場合でも対応でき、また、ワークマークまたはマスクマークを大径に形成しなくても対応できるワークとマスクの整合機構および整合方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a mechanism and a method for matching work with mask capable of dealing with such a case that a work mark and a mask mark overlap each other on a border line and both the marks can not be properly recognized, even without forming the work mark or mask mark of a large diameter. - 特許庁

マークアップ言語ページのナビゲート方法、ブラウザおよび無通信装置例文帳に追加

NAVIGATION METHOD FOR MARKUP LANGUAGE PAGE, BROWSER, AND WIRELESS COMMUNICATION DEVICE - 特許庁

多層配基板における露光位置合わせ用マークの形成方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING MARK FOR EXPOSURE ALIGNMENT ON MULTILAYER WIRING BOARD - 特許庁

マークアップ言語を使用する有無通信システムにおける認証方法例文帳に追加

AUTHENTICATION METHOD IN WIRE/WIRELESS COMMUNICATION SYSTEM USING MARKUP LANGUAGE - 特許庁

マーク検出方法、電子装置及び半導体デバイス製造方法例文帳に追加

METHOD FOR DETECTING MARK AND MANUFACTURE OF ELECTRON BEAM DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

電子描画方法およびその装置並びにマーク記録方法例文帳に追加

ELECTRON BEAM LITHOGRAPHIC METHOD AND MACHINE, AND MARK RECORDING METHOD - 特許庁

可撓配基板の電子部品搭載用位置決めマークの形成構造例文帳に追加

FORMATION STRUCTURE OF POSITIONING MARK FOR MOUNTING ELECTRONIC COMPONENT ON FLEXIBLE WIRING BOARD - 特許庁

のリングマークの印刷位置を、時間と手間をかけずに変更する。例文帳に追加

To change the printing position of an electric wire ring mark without taking time and labor. - 特許庁

路面区画マーク認識装置および車逸脱防止装置例文帳に追加

ROAD SURFACE DIVISION MARK RECOGNIZING APPARATUS AND LANE DEPARTURE PREVENTING APPARATUS - 特許庁

合金化溶融亜鉛めっき鋼板のマーク防止方法例文帳に追加

LINEAR MARK PREVENTION METHOD IN HOT DIP GALVANNEALED STEEL SHEET - 特許庁

溶着地金に起因するマークの発生をなくすることができる。例文帳に追加

A linear mark caused by the welding scull can be eliminated. - 特許庁

荷電粒子露光装置における位置合わせ用マークの検出方法例文帳に追加

METHOD FOR DETECTING MARK FOR ALIGNMENT IN CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM - 特許庁

最後にアライメントマーク パターンがメタル配層に形成される。例文帳に追加

Finally, an alignment mark pattern is formed in the metallic wiring layer. - 特許庁

マーク検出部は、自車両が走行している車の右側の車マーク及び左側の車マークを特定し、特定道路標示存在判定部は、特定の道路標示の位置が右側の車マークの位置と左側の車マークの位置の間であるとき、自車両が特定の車を走行していると判定する。例文帳に追加

The lane mark detection unit identifies a right-side lane mark and a left-side lane mark relative to the lane on which the own vehicle travels, and the specific traffic sign presence unit determines that the own vehicle travels on the specific lane when a position of the specific traffic sign is located between a position of the right-side lane mark and a position of the left-side lane mark. - 特許庁

基板11の異なる層に形成された第1マークと第2マークの画像を取り込む手段26と、第1マークの第1直部から生成した第1信号波形と、第2マークの第2直部から生成した第2信号波形とを用いて、第1マークと第2マークとの重ね合わせずれ量を求める手段27とを備える。例文帳に追加

The superposition measuring device comprises a means 26 for taking in the images of first and second marks put on different layers of a substrate 11; and a means 27 for determining the gap of superposition of the first and second marks by using a first signal waveform generated from the first linear portion of the first mark, and a second signal waveform generated from the second linear portion of the second mark. - 特許庁

位置測定装置、標位置測定用プログラム、および標マーク例文帳に追加

REFERENCE LINE POSITION MEASURING INSTRUMENT, PROGRAM FOR REFERENCE LINE POSITION MEASUREMENT, AND REFERENCE LINE MARK - 特許庁

例文

この結果、中心L1が中心L2よりも直マークB1側に位置するようになる。例文帳に追加

As a result, the center line L1 is closer to the straight mark B1 than the center line L2. - 特許庁

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