「PROBE ELECTRODE」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELECTRODE PROBE FOR INSPECTING SUBSTRATE例文帳に追加

基板検査用電極プローブ - 特許庁

ELECTRODE STRUCTURE OF ULTRASOUND PROBE, ULTRASOUND PROBE, AND SUBSTRATE OF ULTRASOUND PROBE例文帳に追加

超音波探触子の電極構造、超音波探触子、および超音波探触子の基板 - 特許庁

ELECTRODE NEEDLE, PROBE CARD, PROBE DEVICE, PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電極針、プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

Initial positions of a negative electrode probe and a positive electrode probe against the contact support part 61, separation gap between the negative electrode probe and the positive electrode probe, and size of relative movement of the negative electrode probe and the positive electrode probe with a plate member can all be adjusted.例文帳に追加

コンタクト部において、コンタクト支持部61に対する負極プローブおよび正極プローブの初期位置、負極プローブおよび正極プローブ間の離間寸法、負極プローブおよび正極プローブと板部材との相対移動寸法はそれぞれ、調整可能である。 - 特許庁

To provide a probe device capable of making two probe styli contact with an electrode, without increasing the area of the electrode with which the probe styli contact.例文帳に追加

プローブ針に接触される電極の面積を大きくすることなく、２本のプローブ針を電極に接触させることができるプローブ装置を得る。 - 特許庁

The compensation electrode is arranged in structures 13, 14 of the probe part for supporting the probe, and the probe and the compensation electrode contact with the flame at the same time.例文帳に追加

補償極は探針を支持するプローブ部の構造体(13,24)に配設され、探針及び補償極は、同時に火炎に接触する。 - 特許庁

PROBE CONTACTING ELECTRODE AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

プローブ接触用電極、及び電子デバイス - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF DNA PROBE FIXED ELECTRODE例文帳に追加

ＤＮＡプローブ固定電極の製造方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE CONTACTING ELECTRODE FOR ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子デバイスのプローブ接触用電極の製造方法 - 特許庁

LARGE CURRENT SOURCE ELECTRODE PROBE OR CONNECTOR例文帳に追加

大電流電源電極プローブ若しくはコネクタ - 特許庁

To provide stable contact of a probe with an electrode.例文帳に追加

プローブの電極に対する安定した接触を得ること。 - 特許庁

ELECTRODE EXTRACTION STRUCTURE AND PROBE TYPE STRUCTURE例文帳に追加

電極の引き出し構造及びプローブ型構造体 - 特許庁

This causes the probe 51 to make stable contact with the electrode.例文帳に追加

これによりプローブ５１が電極に安定接触する。 - 特許庁

MULTI-ELECTRODE PROBE DEVICE FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子検査用の多極型プローブ装置 - 特許庁

The probe includes a magnetic field transducer and at least a single probe electrode.例文帳に追加

このプローブは、磁場トランスデューサと、少なくとも１個のプローブ電極と、を含んでいる。 - 特許庁

To provide a probe card device and probe used therefore allowing a satisfactory electric conduction of the probe with a pad electrode.例文帳に追加

プローブとパッド電極との良好な電気的導通が図られるプローブカード装置とそれに用いられるプローブを提供する。 - 特許庁

A probe region 32 allowing probe contact and a non-probe region 31 are formed in an electrode pad 21.例文帳に追加

電極パッド２１内にプローブコンタクト可能なプローブ領域３２と非プローブ領域３１を設ける。 - 特許庁

In the probe for the somatometry, the electrode and the optical probe are provided in the same measuring probe to perform simultaneous measurement by the electrode and the optical probe.例文帳に追加

生体計測用プローブにおいて電極と光プローブとを同一の測定プローブに設ける構成とすることによって電極と光プローブによる同時測定を可能とする。 - 特許庁

To prevent the contact failure between a probe and a probe pad electrode due to the repeated usage of the inspection probe, in a semiconductor device having the probe pad electrode that is connected to a bonding pad elec trode.例文帳に追加

