「マーク線」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

ランドマーク／付属情報プロット手段１２は、デジタルマップ上のその座標位置にランドマークをプロットし、更にランドマークから所定の引き出し線を引き出し、そこに付属情報（物件名と頁番号）をプロットして、マッピングデータを作成する。例文帳に追加

A landmark/accessory information plotting means 12 plots the landmark at the coordinate position on the digital map, draws out a prescribed drawing line from the landmark, plots the accessory information (the property name and the page number) and creates mapping data. - 特許庁

ガイド穴を穿孔する際には、Ｘ線撮像装置４ａ，４ｂを用いて、サブプレート１４に形成されている基準位置マーク１５ａ，１５ｂを撮像し、この撮像された基準位置マーク１５ａ，１５ｂを画像処理することにより、２つの基準位置マーク１５ａ，１５ｂ間の距離を演算する。例文帳に追加

When the guide hole is bored, images of reference position marks 15a and 15b formed on the subplate 14 are picked up by X-ray image pickup devices 4a and 4b are processed to compute the distance between the two reference position marks 15a and 15b. - 特許庁

Ｗｅｂブラウザ２０は、ブックマーク記憶部１９に登録されているブックマークのリストを表示し、リスト上でユーザから選択されたブックマークのＵＲＬのＷｅｂページに、通信制御部１７、無線通信装置１３、インターネット２を介してアクセスし、当該Ｗｅｂページを表示装置１２に表示する。例文帳に追加

A Web browser 20 displays a list of bookmarks registered in the bookmark storage part 19 and accesses the Web page of the URL of the bookmark selected from the list by the user via a communication part 17, a radio communication device 13, and the Internet 2 to display the Web page on a display device 12. - 特許庁

そして、それらのマーク２０、２２から、そのマーク内側にプリントされた絵図又は／及び文字の位置、種類、大きさ、上下左右方向のデータを読み取って、それらのデータに基づき、そのマーク２０、２２内側にプリントされた絵図又は／及び文字を所望のカット線１２に沿ってカットする。例文帳に追加

Data on the position, kind, size, and vertical and horizontal directions of the pattern and/or the character printed inside the marks are read from the marks 20 and 22; and the patterns and/or the characters printed inside the marks 20 and 22 are cut along the desired cut line 12, on the basis of the data. - 特許庁

入力装置１１１により地図上のランドマークである駅４０１を指定した場合、駅４０１が含まれる路線上の他の駅など、駅４０１と関連するランドマークを一覧にしたランドマークメニュー４０２が地図に重ねて表示される。例文帳に追加

When a station 401 that is a landmark on a map is designated by an input device 111, a landmark menu 402 listing landmarks related to the station 401 such as other stations on a route including the station 401 are superimposed on the map. - 特許庁

レーザ加工により形成された認識マークの下層に位置する導体層が認識マークから露出することがないとともにレーザ加工により形成された認識マークとその周りとのコントラストを良好として認識マークを読み取りミスなく読み取ることが可能な配線基板を提供すること。例文帳に追加

To provide a wiring board where a conductive layer positioned in the lower layer of a recognition mark formed by laser processing is not exposed from the recognition mark and also where a contrast between the recognition mark formed by laser processing and the circumference of the mark is made to be superior thereby to read the recognition mark without erroneous reading. - 特許庁

セラミックグリーンブロック２７にＸ線３８を照射して得た内部電極パターンの画像データに基づいて、基準マーク形成予定位置を求め、この基準マーク形成予定位置に基準マークを形成し、基準マークに基づいて、セラミックグリーンブロック２７に対して切断加工を行なうようにする。例文帳に追加

A position where a reference mark is to be formed is found based on the image data of the internal electrode pattern obtained by irradiating the X ray 38 to the ceramic green block 27, the reference mark is formed at the position where the reference mark is to be formed, and the ceramic green block 27 is cut based on the reference mark. - 特許庁

このようにレングスマークの間に等間隔に補助マーク設けることによって、レングスマークが一瞥で特定できない場合でも、一度電線・ケーブルをねじることにより、また、トリプレックス形ケーブルの場合は撚り合わせてあるケーブルの撚りを開くことにより、レングスマークの施されている面を容易に確認することができる。例文帳に追加

