「defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SOLID FORM DETECTOR FOR DEFECTS例文帳に追加

欠陥の立体形状検出装置 - 特許庁

METHOD FOR CLASSIFYING DEFECTS, PROGRAM, COMPUTER STORAGE MEDIUM, AND DEVICE FOR CLASSIFYING DEFECTS例文帳に追加

欠陥分類方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び欠陥分類装置 - 特許庁

Defects detected from the image Qb are almost all actual defects.例文帳に追加

この画像Ｑｂから検出される欠陥は、ほぼすべて実欠陥になる。 - 特許庁

Consequently, the effect due to the bright defects and the wide range of defects are excluded.例文帳に追加

これにより、明欠陥や広範囲の欠陥の影響が排除される。 - 特許庁

TESTING STRUCTURE FOR INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION AND INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION METHOD例文帳に追加

配線不良検出用試験構造体及び配線不良検出方法 - 特許庁

goods which can not be offered for sale because of low quality or defects 例文帳に追加

売り物にならない商品 - EDR日英対訳辞書

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECTS例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for second optical wafer inspection for such defects as metallization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad region defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING STAIN DEFECTS例文帳に追加

シミ欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

This system has obvious defects. 例文帳に追加

このシステムには明らかな欠陥がある。 - Tanaka Corpus

This system has obvious defects.例文帳に追加

このシステムには明らかな欠陥がある。 - Tatoeba例文

METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS OF BOTTLE例文帳に追加

壜の欠陥検査方法および装置 - 特許庁

The number of pit defects of the chamfer part as a measurement result is five defects/mm^2 or less.例文帳に追加

計測結果の面取り部のピット欠陥数は、５個／ｍｍ^２以下である。 - 特許庁

To detect defects of a data line, and defects of a TFT inner circuit as well.例文帳に追加

データラインの欠陥や、ＴＦＴ内部回路不良の欠陥も検出すること。 - 特許庁

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

To detect the defects of a coating film to form the coating film free from the defects.例文帳に追加

被覆塗膜の欠陥を検出し、欠陥のない被覆塗膜を形成する。 - 特許庁

They are the defects of his qualities. 例文帳に追加

あれが長所に伴う短所である - 斎藤和英大辞典

To accurately detect defects or classify defects with respect to inspecting defects in a halftone phase shift mask.例文帳に追加

ハーフトーン型の位相シフトマスクの欠陥検査に対して、欠陥検出や欠陥分類をより的確に行えるようにする。 - 特許庁

METHOD OF FORMING BUMP WITHOUT JUNCTION DEFECTS例文帳に追加

接合不良のないバンプの形成方法 - 特許庁

To efficiently detect periodic defects.例文帳に追加

周期性欠陥を効率よく検出する。 - 特許庁

To provide a high quality slab having less foaming defects and flux-caused defects.例文帳に追加

気泡性欠陥やフラックス性欠陥などが少ない高品質の鋳片を提供する。 - 特許庁

The amorphous phase 1 has defects.例文帳に追加

そして、アモルファス相１は、欠陥を有する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERN DEFECTS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

To solve the problem wherein distinguishing of defects generated during a process cannot be made from pseudo defects.例文帳に追加

プロセス中で発生した欠陥と、疑似欠陥とを区別することができない。 - 特許庁

Causes of generation of those defects are estimated to classify the defects by the causes.例文帳に追加

また、それらの欠陥の発生原因を推定し，原因別に欠陥を分類する。 - 特許庁

Utilize others' merits to remedy your own defects. 例文帳に追加

人の長を取って己が短を補う - 斎藤和英大辞典

Is this related to those defects? 例文帳に追加

これはその不具合と関係がありますか。 - Weblio Email例文集

Utilize others' merits to remedy your own defects. 例文帳に追加

人の長を取って己が短を補え - 斎藤和英大辞典

It is preferable that the defect determination means (18) determines the extracted defects into the dross defect and other defects based on at least one of area of the defects, image luminance of the defects, and forms of the defects.例文帳に追加

該欠陥判定手段（１８）は、抽出された欠陥を、該欠陥の面積、該欠陥の画像輝度、および該欠陥の形態のうちの少なくとも１つに基づいて、ドロス欠陥とその他の欠陥に判定することが好ましい。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING THREAD DEFECTS例文帳に追加

糸条の欠陥検査方法および装置 - 特許庁

The defects are optically observed by using the observed defects and their address coordinates.例文帳に追加

観察された欠陥及びそのアドレス座標を用い、欠陥を光学的に観察する。 - 特許庁

Defects susceptible to repair include, but are not limited to: critical size defects, non-critical size defects, non-union fractures, fractures, osteochondral defects, subchondral defects, and defects resulting from degenerative diseases such as osteochondritis dessicans.例文帳に追加

本発明の修復に受容可能である欠損は、重症サイズ欠損、非重症サイズ欠損、非癒合性骨折、骨折、骨軟骨欠損、肋骨下欠損、および離断性骨軟骨炎のような変性疾患から生じる欠損を含むがこれらに限定されない。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING COATING FILM DEFECTS AND METHOD OF FORMING COATING FILM FREE FROM DEFECTS例文帳に追加

被覆塗膜欠陥の検出方法および欠陥のない被覆塗膜の形成方法 - 特許庁

DETECTING METHOD FOR DEFECTS IN TFT ARRAY AND DETECTING DEVICE FOR DEFECTS IN TFT ARRAY例文帳に追加

ＴＦＴアレイの欠陥検出方法およびＴＦＴアレイの欠陥検出装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERN DEFECTS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECTS例文帳に追加

欠点検査方法及び欠点検査装置 - 特許庁

To facilitate analysis of defects and prevent cause study of the defects from becoming difficult.例文帳に追加

欠陥の解析を容易にし、欠陥の原因究明が困難になるのを防止する。 - 特許庁

Leads to defects in mechanical properties例文帳に追加

力学的性質の弱さを もたらしますが - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

There were defects in those products this time. 例文帳に追加

今回その製品に不具合が発生した。 - Weblio Email例文集

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERN DEFECTS例文帳に追加

パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING COATING MEMBER FOR INTERFACE DEFECTS例文帳に追加

コーティング部材の界面欠陥検査方法 - 特許庁

To heighten a correct answer ratio between genuine defects and pseudo-defects, and to improve the defect detection ratio.例文帳に追加

真正欠陥と疑欠陥の正答率を高め、欠陥検出率を向上させる。 - 特許庁

To provide a method of inspecting defects for precisely inspecting defects in wafers, and to provide a method of manufacturing semiconductor devices using the method of inspecting defects.例文帳に追加

ウェーハの欠陥を精度よく検査できる欠陥検査方法及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