| 意味 | 例文 |
SPEED TESTの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 653件
To realize test methods in actual operation conditions (actual operation test, At speed test) for the LSSD (Lever-Sensitive Scan Design) scanning test.例文帳に追加
LSSDスキャンテストにおいて、実動作状態でのテスト(実動作テスト、At speed test)を実現する。 - 特許庁
To speed up a test processing or generation of test data.例文帳に追加
試験処理や試験データの生成を高速化すること。 - 特許庁
HIGH SPEED TEST OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の高速テスト - 特許庁
SPEED SIGNALING TEST FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路のための速度シグナリング・テスト - 特許庁
SPEED BINNING TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SPEED BINNING TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
スピードビニングテスト回路、半導体装置、及び半導体装置のスピードビニングテスト方法 - 特許庁
To compactly generate a test series of high test quality for an actual working speed function test.例文帳に追加
実動作速度機能テストにおけるテスト品質の高いテスト系列をコンパクトに生成する。 - 特許庁
TEST JIG AND PROBE FOR TEST APPARATUS OF DEVICE FOR HIGH FREQUENCY AND HIGH SPEED例文帳に追加
高周波・高速用デバイスの検査治具および検査用プローブ - 特許庁
SPEED CONTROL DEVICE, AND VEHICLE COLLISION TEST DEVICE例文帳に追加
速度制御装置、車両衝突試験装置 - 特許庁
This test piece can be used as a disposable test piece improved in responding speed.例文帳に追加
応答速度が向上した使い捨て型の試験片として利用できる。 - 特許庁
To test a partial array self-refresh function at high speed.例文帳に追加
パーシャルアレイセルフリフレッシュ機能を高速にテストする。 - 特許庁
A low-speed test pattern generated by an external low-speed LSI tester is input to be transmitted to an inner circuit by converting the input low-speed test pattern to a high-speed test pattern.例文帳に追加
外部の低速LSIテスタから発生された低速のテストパターンを入力し、この入力した低速のテストパターンを高速のテストパターンに変換して内部回路に与える。 - 特許庁
In the drum durability test, the test speed is increased stepwise, and the test speed in each step is maintained for at least 5 hours.例文帳に追加
ドラム耐久試験において、試験速度を段階的に増加させると共に、各段階の試験速度を少なくとも5時間維持する。 - 特許庁
To speed up multi-bit test of a semiconductor memory device.例文帳に追加
半導体記憶装置のマルチビットテストを高速化する。 - 特許庁
HIGH-SPEED DIGITAL RADIOGRAPHY TEST FOR FUSELAGE OF AIRCRAFT例文帳に追加
航空機の胴体の高速ディジタル放射線写真検査 - 特許庁
In its test run, it traveled at a maximum speed of 40 kilometers per hour. 例文帳に追加
試験走行では,最高時速40キロで走行した。 - 浜島書店 Catch a Wave
In a serial test scenario 8 of a test bench 1, a high speed serial bus model 5 is controlled, and an asynchronous high speed serial bus is simulated.例文帳に追加
テストベンチ1のシリアルテストシナリオ8で、高速シリアルバスモデル5を制御し、非同期の高速シリアルバスを模擬する。 - 特許庁
CHANGE-OVER CLUTCH OF COMBINED TEST DEVICE FOR BRAKE AND SPEED例文帳に追加
ブレーキとスピードの複合試験装置の切り替えクラッチ - 特許庁
To efficiently test semiconductors at high speed.例文帳に追加
半導体装置の試験を効率的に且つ高速に行う。 - 特許庁
SPEED MEASUREMENT DEVICE AND OPERATION TEST DEVICE FOR ELEVATOR GOVERNOR例文帳に追加
速度測定装置、エレベータ調速機の動作試験装置 - 特許庁
To provide a test method of a ferroelectric memory in which a stress test can be performed at high speed.例文帳に追加
ストレス試験を高速に行うことができる強誘電体メモリの試験方法。 - 特許庁
An operation confirmation test of an excessive speed prevention means is incorporated in a load dump test.例文帳に追加
負荷遮断試験に過速度防止手段の動作確認試験を組み込むこととした。 - 特許庁
To provide a test board that can test multiple devices to be tested separately at high speed.例文帳に追加
複数の被テストデバイスのテストを高速かつ個別に行えるテストボードを提供する。 - 特許庁
To provide a computer system for optimizing balance between test accuracy and test speed.例文帳に追加
