例文 (999件) |
半導体粒子の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1649件
半導体電極層3としては、酸化チタンTiO_2の微粒子を焼結させた多孔質層を用いる。例文帳に追加
The porous layer of a sintered titanium oxide TiO_2 fine powder is used as the semiconductor electrode layer 3. - 特許庁
少なくとも重合性成分、半導体超微粒子及び溶媒を含有してなる塗布組成物。例文帳に追加
The coating composition contains at least a polymerizable component, ultrafine semiconductor particles and a solvent. - 特許庁
フッ化アルキル配位子を結合してなる半導体超微粒子、及びこれを含有する薄膜状成形体例文帳に追加
SUPER FINE SEMICONDUCTOR HAVING ALKYL FLUORIDE LIGAND AND THIN-FILM CONTAINING THE SAME - 特許庁
粒子径が均一で樹脂への分散性に優れた半導体装置実装用ペ−ストを提供する。例文帳に追加
To provide a paste for mounting a semiconductor device which has a uniform particle size and exhibits excellent dispersibility to resins. - 特許庁
低電圧粒子ビームを用いた半導体検査用の電圧コントラスト方法及び装置例文帳に追加
VOLTAGE CONTRAST METHOD AND APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR INSPECTION USING LOW VOLTAGE PARTICLE BEAM - 特許庁
半導体ナノ粒子を埋め込んだ絶縁膜を有するエレクトロルミネセンス素子およびその製造方法例文帳に追加
ELECTROLUMINESCENT ELEMENT HAVING INSULATING FILM WITH SEMICONDUCTOR NANO-PARTICLES EMBEDDED, AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁
ポリエチレングリコール修飾半導体微粒子、その製造法及び生物学的診断用材料例文帳に追加
POLYETHYLENE GLYCOL MODIFIED SEMICONDUCTOR FINE PARTICLE, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND MATERIAL FOR BIOLOGICAL DIAGNOSIS - 特許庁
粒子表面の半導体材料が、正孔輸送性材料または電子輸送性材料であると好ましい。例文帳に追加
Semiconductor materials on the particle surfaces are preferably hole transporting materials or electron transporting materials. - 特許庁
荷電粒子ビーム顕微鏡、欠陥検査装置及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE, FLAW INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
光検出器、および半導体ナノ粒子埋め込みSi絶縁膜の製造方法例文帳に追加
PHOTODETECTOR, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR NANOPARTICLE EMBEDDED Si INSULATING FILM - 特許庁
粒度分布、発光強度に優れた半導体ナノ粒子蛍光体の製造方法を提供すること。例文帳に追加
To provide a method for producing semiconductor nanoparticle fluorescent substance excellent in particle size distribution and emission intensity. - 特許庁
反応性ホスフィンオキシド類、及びこれを配位子として有する半導体超微粒子例文帳に追加
REACTIVE PHOSPHINE OXIDES AND SEMICONDUCTOR ULTRAFINE PARTICLE HAVING THE SAME AS LIGAND - 特許庁
均一で微細な粒径を有し、純度の高い13族窒化物半導体ナノ粒子を提供する。例文帳に追加
To provide group 13 nitride semiconductor nanoparticles each having a uniform, fine particle diameter and high purity. - 特許庁
チオシアヌル酸残基を含有する配位子を表面に結合してなる半導体超微粒子。例文帳に追加
The semiconductor ultrafine particle is obtained by bonding a ligand having a thiocyanuric acid residue on the particle surface. - 特許庁
荷電粒子ビーム露光データの補正工程を有する半導体装置の製造方法例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING CORRECTION PROCESS OF CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DATA - 特許庁
不均一反応を用いた低サイズ分布および蛍光性半導体ナノ粒子の低温合成法例文帳に追加
METHOD OF SYNTHESIZING FLUORESCENT SEMICONDUCTOR NANOPARTICLE OF NARROW SIZE DISTRIBUTION AT LOW TEMPERATURE USING HETEROGENEOUS REACTION - 特許庁
芯材粉体及び半導体粒子として、その粒径比(前者/後者)が10〜10^5のものを用いる。例文帳に追加
The employed core powder and semiconductor particle have such a particle diameter ratio (former/latter) as to satisfy 10 to 10^5. - 特許庁
未焼結シリコン粒子膜及び半導体シリコン膜、並びにそれらの製造方法例文帳に追加
NON-SINTERED SILICON PARTICLE FILM, AND SEMICONDUCTOR SILICON FILM, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF - 特許庁
粒子線供給装置およびIII−V化合物半導体を成長する方法例文帳に追加
PARTICLE RAY SUPPLY APPARATUS AND METHOD FOR GROWING GROUP III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR - 特許庁
吸収波長は、半導体超微粒子の粒径によって調節することができる。例文帳に追加
The absorption wavelength can be controlled with the particle size of the semi-conductor ultrafine particle. - 特許庁
ホロービームアパーチャ、荷電粒子線露光装置、及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
MANUFACTURING METHOD OF HOLLOW BEAM APERTURE AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体屑等の固体粒子に付着した金属を効率的に除去する方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method for efficiently removing metals stuck to solid particles such as semiconductor chips. - 特許庁
低電圧粒子ビ—ムを用いた半導体検査用の電圧コントラスト方法及び装置例文帳に追加
VOLTAGE CONTRASTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INSPECTION USING LOW VOLTAGE PARTICLE BEAM AND DEVICE - 特許庁
薄膜、反射防止基材、半導体デバイスと微粒子製造方法及び薄膜製造方法例文帳に追加
THIN FILM, REFLECTION PREVENTING BASE MATERIAL, SEMICONDUCTOR DEVICE, PARTICULATE MANUFACTURING METHOD AND THIN FILM MANUFACTURING METHOD - 特許庁
光学系要素、非点収差補正器、荷電粒子線露光装置、及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
