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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 試験精度に関連した英語例文

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試験精度の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 823



例文

高速かつ高精度にメモリセルを試験することができる半導体記憶装置およびその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor storage device which tests a memory cell at a high speed with high precision and to provide a method therefor. - 特許庁

試験プログラムの切り替え時間の短縮化を達成しつつ、実行中の測定精度に影響を及ぼさない半導体試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test system that does not affect the accuracy of measurement under execution while shortening the switching period of a test program. - 特許庁

コストの大幅な上昇を招かずに高精度の直流試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor testing apparatus for performing a highly accurate direct current test, without causing significant increase in cost. - 特許庁

複数のDRAMマクロセルを搭載する論理混載メモリ集積回路等の機能試験を効率化し、その試験精度を高める。例文帳に追加

To improve efficiency of a functional test of a logic mixed memory integrated circuit or the like incorporating plural DRAM macro-cells and to improve accuracy of the test. - 特許庁

例文

校正に必要な時間の短縮と試験精度の向上とを同時に実現することができる半導体試験装置及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test apparatus and method for simultaneously achieving shortness of a time necessary for calibration and improvement of test precision. - 特許庁


例文

媒体試験機能を付加した回路構成であっても従来よりも高精度試験結果を得ることのできる加入者回路を実現する。例文帳に追加

To realize a subscriber circuit by which a test result high in accuracy can be obtained even with a circuit configuration to which a medium test function is added. - 特許庁

実際の温度条件を模擬して評価試験を行うことができ、評価試験精度を向上させることができる。例文帳に追加

Evaluation tests can be carried out by simulating the actual temperature conditions, to thereby improve the accuracy of the evaluation test. - 特許庁

このような素子試験方法によれば、半導体素子に損傷が与えられず、且つ半導体素子の電気的特性が高精度試験される。例文帳に追加

According to such a device test method, the electrical characteristics of the semiconductor device are tested with high precision without damaging the semiconductor device. - 特許庁

汎用性の高いデジタル用テスタを用いて高精度にアナログ素子の試験を行うことができる半導体装置の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test method of a semiconductor device capable of testing an analog element highly accurately by using a digital tester having wide versatility. - 特許庁

例文

静電気試験の作業効率を高め、検査精度を向上することの可能な静電気試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electrostatic testing device that increases the working efficiency of an electrostatic test and improves the inspection accuracy. - 特許庁

例文

低コストでかつ高精度で躯体の載荷試験を行うことができる載荷試験システムを提供すること。例文帳に追加

To provide a load testing system capable of performing a load test of a skeleton inexpensively with high precision. - 特許庁

簡素な構造で供試体のセッティングが容易であり、高速且つ高精度の疲労試験を行うことができる疲労試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a fatigue tester having a simple structure, easy to set a test piece and capable of performing a high-speed and high-precision fatigue test. - 特許庁

試験片の位置を正確に設定することができ、試験片の寸法を精度よく測定することが可能な測寸装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for measuring a dimension, capable of accurately setting a position of a test piece and measuring the dimension of the test piece with high accuracy. - 特許庁

試験画像搬送媒体の変形に起因して発生する試験画像の検知誤差を抑えつつ、検知精度以外の要素を加味する。例文帳に追加

To reduce detection errors in a test image caused by deformation of a test image conveying medium, while considering also other than detection accuracy. - 特許庁

検査工程において高精度試験を行うことが可能となる半導体装置の試験用ボードを提供する。例文帳に追加

To provide a testing board for a semiconductor device allowing to highly accurately test in an inspection step. - 特許庁

実使用環境において被試験体に印加される加速度の時間推移を精度良く模擬可能な回転衝撃試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a rotational impact testing device capable of simulating accurately temporal transition of an acceleration applied to a test body in an environment used actually. - 特許庁

治具クランパの強度を精度高く把握することができる治具クランパ破壊試験装置及び治具クランパ破壊試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a device for destructively testing a jig clamper capable of precisely grasping the strength of a jig clamper, and a method therefor. - 特許庁