ボンディングパッド電極に接続されたプローブパッド電極を有する半導体装置において、検査用プローブの反復使用に伴うプローブとプローブパッド電極との接触不良をなくす。 - 特許庁

To provide a probe card for reliably bringing an electrode terminal into contact with an examination probe for the narrow-pitched electrode terminal.例文帳に追加

狭ピッチ化された電極端子に対しても、その電極端子と検針とを確実にコンタクトできるプローブカードを提供する。 - 特許庁

ELECTRODE TENSION TEST METHOD, DEVICE THEREFOR, SUBSTRATE /PROBE SUPPORT DEVICE THEREFOR AND ELECTRODE/PROBE BONDING DEVICE例文帳に追加

電極引張試験方法、その装置及び電極引張試験用の基板／プローブ支持装置並びに電極プローブ接合装置 - 特許庁

If the probe is pressed on the surface of the inspection electrode 24 to inspect it, an undulation is formed on the surface of the inspection electrode by the load of the probe.例文帳に追加

プローブを検査用電極２４の表面に押圧して検査すると、プローブの荷重によって検査用電極２４の表面に起伏が形成される。 - 特許庁

The lower probe 40 is provided at a height near the lower electrode 12, and the upper probe 41 is provided at a height near the upper electrode 20.例文帳に追加

下部プローブ４０は，下部電極１２付近の高さに設けられ，上部プローブ４１は，上部電極２０付近の高さに設けられる。 - 特許庁

To provide a device for detecting nucleic acid, constituted so that a solution is made easy to arrive at a probe electrode, while the area of the probe electrode is small.例文帳に追加

プローブ電極の面積が小さいながらもプローブ電極に溶液が到達しやすい核酸検出用デバイスを提供する。 - 特許庁

PROBE WITH ELECTRODE FOR ELECTROCHEMICAL TREATMENT OF PROSTATE GLAND DISEASE例文帳に追加

前立腺疾患の電気化学的治療法用電極付プローブ。 - 特許庁

ELECTRODE-EQUIPPED PROBE AND CAPACITANCE TYPE LOAD METER USING IT例文帳に追加

電極付きプローブおよびそれを用いた静電容量型荷重計 - 特許庁

A groove 2 for inserting an inspection probe is formed in an electrode 1.例文帳に追加

電極１に、検査用プローブを挿入するための溝部２を形成する。 - 特許庁

The first electrode is a probe for suction and delivering the liquid.例文帳に追加

前記第１の電極は、液体の吸引および吐出を行うプローブである。 - 特許庁

The electrode 3 of the probe 2 is covered with an insulating coating film 7.例文帳に追加

プローブ２は、測定電極３の表面を絶縁皮膜７で被覆している。 - 特許庁

A probe 20 contacts an electrode on the surface of a wafer 18.例文帳に追加

プローブ２０はウエハ１８の表面の電極に接触する。 - 特許庁

Nine spots 60 are arrayed per probe electrode 35.例文帳に追加

プローブ電極３５一つにつき９種類のスポット６０が配列されている。 - 特許庁

The probe has a salient electrode on one surface of a flat base.例文帳に追加

接触子は、突起電極を板状のベースの一方の面に備えている。 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING PROBE POINT WITH ELECTRODE OF INSPECTION BODY例文帳に追加

プローブの針先と被検査体の電極との位置合わせ方法 - 特許庁

DISPLACEMENT MAGNIFYING MECHANISM FOR ELECTRODE MEASUREMENT PROBE, AND SUBSTRATE INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電気計測プローブ用変位拡大機構および基板検査装置 - 特許庁

The ultrasonic probe 100 further includes electrodes E1, E2 arranged in the probe body part 110 and an electrode E3 for changing a capacitance between the electrode E3 and the electrode E1 by being rotated together with the probe rotation part 120.例文帳に追加