OPTICAL SYSTEM ELEMENT, ASTIGMATISM COMPENSATOR, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
荷電粒子の強度分布測定方法および装置、並びに半導体製造装置例文帳に追加
INTENSITY DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD AND DEVICE FOR CHARGED PARTICLES, AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS - 特許庁
金属酸化物微粒子、研磨材、これを用いる基板の研磨方法及び半導体装置の製造方法例文帳に追加
METAL OXIDE FINE PARTICLE, ABRASIVE MATERIAL, METHOD FOR POLISHING SUBSTRATE USING THE SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体ウェハ等の板状の試料を装填する試料ホルダ及び荷電粒子ビーム装置例文帳に追加
SAMPLE HOLDER FOR LOADING PLATE-LIKE SAMPLE SUCH AS SEMICONDUCTOR WAFER AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE - 特許庁
半導体電極用組成物は、結合剤を含まずとも、低温で粒子間の焼結が可能とする。例文帳に追加
The composition for the semiconductor electrode is capable of sintering particles at low temperature even if a binder is not contained. - 特許庁
導電性粒子を含むバンプを備える半導体チップ及びこれを製造する方法例文帳に追加
SEMICONDUCTOR CHIP HAVING BUMP CONTAINING CONDUCTIVE PARTICLE AND METHOD FOR MANUFACTURING IT - 特許庁
基板、特に半導体ウエハ上に粒子を均一に堆積させる装置を提供する。例文帳に追加
To provide an apparatus for depositing particles uniformly onto a substrate, particularly on a semiconductor wafer. - 特許庁
走査型荷電粒子線応用装置ならびにそれを用いた顕微方法および半導体装置製造方法例文帳に追加
SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM APPLYING APPARATUS AND MICROSCOPING METHOD AND SEMICONDUCTOR MANUFACTURING METHOD USING THE DEVICE - 特許庁
金属粒子及びその製造方法並びに樹脂組成物、接着フィルム及び半導体装置例文帳に追加
METAL PARTICLES, MANUFACTURING METHOD THEREOF, RESIN COMPOSITION, ADHESIVE FILM, AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
光エッチング法を用いることにより一定の粒径の半導体ナノ粒子を得る。例文帳に追加
The semiconductor nano particles having a certain grain size are provided by using an optically etching method. - 特許庁
半導体基板表面に付着する金属不純物及び微粒子の双方を良好に除去する。例文帳に追加
To properly remove both metallic impurities and fine particles which adhere to the surface of a semiconductor substrate. - 特許庁
半導体超微粒子を用いた相分離構造の解析方法及び解析装置例文帳に追加
ANALYTICAL METHOD AND ANALYTICAL DEVICE OF PHASE SEPARATION STRUCTURE USING SEMICONDUCTOR ULTRAFINE PARTICLE - 特許庁
フィデュシャルマーク、それを有する荷電粒子線露光装置及び半導体デバイス製造方法例文帳に追加
FIDUCIAL MARK, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM HAVING THE SAME AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
機能性粒子群、充填剤、電子部品用樹脂組成物、電子部品および半導体装置例文帳に追加
FUNCTIONAL PARTICLE GROUP, FILLER, RESIN COMPOSITION FOR ELECTRONIC PART, ELECTRONIC PART, AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
機能性粒子、充填剤、電子部品用樹脂組成物、電子部品および半導体装置例文帳に追加
FUNCTIONAL PARTICLE, FILLER, RESIN COMPOSITION FOR ELECTRONIC PART, ELECTRONIC PART, AND SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
ホロービームアパーチャの製造方法、荷電粒子線露光装置、及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
METHOD OF MANUFACTURING HOLLOW BEAM APERTURE, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
微粒子膜形成装置・形成方法、ならびに半導体装置およびその製造方法例文帳に追加
DEVICE AND METHOD FOR FORMING FINE PARTICLE FILM, AND SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURE - 特許庁
金属酸化物微粒子、研磨材、これを用いる研磨方法及び半導体装置の製造方法例文帳に追加
METALLIC OXIDE MICROPARTICLE, ABRASIVE, AND METHOD FOR GRINDING SUBSTRATE AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE ABRASIVE, - 特許庁
この半導体装置10は、接着層1中に、金属からなる中空粒子が分散している。例文帳に追加
In the semiconductor device 10, metallic hollow particles are dispersed in the adhesive layer 1. - 特許庁
半導体検査装置、及び荷電粒子線の画像、或いは光学条件の選択装置例文帳に追加
SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE, SELECTION DEVICE OF IMAGE OF CHARGED PARTICLE BEAM OR OPTICAL CONDITIONS - 特許庁
荷電粒子ビ—ム転写露光方法、それに用いるレチクル及び半導体デバイス製造方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM TRANSFER EXPOSURE METHOD, RETICULE BY USE THEREOF, AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
優れた蛍光特性を有し、生体高分子との融合性を有する半導体ナノ粒子を開発する。例文帳に追加
To develop semiconductor nanoparticles having both superior fluorescent characteristics and fusibility with biopolymers. - 特許庁
荷電粒子ビームを用いた半導体ウェハ試料の検査方法および装置例文帳に追加
INSPECTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER TEST PIECE WHICH USES CHARGED PARTICLE BEAM AND EQUIPMENT - 特許庁
荷電粒子線露光装置、露光方法及び半導体デバイスの製造方法例文帳に追加
CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE, METHOD FOR EXPOSURE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁
半導体超微粒子が均一分散したビニル系熱可塑性樹脂組成物を提供する。例文帳に追加
To provide a thermoplastic vinyl resin composition containing uniformly dispersed ultrafine semiconductor particles. - 特許庁
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