| 意味 | 例文 |
Scan Designの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 58件
The designed barcode 100 includes a sequence of bar symbols 110 including a plurality of spaced bar symbols arranged in a scan direction X, and an additional pattern 130 for complementing a design represented by the outer form of the sequence of bar symbols 110.例文帳に追加
デザインバーコード１００は、スペースをおいてスキャン方向Ｘに配列された複数のバーシンボルを含むバーシンボル列１１０と、バーシンボル列１１０の外形が表す図案を補足する付加パターン１３０と、を含んでいる。 - 特許庁
Each of a plurality of scan images or an integrated image formed by integrating the plurality of scan images, is compared and collated with design data, and a magnification is determined, and a correlation quantity with the magnification in a local domain to which the charged particle beam is irradiated is determined from fluctuation of the magnification or the fluctuation tendency, and landing energy is changed according to the value.例文帳に追加
複数枚のスキャン画像の各々、あるいは複数枚のスキャン画像を積算した積算画像と、設計データとの比較照合を行い、倍率を求め、当該倍率の変動または変動の傾向から、荷電粒子ビームが照射されている局所領域における倍率との相関量を求め、その値に応じてランディングエネルギーを変化させる。 - 特許庁
To design a phased array transducer for freely and electronically selecting two-dimensional scan planes in two or more angular directions, for example, three or four angular directions.例文帳に追加
２つより多くの角度方向、例えば３つまたは４つの角度方向にある二次元走査平面を自由に電子的に選択できるようにするフェーズド・アレイ・トランスデューサを設計することにより、上記の問題に対する解決策を示す。 - 特許庁
After that, one block that is not still assigned the design for facilitation of inspection is selected (S12), the full scan designing is assigned (S14) to it, inspection point is assigned (S16) into a block in which the number of input pattern for parallel inspection become greater than a given value (YES at S15).例文帳に追加
その後、まだ検査容易化設計が割り当てられていないブロックを１つ選択し（Ｓ１２）、フルスキャン設計を割り当て（Ｓ１４）、フルスキャン設計したときのパラレル検査入力パターン数が所定値を超える（Ｓ１５でＹＥＳ）ブロックに、検査ポイントを挿入する（Ｓ１６）。 - 特許庁
The logic state of the flip-flop is examined, by retaining the logic state of the flip-flop and switching the operating mode of the semiconductor device being subjected to synchronization design, from the normal mode to the scan mode at an arbitrary time, and a normal operating article is compared with an abnormal operating one, thus specifying nonconforming flip-flops.例文帳に追加
同期化設計された半導体装置の動作モードを任意の時刻で、フリップフロップの論理状態を保持しつつ、ノーマルモードからスキャンモードに切り替えて、フリップフロップの論理状態を調べ、正常動作品と異常動作品の比較をすることで不具合フリップフロップを特定する。 - 特許庁
To provide a reflective display device which attains the symmetry of drive voltages with the same width of scan electrodes and data electrodes, thus facilitating the design of drive waveforms, and which enables the same types of drive ICs to be used for the two electrodes, thus facilitating mass-productivity.例文帳に追加
スキャン電極とデータ電極の幅を同一にして駆動電圧の対称性を具現することにより、駆動波形の設計を容易にし、両方の電極に同種の駆動ＩＣを使用することができるようにして、量産性に優れた反射型表示装置を提供する。 - 特許庁
Thus, the design of the scan test having a high failure detection rate is realized without increasing the chip area associated with the speed performance of an access path of the RAM or the hard macro core or the addition of a test circuit.例文帳に追加
あるいはスキャンテストのキャプチャ動作時にＲＡＭやハードマクロコアのデータ蓄積回路へキャプチャデータを順次蓄積しスキャンテスト後にＬＳＩ外部へ読み出して外部のＬＳＩテスタで期待値照合することでＲＡＭやハードマクロコアのアクセスパスの速度性能やテスト回路追加に伴うチップ面積増加を招くことなく、高い故障検出率のスキャンテスト設計を実現できる。 - 特許庁
When the reference data are generated from the design data, a scan list defined by coordinates of intersections found by scanning graphic data represented as polygons in a line direction in units of sub-pixels obtained by dividing a pixel or bit maps by the units of sub-pixels are generated, and an image intensity distribution corresponding to the transmissivity or phase distribution of a sample is calculated, using a physical model for partial coherent imaging.例文帳に追加
設計データから参照データを作成する際に、画素を分割したサブ画素単位で、多角形により表わされる図形データをライン方向に走査して求めた交点の座標で定義される走査リスト若しくはサブ画素単位のビットマップを生成し、試料の透過率や位相分布に応じた像強度分布を部分コヒーレント結像の物理モデルに基づいて計算する。 - 特許庁
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