「自己診断検査」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

検査者は動作モード選択器１２で工場用の自己診断モードかサービス用の自己診断モードかを選択する。例文帳に追加

An inspector selects either a factory self-diagnostic mode or a service self-diagnostic mode using an operating mode selector 12. - 特許庁

自己診断装置１２は、これらの信号を受け、自己診断領域が表面疵検出部９の検出位置にさしかかったときにコイルの表面疵検査を止め、自己診断を開始する。例文帳に追加

The self-diagnosis device 12 receives these signals and stops a surface scratch inspection of a coil and starts a self-diagnosis when the self-diagnosis area is approached to a detection position of a surface scratch detection part 9. - 特許庁

自己診断機能を有する検査装置およびそのためのプログラムならびに記録媒体例文帳に追加

INSPECTION DEVICE HAVING SELF-DIAGNOSTIC FUNCTION, AND PROGRAM AND RECORDING MEDIUM FOR THE SAME - 特許庁

装置の起動制御方法、装置の自己診断試験方法、制御基板、機器、検査システム例文帳に追加

STARTUP CONTROL METHOD OF DEVICE, SELF DIAGNOSTIC TEST METHOD OF DEVICE, CONTROL BOARD, EQUIPMENT AND INSPECTION SYSTEM - 特許庁

自己診断を、製品の検査作業に影響を与えず、製造単位であるコイル毎に行う機能を有する表面検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a surface inspection device having a function carrying out a self-diagnosis at every coils, i.e., a manufacture unit without affecting to an inspection work of products. - 特許庁

搬送ラインに対し疑似ピンホールが穿孔されたテストピースを投入することなく且つ検査回数に依存せずに、ピンホール検査機自体のピンホール検出精度を適宜確認することが可能な自己診断機能を内蔵した自己診断機能付きピンホール検査機を提供する。例文帳に追加

To provide a pinhole inspection machine with a self-diagnosis function having the built-in self-diagnosis function, capable of confirming properly pinhole detection accuracy of the pinhole inspection machine itself without inputting a test piece on which a pseudo pinhole is bored into a conveyance line, and without depending on the number of inspection times. - 特許庁

テスト対象回路の診断を実行する検査回路の正常性を判定することができる自己診断システム及び検査回路判定方法を提供すること例文帳に追加

To provide a self-diagnosis system and an inspection circuit determination method that allow determination of normality of an inspection circuit for executing an diagnosis of a test target circuit. - 特許庁

固体撮像素子１１を検査装置１０で検査する固体撮像素子検査において、所定測定条件下で予め測定しておいた固体撮像素子を標準サンプル１９として前記検査装置内の所定箇所１４ａに置いておき、検査装置１０の自己診断を行うときは検査装置内の標準サンプル１９を測定して自己診断を行う。例文帳に追加

In solid imaging element inspection for inspecting a solid imaging element 11 by an inspection device 10, the solid imaging element measured beforehand in a prescribed measuring condition is placed on a prescribed spot 14a in the inspection device as the standard sample 19, and when performing self-diagnosis of the inspection device 10, the self-diagnosis is performed by measuring the standard sample 19 in the inspection device. - 特許庁

この検査をＭＲＩ装置の自己診断時に行い、ネットワークを介して情報管理装置でデータを精査する。例文帳に追加

This inspection is conducted at the time of the self-diagnosis of a MRI apparatus and data are scrutinized by an information management apparatus through a network. - 特許庁

図１は、瞬断などのエラー発生時に実行されるフラッシュメモリ３０２の書き込みを検査する自己診断処理のフローチャートである。例文帳に追加

A figure 1 represents a flowchart of self-diagnosis carried out for inspecting writing in the flash memory 302 in occurrence of an error such as an instantaneous interruption. - 特許庁

検査用信号を基準値と比較する２値化部１５を用いて検査対象物の良否（正常／異常）の検査結果を出力する機能に加えて、欠陥検査システム１０自体の良否の診断機能（自己診断機能）を持たせる。例文帳に追加

In addition to a function of outputting an inspection result about the quality (normal/abnormal) of an inspection target by using a binarization part 15 for comparing an inspecting signal with a reference value, a defect inspection system 10 includes a diagnostic function (self-diagnosis function) for the quality of the defect inspection system 10 itself. - 特許庁

さらに、自己診断実行タイミングは被検査対象機器２を１台検査完了したタイミング、検査ＮＧ時のタイミング、あるいは検査装置がアイドル状態の時のタイミングにしたことなどにしたことや、自己診断の内容を検査ＮＧの内容により設定変更可能としたことなども特徴としている。例文帳に追加

Moreover, the timing of execution of the self-diagnosis can be made to be the timing of inspection finish of one apparatus 2 being an object to be inspected, the timing of inspection NG, a timing when the inspection device in an idle state, or the like, and the contents of the self diagnosis can be changed due to the contents of the inspection NG. - 特許庁

デバイスの検査処理を開始するにあたって、その検査パターンの切り換え状態を自己診断することにより、人的ミスを撲滅し正しい検査処理を行うことを可能にする。例文帳に追加

To correctly inspect by self-diagnosing a switching state of an inspection pattern to start an inspection of a device, thereby preventing an artificial miss. - 特許庁

オペレーションＰＣ１０は、シミュレータ２０に対する診断時には、シミュレータ２０の出力する検査信号に応じて作動するＥＣＵ４０が自己診断したダイアグコードに基づいて、シミュレータ２０が正常であるか異常であるかを診断する。例文帳に追加

In performing inspection of the simulator 20, the operation PC 10 diagnoses whether the simulator 20 is normal or abnormal on the basis of a diagnosis code resulting from the self diagnosis of the ECU 40 operated in accordance with an inspection signal output from the simulator 20. - 特許庁

