REFLECTOMETERを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 27件
X-RAY REFLECTOMETER COMBINED WITH DIFFRACTOMETER例文帳に追加
組み合わされたX線反射率計及び回折計 - 特許庁
BEAM CENTERING METHOD AND ANGLE CALIBRATION METHOD FOR X-RAY REFLECTOMETER例文帳に追加
X線反射計用のビームセンタリング方法及び角度較正方法 - 特許庁
The first and second measured diffraction signals were consecutively measured using the polarized reflectometer.例文帳に追加
これら回折信号の測定には偏光反射率計を用いる。 - 特許庁
CONSECUTIVE MEASUREMENT OF STRUCTURES FORMED ON SEMICONDUCTOR WAFER USING POLARIZED REFLECTOMETER例文帳に追加
偏光反射率計を用いた半導体ウエハ上に形成された構造の連続測定 - 特許庁
OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETRY AND OPTICAL FREQUENCY DOMAIN REFLECTOMETER例文帳に追加
光周波数領域反射測定方法及び光周波数領域反射測定装置 - 特許庁
To provide a coherent OTDR (optical time domain reflectometer) capable of switching the on/off state of a dummy light.例文帳に追加
ダミー光のオンとオフを切り替えることができるコヒーレントOTDRを提供する。 - 特許庁
Laser beam is inputted from one end of an optical fiber 10 to calculate the fusing position of the optical fiber on the optical fiber by OTDR(Optical Time Domain Reflectometer) to form the profile data on the optical fiber.例文帳に追加
光ファイバ10の一方端からレーザ光を入力して、OTDR(Optical Time Domain Reflectometer )により光ファイバ上での光ファイバの融着位置を求め、光ファイバ上でのプロファイルデータを作成する。 - 特許庁
To provide a method of consecutive measurement of structures formed on a semiconductor wafer using a polarized reflectometer.例文帳に追加
偏光反射率計を用いた半導体ウエハ上に形成された構造の連続測定の方法を提供する。 - 特許庁
The optical system of the present invention comprises any one or more of reflectometer, polarimeter, imaging, interferometer, and/or scanning angle system.例文帳に追加
本光学システムは、反射計、偏光計、画像化、干渉計、および/または走査角システムのうちの任意の1つ以上を備える。 - 特許庁
An OTDR (Optical Time Domain Reflectometer)18 is connected to the optical line 13, and an OTDR waveform is acquired individually by a test optical pulse having each wavelength λ1-λ4.例文帳に追加
光線路13にOTDR18を接続し、波長λ1〜λ4の試験光パルスにより個別にOTDR波形を得る。 - 特許庁
While the lead fiber end is heated, an optical time domain reflectometer is used to measure reflected backscatter loss from the lead fiber end.例文帳に追加
リード・ファイバ端部を加熱する間、リード・ファイバ端部からの反射後方散乱損失を測定するために、光時間領域反射率計が使用される。 - 特許庁
The DUT 26 is arranged between a port 1 reflectometer 20 where a mismatch tuner 16 is connected between first and second directional couplers 14 and 18 and a port 2 reflectometer 32 formed of third and fifth directional couplers 24 and 34, and a fourth directional coupler 28 is connected to a low noise receiver 30.例文帳に追加
第1、第2の方向性結合器14、18の間にミスマッチ同調器16が接続されたポート1反射率計20と、第3、第5の方向性結合器24、34からなるポート2反射率計32の間にDUT26が配置され、第4の方向性結合器28が低雑音受信器30に接続されている。 - 特許庁
Light is radiated from an LED to a color patch using a spectral reflectometer, and the emitting wavelength of the LED in the light source is estimated by measuring its spectral reflectivity.例文帳に追加
分光反射計を用いて、カラーパッチにLEDから光を照射して、その分光反射率を測定することにより、の光源のLEDの発光波長を推定する。 - 特許庁
To provide an observation apparatus with which irregularities in the concentration of an observation object as a whole can be observed visually and simply, without using an optical measuring apparatus such as a transmissometer, a reflectometer of the like.例文帳に追加
透過率計や反射率計等の光学測定機器を使用せず、目視で簡便に観察対象物全体の濃度ムラを観察することが可能な観察装置を提供する。 - 特許庁
An OTDR (Optical Time Domain Reflectometer) waveform is acquired for each wavelength with testing lights of wavelengths of λ1, λ2, ..., λn, and an OTDR waveform of reference light λ0 different from all of them is acquired.例文帳に追加
λ1,λ2,…,λnの波長の試験光によりOTDR波形を各波長ごとに得て、さらに、これらのいずれとも異なる基準光λ0のOTDR波形を得る。 - 特許庁
Network communication signals such as a smart local access network(SLAN) signal and examination signals such as an optical time domain reflectometer(OTDR) signal are transmitted to an optical switch 290 having many output routes 295.例文帳に追加
スマートローカルアクセスネットワーク(SLAN)信号などのネットワーク通信信号および光パルス試験機(OTDR)信号などの検査信号は、多数の出力経路295を有する光スイッチ290に伝送される。 - 特許庁
To provide a low coherent reflectometer with high spatial resolution capable of keeping the high spatial resolution even in the case a spatial optical path length of a local emission light is varied.例文帳に追加