Accordingly, by providing the auxiliary marks between the length marks with the same intervals, twisting the electric wire or cable once or opening the strand of the triplex cable makes it possible to easily confirm the surface where the length marks are provided even if the length marks cannot be recognized at a glance. - 特許庁

配線基板１上に形成された半導体チップ６を覆う封止部１０を有する半導体装置１００であって、封止部１０の上面に形成された第１のマーク１１と、第１のマーク１１の形成領域内に第１のマーク１１よりも小さく形成された第２のマーク１２とを有する。例文帳に追加

The semiconductor device 100 has a sealing portion 10 to cover a semmiconductor chip 6 formed on a wiring board 1, and also has a first mark 11 formed on the upper surface of the sealing portion 10 and a second mark 12, smaller in size than the first mark 11, formed in the formation region of the first mark 11. - 特許庁

第１パルスは、記録マークおよびスペースのうち記録マークの中央部分を形成し、第２パルスは、記録マークおよびスペースのうち記録マークの中央部分とは異なる部分を形成し、パルス列を生成するステップは、線速度と第２パルスのパワーレベルとに応じて第１パルスのパワーレベルを決定するステップを包含する。例文帳に追加

The first pulse forms a central portion of the recording mark among the recording mark and the space, the second pulse forms a portion other than the central portion of the recording mark among the recording mark and the space, and the step of generating the pulse train includes a step of determining power level of the first pulse in accordance with the linear velocity and a power level of the second pulse. - 特許庁

通信手段を介して受信した上記マーク付き文書特定シートのマーク画像をデコード手段によりデコードして文書ＩＤを取得し、この文書ＩＤに対応する画像データを折り返しファクシミリ回線から送信する画像情報処理装置において、上記デコード手段７が、上記マーク画像のデコードを上記マーク付き文書特定シートの受信中に行うことを特徴としている。例文帳に追加

In this image information processor for obtaining a document ID by decoding the mark image of the marked document specifying sheet received through a communication means by a decoding means and transmitting the image data corresponding to the document ID from a facsimile line by return, the decoding means 7 decodes the mark image during the reception of the marked document specifying sheet. - 特許庁

眼鏡用のレンズＬは、基準線を示すように直線的に連続または断続的に設けられた基準マーク４０を有する。例文帳に追加

The spectacle lens L has a reference mark 40, linearly provided continuously or intermittently, to show a reference line. - 特許庁

各楔マークの第１の線分に対する第２の線分の傾斜角度はそれぞれ対応する画像形成部に固有の角度に設定される。例文帳に追加

The tilt angles of the 2nd line segments to the 1st line segments of the respective wedge marks are respectively set to angles characteristic of the corresponding image forming parts. - 特許庁

常温域で遠赤外線を放射する熱転写マークにより、衣類などの着用者に対して局部的に遠赤外線効果を付与する。例文帳に追加

To partially impart a far infrared effect to a wearer of clothes or the like with a heat-transferable mark radiating far infrared rays at a normal temperature. - 特許庁

また、識別マークを、電線外周に等間隔の位置で付与することで、どの方向からでも容易に電線を識別することができる。例文帳に追加

By applying the discrimination marks to the outer circumference of the electric wire at equal intervals, the electric wire is easily discriminated even from any direction. - 特許庁

このマークＭＫ１は、集積回路形成領域の最上層配線（第３層配線Ｌ３）と同層で形成されている。例文帳に追加

The mark MK1 is formed on the same layer as upper-most layer wiring (third-layer wiring L3) in an integrated circuit forming area. - 特許庁

荷電粒子線用標準マーク、それを有する荷電粒子線露光装置及び半導体デバイス製造方法例文帳に追加

STANDARD MARK FOR CHARGED PARTICLE BEAM, AND MANUFACTURE OF CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING THE STANDARD MARK - 特許庁

ファクシミリ装置１において、送信原稿６１の無線タグ６２には、ウォーターマークデータを含む無線タグデータが書き込まれている。例文帳に追加

In a facsimile machine 1, radio tag data including watermark data are previously written into a radio tag 62 of a transmission original document 61. - 特許庁

認識マークの認識性の低下を抑制することのできる配線基板、半導体装置及び配線基板の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a wiring board, a semiconductor device and a wiring board manufacturing method capable of suppressing the recognition degradation of a recognition mark. - 特許庁