さらに、超音波プローブ１００は、プローブ本体部１１０に設けられる電極Ｅ１，Ｅ２と、プローブ回転部１２０と共に回転することにより電極Ｅ１との間の容量を変化させる電極Ｅ３を備えている。 - 特許庁

In the probe card, an electrode 13 is formed in a pattern region 11 connected to the probe 5A for electric source, and an electrode plate 13B of the electrode 13 is made to face the pattern region 11 connected with a probe 5B for grounding.例文帳に追加

電源用プローブ５Ａに接続されているパターン領域１１に電極１３を形成し、この電極１３の電極板１３Ｂをグランド用プローブ５Ｂに接続されているパターン領域１１に対向させる。 - 特許庁

To surely connect a contact electrode of a probe apparatus to an electrode of an inspection object.例文帳に追加

プローブ装置の接触電極を被検査体の電極に確実に接続させることにある。 - 特許庁

To prevent displacement of a contact electrode of a probe device from an electrode of a body to be inspected.例文帳に追加

プローブ装置の接触電極が被検査体の電極に対して位置ずれすることを防止すること。 - 特許庁

A probe 12A can be moved with respect to the electrode 4A and can come in contact with the electrode 4A.例文帳に追加

プローブ１２Ａは電極４Ａに対して移動可能であり、電極４Ａに接触可能である。 - 特許庁

To prevent an electrode from being damaged, even when a probe comes into contact with a strip electrode at a slant.例文帳に追加

帯状電極に対し、プローブが傾斜して接触しても電極が損傷しないようにする。 - 特許庁

To provide a probe contacting electrode and electronic device which improves productivity by using the probe for a longer period, by solving the problem wherein a probe loses its durability in a short period of time since the probe contacting electrode for contacting the probe is hardened.例文帳に追加

プローブを当接する対象となるプローブ接触用電極が硬質化されていることによってプローブが短期間に耐久性を喪失するという不具合を解決し、プローブを長期間使用することを可能にして生産性を高めることができるプローブ接触用電極、及び電子デバイスを提供する。 - 特許庁

Probe area marks XPM and YPM where the test probe are brought into contact with the electrode pad 1 are provided, a test probe area TPA in the electrode pad 1 is limited by the probe area marks, and the electrode pad can be improved in bonding reliability.例文帳に追加

電極パッド１にテストプローブを接触させるエリア示すプローブエリアマークＸＰＭ，ＹＰＭを備え、プローブエリアマークにより電極パッドにおけるテストプローブエリアＴＰＡを限定し、電極パッドに対するボンディング信頼性を高める。 - 特許庁

While applying a constant voltage of 10 V between a probe 1210 of the scanning probe microscope 1000 and a positive electrode core material PB, surface of the positive electrode mixture layer PA is scanned by means of the probe 1210, and the value of a current flowing between the probe 1210 and the positive electrode core material PB is measured.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１０００の探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に１０Ｖの定電圧を印加しつつ，正極合材層ＰＡの表面に探針１２１０を走査させるとともに，探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に流れる電流値を測定する。 - 特許庁

Although a part of the electrode pad with which the probe stylus is in contact is stripped off resulting in causing a trace of a probe contact on the electrode pad after the measurement, an electrode film is formed on the surface of the electrode pad to cover the trace of probe caused on the electrode pad in a succeeding electrode pad forming step S103 to prevent the electrode film at the trace of probe from being exfoliated.例文帳に追加

測定後はプローブ針が接触した電極パッドの部分がめくれてプローブ痕が発生するが、次の電極パッド形成工程Ｓ１０３において、電極パッドの表面に電極膜を形成して電極パッドに発生したプローブ痕を覆うことにより、プローブ痕の電極膜が剥がれるのを防止することができる。 - 特許庁

To provide a probe for somatometry and a probe holder for the somatometry which realize simultaneous measurement by a probe for different kinds of measurement by an electrode and an optical probe.例文帳に追加

電極と光プローブの異種の測定用プローブによる同時測定を可能とする生体計測用プローブ、及び生体計測用プローブホルダーを提供する。 - 特許庁