検査員の人手による標準サンプルの出し入れを無くし、標準サンプルを用いた固体撮像素子検査装置の自己診断を任意のタイミングで容易に行える様にする。例文帳に追加

To dispense with putting-in/out of a standard sample by manpower of an inspector, and to perform self-diagnosis of a solid imaging element inspection device using the standard sample, easily at an optional timing. - 特許庁

これにより、診断装置１０１Ａ，１０２Ｂ側では、自己の設定した検査プロトコル以外に他装置で設定した検査プロトコルを利用することが可能となる。例文帳に追加

Consequently, each of the diagnostic apparatuses 101A and 102B can use test protocols established by the other apparatus besides test protocols established by itself. - 特許庁

携帯可能な簡易的な検査器でありながら、センサの使用限界を自己診断して計測結果の正当性を高めることができる呼気検査器を提供する。例文帳に追加

To provide an expiration examination device capable of enhancing the validity of a measuring result by self-diagnosing the use limit of a sensor regardless of a portable simple examination device. - 特許庁

分周信号を検査するにあたって、その周波数のみならず第１区間長および第２区間長をも検査し、比較対象に用いる信号を生成する高価な検査装置を必要としない自己診断回路を有する半導体集積回路およびその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit with a self-diagnostic circuit and a method of inspection thereof which, in inspecting a frequency-divided signal, inspect not only the frequency thereof but also a first interval length and a second interval length and dispense with an expensive inspection apparatus for generating a signal used for comparison. - 特許庁

自己診断装置１２は、溶接線７が表面疵検出部９に検出されたときの信号を表面疵検査装置本体１０から受け、それが規定のパターンになっているかどうかを検出する。例文帳に追加

The self-diagnosis device 12 receives a signal at the time when the welding wire 7 is detected on the surface scratch detection part 9 from a surface scratch inspection device body 10 and detects whether or not it becomes a defined pattern. - 特許庁

これにより、検査員の人手による標準サンプルの出し入れをしなくても、標準サンプルを用いた自己診断を任意のタイミングで容易に行うことが可能となる。例文帳に追加

Hereby, the self-diagnosis using the standard sample can be performed easily at an optional timing without requiring putting-in/out of the standard sample by man power of the inspector. - 特許庁

携帯端末１００のプリント回路基板の機能を自己診断する回路機能検査時に、プリント回路基板に実装されたＣＰＵ１０１やＲＡＭ１０２等の電子部品に振動を加えるバイブレータ１０７を設ける。例文帳に追加

The portable terminal 100 includes a vibrator 107 which applies vibration to electronic components such as CPU 101 and RAM 102 mounted on a printed circuit board at the time of circuit function test for self-diagnosis of the function of the printed circuit board of the portable terminal 100. - 特許庁

故障に対する処置や性能検査についての対応を使用者に報知することができ、従来の自己診断機能付き電子天びんに比してより複雑な性能検査等を行ってその結果や対応を使用者に報知できる電子天びんを提供する。例文帳に追加

To provide an electronic balance capable of informing a user of how to cope with a trouble and performance inspection, and capable of conducting a performance inspection or the like complicated compared with that in a conventional electronic balance with a self-diagnostic function to inform the user of the result and countermeasure thereto. - 特許庁

集積回路検査装置の制御回路内のEEPROM1-2の書き換え忘れや入力ミス等による書き間違いを防ぐことができ、また、異種電源ユニットが混在してしまった場合にも、自己診断プログラムを正常に動作させることが可能な、電子装置（集積回路検査装置）を提供する。例文帳に追加

To provide an electronic device (integrated circuit inspection device) capable of preventing forgetting of rewriting or a wrong writing caused by an input error or the like in an EEPROM 1-2 in a control circuit of the integrated circuit inspection device, and operating normally a self-diagnosis program even when a different kind power source unit is intermingled. - 特許庁

そして、ＣＰＵ１２の指令により組み込み自己検査を起動し、メモリ１１および論理回路群１３のテスト結果をメモリ検査用圧縮器１７および論理回路検査用圧縮器１５から読み出して、１チップマイクロコンピュータ１０内部において、あらかじめメモリ１１に記憶されている期待値とそれぞれ比較し結果診断を行う。例文帳に追加

Built-in self test is started by the command of CPU 12 and the test results of a memory 11 and a logic circuit group 13 are read from the memory inspection compressor 17 and the logic circuit inspection compressor 15, it is compared with an expectation value which is previously stored in the memory 11 and the result is diagnosed in the one chip microcomputer 10. - 特許庁

そして、ＣＰＵ１２の指令により組み込み自己検査を起動し、メモリ１１および論理回路群１３のテスト結果をメモリ検査用圧縮器１７および論理回路検査用圧縮器１５から読み出して、１チップマイクロコンピュータ１０内部において、あらかじめメモリ１１に記憶されている期待値とそれぞれ比較し結果診断を行う。例文帳に追加

The self-check of incorporation is started by a command of a CPU 12, and the test results of the memory 11 and a logic circuit group 13 are read from the memory checking compressor 17 and the logic circuit checking compressor 15 and compared respectively with expected values stored beforehand in the memory 11 to diagnose the result inside the one-chip microcomputer 10. - 特許庁

スマートＥＣＵ４は、ＬＦアンテナ接続を自己診断する際、発振回路２３から直流電圧の検査用電圧Ｖ２をＬＦアンテナ１９ａ，１９ｂに出力させ、まずはトランジスタ２５をオンし、トランジスタ２６をオフする。例文帳に追加

When performing self-diagnosis of an LF antenna connection, a smart ECU 4 outputs an inspection voltage V2 of a DC voltage from an oscillation circuit 23 to LF antennas 19a, 19b, and first of all, a transistor 25 is switched on, and a transistor 26 is switched off. - 特許庁