マーク１は、破線又は点線２、或いは透明フィルム１１に穿設した小孔でも形成することができる。例文帳に追加

The mark 1 can be formed by broken lines or dotted lines 2 or small holes formed to the transparent film 11. - 特許庁

フレキシブルプリント配線板２の補強板６上に、マークである白線９を幅方向に沿ってシルク印刷する。例文帳に追加

A mark, a white line 9, is silk-printed a width direction on a reinforced plate 6 of a flexible printed-wiring board 2. - 特許庁

第２プリント配線基板２５には第２プリント配線基板２５の縁２５ａで途切れる第２認識マーク３３が描かれる。例文帳に追加

A second recognition mark 33 cut at an edge 25a of the second printed-wiring assembly 25 is marked on the second printed-wiring assembly 25. - 特許庁

ビデオカメラ６で標線マークＭ１を撮影し、コンピュータ８により標線位置を算出する。例文帳に追加

The line mark M1 is photographed with the video camera 6 to calculate the position of the reference line by using a computer 8. - 特許庁

分断線表示マーク２５を基準にして、カッタにより第２被覆層２１に分断線３３を形成する。例文帳に追加

A cutting line 33 is formed on the second coating layer 21 with a cutter by using the cutting line indication mark 25 as a reference. - 特許庁

ここで、基板側アライメントマークは、電気光学パネルに形成される配線内部、配線と同時に形成される。例文帳に追加

The alignment marks on the substrate side are formed inside the interconnections formed in the electro-optical panel at the same time with the interconnections. - 特許庁

ステップＳＴ５７６ではステップＳＴ５７５で選択された信号線を正当化するのに関係のある信号線がマークされる。例文帳に追加

In the step ST576, signal lines related to justification of a signal line selected in the ST 575 are marked. - 特許庁

位置決めマーク５は凹状の溝状に形成されており、Ｖ溝３ａ形成面の法線方向に見て平行２直線に視認される。例文帳に追加

The positioning mark 5 is formed in a concave groove-shape, and is viewed as two parallel lines when seen in the normal line direction of the surface where the V-groove 3a is formed. - 特許庁

無線通信装置の高さを低くすると共に見やすい１番ピン・マークを低コストで実現し得る無線通信装置を提供する。例文帳に追加

To provide radio communication equipment whose height is made low and in which the first pin mark that is easy to look at can be realized at low cost. - 特許庁

また、マーキングライト１６１は、前記直線に直交する線分に対して非対称となる形状の位置決めマーク１６ｅを映すようになっている。例文帳に追加

The marking light 161 reflects a positioning mark 16e which is asymmetrical with respect to a line perpendicular to the straight line. - 特許庁

多層プリント配線板の内層に配置された３個以上のガイドマークを観測して、各ガイドマークの位置の狂いを反映した基準穴座標を求める。例文帳に追加

To obtain the reference hole coordinates reflecting position errors of each of guide marks by observing three or more guide marks disposed on an inner layer of a multilayer printed wiring board. - 特許庁

本発明の配線基板１１は、電子部品４１が搭載可能な複数の銅パッド２３と、位置合わせ用の銅マーク２４と、銅マーク２４上に直接形成された無電解金めっき層２６とを備えている。例文帳に追加

The wiring board 11 is provided with a plurality of copper pads 23 mountable with electronic components 41, copper marks 24 for alignment, and the electroless gold plating layers 26 formed directly on the copper marks 24. - 特許庁

ベルト部材に設けられる複数のマークを光学的に検出する場合に、そのベルト部材が表面法線方向に変位してもマーク検出誤差を小さくすることである。例文帳に追加

To make a mark detection error small even if a belt member is displaced in a surface normal direction when a plurality of marks provided to the belt member are optically detected. - 特許庁

ホルダ１０は、赤外線検出器５によって識別することができる基準マークを有し、基準マークは、回転台２の回転によって半導体ウエハ１と同じ軌跡上を移動する。例文帳に追加

The holder 10 has a reference mark which can be discriminated by the infrared detector 5, and the reference mark is moved on the same locus with the semiconductor wafer 1 by the rotation of the rotary base 2. - 特許庁