集積回路の試験中に試験装置タイミング精度を較正する方法および装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus in which the timing accuracy of a testing device is calibrated during the test of an integrated circuit. - 特許庁

読出部と書込部の初期設定値を適正にすることにより、性能試験の高速化、試験精度の劣化を防止することができる。例文帳に追加

By properly setting initial setting values of the sections 12 and 17, a performance test is made faster and deterioration in the test is prevented. - 特許庁

試験デバイスの良品・不良品の判定を精度良く且つ効率的に行うことができる半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor test apparatus capable of accurately and efficiently discriminating normal/defective products of a device to be tested. - 特許庁

バーンイン試験又はテスタによる試験の高精度化と容易化とを図ることができるようにした半導体集積回路装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device making burn-in test or test by means of a tester more accurate and easier. - 特許庁

従来の反発弾性試験精度を飛躍的に向上可能とした反発弾性試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a repulsion elasticity-testing device for drastically improving the accuracy in a repulsion elasticity test. - 特許庁

試験片の位置決め精度を向上させ、測定値の分散を低減することのできる試験片測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a test piece measuring apparatus capable of improving positioning accuracy of test pieces and reducing the dispersion of measured values. - 特許庁

複数の摩擦材の特性をそのばらつきを含めて迅速、高精度、かつ経済的に試験することができる摩擦試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a friction tester for testing the characteristics including their dispersion of a plurality of friction materials, rapidly, highly accurately, and economically. - 特許庁

試験デバイスと絶縁して、当該被試験デバイスの出力信号のスイッチング時間を高精度に測定する。例文帳に追加

To measure highly accurately a switching time of an output signal from a test device in the insulated state from the test device. - 特許庁

本発明は、多軸状態で精度のよい負荷試験を行うことができる多軸負荷試験装置及び方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a multiaxial load testing device and method capable of carrying out an accurate load test in a multiaxial state. - 特許庁

試験片に生じる亀裂長さを簡易に、しかも高精度に計測することのできる安価で簡易な構成の疲労亀裂試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fatigue crack testing device having an inexpensive and simple arrangement, capable of measuring the crack length developed on a test piece easily and highly accurately. - 特許庁

シミュレーション精度を向上できるエンジン試験装置または車両試験装置に用いるマップの作成方法を提供する。例文帳に追加

To improve simulation accuracy. - 特許庁

免疫クロマト試験片の呈色の度合いを精度よく測定することが可能な免疫クロマト試験用具を提供すること。例文帳に追加

To provide an immuncochromatographic test tool which can measure accurately the degree of coloring of an immunochromatographic test piece. - 特許庁

免疫クロマト試験片の呈色の度合いを精度よく測定することが可能な免疫クロマト試験用具を提供すること。例文帳に追加

To provide an immunochromatographic test tool which enables to measure accurately the degree of coloring of an immunochromatographic test piece. - 特許庁

試験体である流体圧アクチュエータに加える負荷の模擬を精度良く行うことが可能な試験装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a testing device highly accurately simulating a load applied to a fluid pressure actuator being a test body. - 特許庁

本発明は、風洞用試験装置をはじめとした流体試験装置に関し、計測データの精度向上を図るようにする。例文帳に追加

To achieve a higher accuracy of measurement data concerning a fluid tester such as a tester for an air tunnel. - 特許庁

実環境に合致した振動試験を容易に高精度で行うことができる振動試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a vibration test method capable of easily and precisely performing the vibration test corresponding to a real environment. - 特許庁

走行モードを簡易且つ適切に設定して、タイヤ摩耗を精度良く試験することができるタイヤ摩耗試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a tire abrasion test method capable of setting easily and properly a travel mode to test precisely abrasion of a tire. - 特許庁

体液の塗布用の試験テープユニットに関して試験テープの少ない負荷で高い測定精度を達成する。例文帳に追加

To achieve high measuring precision with a reduced load of a test tape in relation to a test tape unit for coating body fluids. - 特許庁