高い空間分解能を有するとともに、局発光の空間的な光路長の変化がある場合であっても高い空間分解能を維持することができる低コヒーレントリフレクトメータを提供する。 - 特許庁
To provide a simple method for measuring the disconnection of an optical fiber, in which Fresnel reflection light at a terminal part is not generated in performing the measurement of an ODTR (optical time domain reflectometer), with a jig having a simple shape, even when the jig is used.例文帳に追加
簡単な方法で、また、治具を用いる場合も簡単な形状のもので、OTDRの測定時における、終端部のフレネル反射光を生じさせない光ファイバの断線測定方法を提供する。 - 特許庁
The optical monitoring signal to be used for an optical time domain reflectometer (OTDR) is generated using a transceiver for generating an optical signal, thereby facilitating network management and monitoring and providing a network in more simplified configuration.例文帳に追加
光信号を生成するための送受信機を用いて、OTDRに用いる監視用光信号を生成することにより、網の管理及び監視が容易であり、より単純な構成の網を提供できる。 - 特許庁
The color of paint 8 is measured by a spectral reflectometer as a measuring means through the hole 1 and the see-through part 7 of the holding container 2 with the paint 8 as the colored liquid stored in the storage container 4.例文帳に追加
測定手段としての分光反射率計により、保持容器2の孔1と透視部7とを通して、収容容器4に着色液体としての塗料8が収容された状態で、塗料8の色を測定する。 - 特許庁
Before diffraction from a diffracting structure 12c on a semiconductor wafer 12 is measured, when necessary, the film thickness and refractive index of a film 12b located below the structure are first measured using a spectroscopic reflectometer 60 or a spectroscopic ellipsometer.例文帳に追加
半導体ウェハ12上の回折構造体12cからの回折の前に、必要な場合は、分光反射率計60または分光エリプソメータを使って構造体の下に位置する膜12bの膜厚と屈折率とをまず測定する。 - 特許庁
To provide a low-coherence reflectometer, facilitating the length adjustment of an optical path by shortening the length of the optical path, realizing cost reduction through simplifying of a device, and capable of accurately measuring the distribution of reflectivity and the power of reflected light.例文帳に追加
光路長を短くすることで光路の長さ調整を容易にするとともに、装置を簡略化して低コスト化を図り、且つ反射率分布及び反射光のパワーを正確に測定することができる低コヒーレントリフレクトメータを提供する。 - 特許庁
To provide a system and a program for monitoring instantaneous interruption enabling even a computer loaded with a non-real-time OS (Operating System) to preserve continuously vast measurement results acquired from OTDR (Optical Time Domain Reflectometer), and informing of generation of instantaneous interruption in real time.例文帳に追加
非リアルタイムOSを搭載したコンピュータであっても、OTDRから得られる膨大な測定結果を継続的に保存でき、かつ、リアルタイムで瞬断の発生を通報することができる瞬断監視システムおよび瞬断監視プログラムを提供する。 - 特許庁
The detecting apparatus includes: a macro-strip line disposed on a surface of the piping 1, which includes a sensor part 10 using the piping 1 as one electrode and having a dielectric layer and a metal electrode to be used as the other electrode; an ETDR (Electrical Time Domain Reflectometer) 11; an impedance measuring device 12; and a display device 13.例文帳に追加
配管1の表面に、配管1を一方の電極とし、誘電層およびもう一方の電極となる金属電極を備えるセンサ部10により構成されたマクロストリップ線路と、ETDR11と、インピーダンス計測装置12と、表示装置13を有する。 - 特許庁
The coating composition containing at least one surface-modified silicon dioxide coated with a polyorganosiloxane and/or modified polyorganosiloxane, etc., has a black number M_y of at least 140 when a 60° reflectometer value is <3.例文帳に追加
ポリオルガノシロキサン及び/又は変性されたポリオルガノシロキサン等で被覆された少なくとも1種の表面変性された二酸化ケイ素を含有する塗料配合物において、60゜反射率計値が3未満の場合、少なくとも140のシアーズ数M_yを有することを特徴とする、塗料配合物。 - 特許庁
To provide a method of calibrating a reflectivity of a reflectometer and a reflection densitometer which can implement the measurement accurately in a short time without carrying out a stabilization of irradiation output by using a feedback control and in which a cost and size of the instrument does not become large by performing the stabilization of irradiation output.例文帳に追加
本発明の課題は、フィードバック制御による照射出力の安定化を行わずに短時間で計測の高精度化を図り、照射出力の安定化によるコ-ストアップと計測装置の大型化をもたらすことのない反射率計、反射濃度計の反射率校正方法を提示することにある。 - 特許庁
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