データマーク３３の有無は、その左右の端部のタイミングマーク３２Ｌと３２Ｒの中心を結んだ直線上の位置を基準にして、その有無が判定される。例文帳に追加

The existence/absence of the data mark 33 is judged with the position on a straight line obtained by connecting the centers of the marks 32L and 32R at its left and right edges as a reference. - 特許庁

イエロー用紫外線ランプ２０ａ，２０ｂは、同じマークを有する同じ種類のものが用いられ、マーク３０，３１が互い違いとなるように交互に並べられている。例文帳に追加

Yellow ultraviolet lamps 20a and 20b of the same kind having the same mark are used and alternately arranged so that their marks 30 and 31 are alternately positioned. - 特許庁

金属マーク部２０２は、金属材料をエピタキシャル成長させることにより形成されるため、金属マーク部２０２の線幅を、微細に構成することが可能である。例文帳に追加

The metal mark section 202 formed with metal material epitaxial grown is capable of forming its line width fine. - 特許庁

そして、凹部３０ｂでは、配線パターン２１の上面の全てが認識マーク２１ａとして露出されるとともに、認識マーク２１ａ以外の部分にはソルダレジスト層３１が形成されている。例文帳に追加

At the recess 30b, the entire top face of the wiring pattern 21 is exposed as the recognition mark 21a, while the solder resist layer 31 is formed on the other portion than the recognition mark 21a. - 特許庁

アライメントマークの溝１０５の部分で、その表面にマークである溝ができるように、層間絶縁膜１０４の上に配線膜１０７を形成する。例文帳に追加

A wiring layer 107 is formed on the inter-layer insulating film 104 so that a groove as a mark can be formed on the surface of the wiring film 107 in the section of the mark 105 of the alignment mark. - 特許庁

電子部品の搭載性を確保するために識別マークの形状自由度が低い中で配線基板における識別マークの形状自由度を増大させる。例文帳に追加

To increase the degree of freedom in the shape of an identification mark of a wiring board for securing mountability of an electronic component although the degree of freedom in the shape of an identification mark is low. - 特許庁

なお、配線面側の位置合わせマークに合わせて、裏面（照射面）側のシリコン酸化膜に位置合わせマークを作成し、これによって位置合わせを行うことも可能である。例文帳に追加

Positioning can be also carried out by forming a positioning mark in a silicon oxide film in a rear (illumination surface) side in accordance with a positioning mark in a wiring surface side. - 特許庁

露光量制御に基づいて、微小な記録マークあるいは半導体素子のパターンをより正確に形成することができるようにした電子線描画方法およびその装置並びにマーク記録方法を提供することにある。例文帳に追加

To provide an electron beam lithographic method and machine, and a mark-recording method, which can form a fine recording mark or a pattern of a semiconductor element more accurately, under the control of a light exposure quantity. - 特許庁

車両とレーンマークとの相対位置の認識が停止する期間を、レーンマーク検出の信頼性の高さを確保した上で短縮した車線認識装置を提供する。例文帳に追加

To provide a lane recognition device that shorten the period in which the recognition of the relative position of the lane mark and the vehicle is stopped, while securing high reliability of lane mark detection. - 特許庁

レングスマークを一瞥して特定できない場合であっても、一度電線・ケーブルをねじる（トリプレックス形の場合は、撚りを開く）だけでレングスマークの施されている面を確認することができるようにする。例文帳に追加

To enable to confirm a surface where a length mark is given by twisting an electric wire or cable only once or opening the strand of a triplex type cable even when the length mark cannot be recognized at a glance. - 特許庁

これら垂直２等分線ｌ１，ｌ２の交点から得られたティーチングマークＭの重心点Ｐ２７をティーチングマークＭの位置として自動教示する。例文帳に追加

The center of gravity P27 of the teaching mark M obtained from the intersection of these perpendicular bisectors 11 and 12 is performed for automatic teaching as the position of the teaching mark M. - 特許庁

少なくとも１つの着色層３８の、第２の直線Ｌ_２に沿って延びるエッジが、いずれかのマーク２８の両端の間でマーク２８上に位置する。例文帳に追加

The edge extending along the second straight line L_2 of at least one colored layer 38 is positioned on the mark 28 between both ends of one mark 28. - 特許庁