試験精度と試験速度との間のバランスを最適化するようなコンピュータシステムを提供する。 - 特許庁
The test relates to a reliability test of flexible separator configured so that a cycle speed in a test can be raised.例文帳に追加
試験におけるサイクルの速度を上げることが可能なように構成された可撓セパレータの信頼性試験に関する。 - 特許庁
To perform a running test for correlating designated speed to output vehicle speed from a variable-speed device, in a narrow course and in a short test time.例文帳に追加
指示速度と無段変速装置からの出力車速とを対応させるための走行テストを、狭小なコースで、かつ、テスト時間も短くて済むようにする。 - 特許庁
To reduce the number of test patterns and a test time in a test of a memory of a RAM and the like incorporated in a LSI, and to enable a test by actual operation speed.例文帳に追加
LSIに内蔵されたRAM等のメモリのテストにおけるテストパターン数およびテスト時間を削減し、また実動作スピードによるテストを可能とする。 - 特許庁
REDUCTION GEAR WITH BUILT-IN ONE WAY CLUTCH FOR AUTOMOBILE BRAKE SPEED TEST例文帳に追加
自動車ブレーキスピードテスト用一方向クラッチ内蔵型減速機 - 特許庁
To provide a testing device which can test a high-speed multivalued signal.例文帳に追加
高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。 - 特許庁
SPEED MONITORING DEVICE, PATTERN GENERATOR, AND SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS例文帳に追加
速度監視装置、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING SPHERICAL GELATIN USED FOR HIGH-SPEED STRIKE TEST例文帳に追加
高速打ち込み試験に用いる球形ゼラチンの製造方法 - 特許庁
To perform a high-speed collision test by a small-sized device.例文帳に追加
小型の装置で高速衝突試験を行なえるようにする。 - 特許庁
of sports, the action of setting up a competition to test speed performance 例文帳に追加
スポーツにおいて,スピードを競う形で競技を設定すること - EDR日英対訳辞書
TEST METHOD AND TEST DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE INCLUDING HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT DEVICE例文帳に追加
高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置 - 特許庁
To provide a test device capable of performing a highly accurate automatic test in high speed by improving linearity.例文帳に追加
高精度及びリニアリティを改善し、高速の自動テストを行える試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device in which a test is performed using a low speed test device.例文帳に追加
低速なテスト装置を用いてテストをすることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To speed up development by reducing time or trouble of redeployment of a test code every time adding or changing the test code or changing over the test code to another test code to smoothly perform a test.例文帳に追加
テストコードの追加や変更、別のテストコードへの切り替えの度にテストコードを再配備する手間や時間を減らすことによって、テストをスムーズに行えるようにし、開発のスピードアップを図る。 - 特許庁
The speed within the recording speed in the case of completion of the test recording is displayed as a recommended speed or settable speed and the speed is made possible to be set as the recording speed of a main recording.例文帳に追加
該テスト記録終了時の記録速度範囲内の速度を推奨速度または設定可能速度として表示し、該速度を本記録の記録速度として設定可能にする。 - 特許庁
To test a memory being operated at higher speed by a test apparatus generating a reference clock of low speed in a memory test method.例文帳に追加
本発明はメモリ試験方法に関し,低速度の基準クロックを発生する試験装置により高速で動作するメモリの試験を行うことを可能にすることを目的とする。 - 特許庁
To enable implementation of a high-quality, high-speed memory test even when using a low-speed tester.例文帳に追加
低速のテスタを用いた場合でも、高品質で高速のメモリテストを実施可能にすること。 - 特許庁
HIGH-SPEED SIGNAL TRANSMISSION LINE, AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
高速信号伝送線路とそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
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