試験器の故障部位の特定を、短時間で精度高く容易に行うことができる試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a testing device capable of highly accurately and easily specifying a failure portion of an apparatus to be tested in a short time. - 特許庁

情報処理装置の記憶部に対する試験にかかる時間の短縮又は試験精度の向上を実現する。例文帳に追加

To shorten a time required in a test for a storing part of an information processor or to improve test accuracy. - 特許庁

超音波洩れ試験装置における洩れ試験精度よく行うことができるような超音波検出ユニットを提供すること。例文帳に追加

To provide an ultrasonic detection unit for accurately performing leak test as an ultrasonic leak tester. - 特許庁

免疫クロマト試験片の呈色の度合いを精度よく測定することが可能な免疫クロマト試験片の測定装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a measurement device for an immunochromatography test piece, capable of measuring a coloring degree of the test piece with high accuracy. - 特許庁

試験ICのコンタクト部への位置決め精度に優れるとともに構成部品の汎用性に優れた電子部品試験装置用インサートを提供する。例文帳に追加

To provide an insert excellent in positioning precision of an IC to be tested to a contact part, and in general purpose properties of constituting components. - 特許庁

風洞試験の測定精度を向上することができる風洞模型支持装置およびそれを用いた風洞試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a wind tunnel model support device capable of improving the measurement accuracy of a wind tunnel test, and a wind tunnel test device using it. - 特許庁

飛行機の人力操縦装置の試験を、実機を模した試験装置を必要とせずに精度良く行えるようにする。例文帳に追加

To accurately carry out a test of a man-powered steering device of an aircraft without the need for a testing device imitating an actual machine. - 特許庁

拡管型油井における鋼管の拡管性を精度良く、また、効率良く評価する試験装置及び試験方法を提供する例文帳に追加

To provide a testing device and a testing method for evaluating the expansive properties of steel pipe, in an expansive type oil well, in a precisely and effective manner. - 特許庁

試験体に作用する危害の大きさや状況等を高精度に把握することができ、しかも、取り扱いに便利な落下試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a drop testing device by which magnitude and a situation of harm, etc. to act on a specimen is grasped with high accuracy, and which is convenient for handling. - 特許庁

内部に空間部を有する被評価物の評価試験精度良く行うことができる試験片の作成方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a preparation method for a test piece capable of conducting precisely an evaluation test for an evaluated object having a space part in its inside. - 特許庁

機器や試験対象部品の重量の大小に関わらず、試験対象部品の耐衝撃性について精度の高い検証や解析を行うこと。例文帳に追加

To accurately verify and analyze the shock resistance of a testing object component regardless of the magnitude of the weight of an apparatus or the testing object component. - 特許庁

少量の試液を用いて試験を行うことができ、試液の移動量を正確に制御することが可能で精度のよい試験を行うこと。例文帳に追加

To conduct a testing by using a small amount of a solution to be tested, and to conduct the testing with high precision, by accurately controlling a transferring quantity of the solution to be tested. - 特許庁

動作周波数の異なる複数のブロックを有する電子デバイスを精度良く試験する試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an arrangement for precisely testing an electronic device comprising a plurality of blocks with different operation frequencies. - 特許庁

精度のよい気密試験を達成することができ、かつ、気密試験を実施している間の圧力変化を記録することができる空調配管用気密試験装置と、その空調配管用気密試験装置を用いた空調配管の気密試験方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a sealing testing device for an air conditioning pipe capable of conducting a precise sealing test and recording pressure change during the sealing test and a sealing testing method of the air conditioning pipe using the sealing testing device for the air conditioning pipe. - 特許庁

例文

この半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験することによって、理想的な半導体デバイスに対して試験信号を供給し、試験を行うことと等しくなり、半導体試験用プログラムが正常に動作するか否かのデバッグ精度を高めることが可能となる。例文帳に追加

A test signal is supplied to the semiconductor device so as to be tested, the test signal is supplied to the ideal semiconductor device so as to be tested equally, and the accuracy of a debugging operation about whether a program for semiconductor test is operated normally can be increased. - 特許庁

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