「defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR DETECTING PROCESSING IMAGE INDUCED DEFECTS例文帳に追加

プロセス画像誘起欠陥を検出する方法 - 特許庁

To prevent production of air bubbles as defects.例文帳に追加

欠陥としての気泡の発生を防止する。 - 特許庁

To provide a method of detecting crystal defects of a semiconductor and a method of observing crystal defects, whereby the defects can be evaluated conveniently under conditions of approximating actual defects.例文帳に追加

簡便かつ実際の欠陥に近い状態で欠陥の評価を行うことの可能な半導体の結晶欠陥の検出方法及び結晶欠陥の観察方法を提供すること。 - 特許庁

They checked the machine for defects. 例文帳に追加

彼らは欠陥がないかとその機械を調べた。 - Tanaka Corpus

They checked the machine for defects.例文帳に追加

彼らは欠陥がないかとその機械を調べた。 - Tatoeba例文

METHOD OF INSPECTING DEFECTS IN TRANSPARENT LAYER, METHOD OF INSPECTING DEFECTS IN THERMAL TRANSFER SHEET, AND THERMAL TRANSFER SHEET例文帳に追加

透明層の欠陥検査方法、熱転写シートの欠陥検査方法、及び熱転写シート - 特許庁

To easily discriminate appearance defects and to suppress the occurrence of the defects.例文帳に追加

容易に、外観不良を良否判別し、更に、これらの不良の発生を抑えることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for obtaining a high quality slab having less foaming defects and flux-caused defects.例文帳に追加

気泡性欠陥やフラックス性欠陥などが少ない高品質の鋳片を得る方法を提供する。 - 特許庁

To detect only fatal defects out of actual defects and predict the yield of products.例文帳に追加

実欠陥中の致命欠陥のみを検出し、製品の歩留まりを予測することを可能にする。 - 特許庁

To obtain a defect observation device and a method of observing defects capable of imaging defects more quickly.例文帳に追加

より短時間で欠陥を撮像できる欠陥観察装置および欠陥観察方法を得ること。 - 特許庁

Linear defects and point defects in the metal layer to be film-deposited on a glass substrate can be efficiently prevented.例文帳に追加

ガラス基板上に成膜されるメタル層での線欠陥や点欠陥を効率良く防止できる。 - 特許庁

METHOD OF REMOVING DEFECTS FROM SINGLE CRYSTAL AND CRYSTAL CLEARED OF THE DEFECTS BY THE METHOD例文帳に追加

単結晶体の欠陥除去方法及びその方法で欠陥除去された単結晶体 - 特許庁

In this graph, it is visually suggested that there are individual defects of picture constitution and defects of hierarchies.例文帳に追加

このグラフから、視覚的に、画面構成の個々の不備、階層上の不備の存在が示唆される。 - 特許庁

The defects are sampled based on a statistical method, and a set of sampling defects are obtained.例文帳に追加

統計学的手法に基づく欠陥のサンプリングが行なわれ、一組のサンプリング欠陥が得られる。 - 特許庁

The Ti-based film may have defects by crimping, and the defects may impart one or more structural weakness.例文帳に追加

このＴｉ基被膜は、構造的な脆弱部をもたらす圧着きずを有することがある。 - 特許庁

To accurately correct pixel defects of a solid-state imaging device even if there is defects in an inspection target itself.例文帳に追加

検査対象自体の欠陥があっても精確に固体撮像素子の画素欠陥を補正する。 - 特許庁

To obtain a biaxially oriented polyester film excellent in surface defects and internal defects such as color tone and the like.例文帳に追加

表面欠点、色調等の内部欠点に優れる二軸配向ポリエステルフィルムを得ること。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which detects minute real defects on a photomask while maximally preventing spurious defects from occurring.例文帳に追加

擬似欠陥の発生を最大限抑えながら、フォトマスク上の微細な実欠陥を検出する。 - 特許庁

Accordingly, the composite casting article free of the internal structural defects and shape defects can be obtained.例文帳に追加

従って、内部の構造的欠陥や形状不良がない複合鋳造品を得ることができる。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING DEFECTS IN ANISOTROPIC MATERIAL例文帳に追加

異方性材料の欠陥を検出する方法 - 特許庁

EXTRUSION METHOD PREVENTING OCCURRENCE OF INTERNAL DEFECTS例文帳に追加

内部欠陥発生を防止した押出し方法 - 特許庁

To accelerate disk access while avoiding defects.例文帳に追加

欠陥を回避しつつ、ディスクアクセスを高速化する。 - 特許庁

detailed description of the found defects例文帳に追加

発見された欠陥に関する詳細な説明 - Weblio Email例文集

What kind of defects occur in that?例文帳に追加

それにはどのような不具合が発生しますか？ - Weblio Email例文集

To generally and efficiently inspect defects in wafer surfaces.例文帳に追加

ウェーハ表面を全体的に欠陥検査する。 - 特許庁

To detect defects on a work surface.例文帳に追加

加工物の表面上の欠陥を検出する。 - 特許庁

To overcome defects of conventional turbo-jet engines.例文帳に追加

従来のターボジェットエンジンの欠点を克服する。 - 特許庁

Her character defects detracted from her leadership. 例文帳に追加

欠点のある性格が指導力に災いした. - 研究社 新和英中辞典

She had on to less than four defects. 例文帳に追加

彼女には少なくとも欠点が４つあった。 - Tanaka Corpus

Everyone has the defects of his qualities [virtues]. 例文帳に追加

《諺》 だれにも長所に伴う欠点がある. - 研究社 新英和中辞典

Every man has the defects of his own virtues.例文帳に追加

だれもが長所という欠点をもっている - 英語ことわざ教訓辞典

METHOD OF DETECTING DEFECTS IN SOI WAFER BOX LAYER例文帳に追加

ＳＯＩウェーハのＢＯＸ層欠陥検出方法 - 特許庁

To eliminate defects of known hollow fan blade.例文帳に追加

公知の中空ファンブレードの欠点を解消する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECTS IN SPECIMEN例文帳に追加

被検物の欠点検査方法および検査装置 - 特許庁

To improve the defects of conventional leaflet distribution.例文帳に追加

従来のチラシ配布の欠点を改善すること。 - 特許庁

When checking defects, an image is obtained and then is added to the defects information, and the defects information is compared with the image at the time of checking defects and an image detected by another apparatus or with the layout information, to correct the location of the defect.例文帳に追加

また、欠陥確認時に画像を取得、欠陥情報に付加し、欠陥確認時の画像と再度別装置で検出した画像、又は設計情報と照合することで欠陥位置を補正する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECTS OF SPECIMEN例文帳に追加

被検物の欠点検査方法および検査装置 - 特許庁

To more accurately detect defects in a semiconductor.例文帳に追加

半導体の欠陥をより正確に検出する。 - 特許庁

Those genetic defects get corrected in the womb.例文帳に追加

遺伝的欠陥も 子宮の中で修正される - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The method is characterised in that, when the presence of defects (new defects) in chips is confirmed (Yes) in a step S12, the process shifts to steps S14-S16 of calculating the survival expectation rates of the defects.例文帳に追加

ステップＳ１２で欠陥（新規欠陥）の存在が確認された場合（Ｙｅｓ）、ステップＳ１４〜Ｓ１６の生存期待率算出処理に移行する。 - 特許庁

When there are no parts without defects, positions with least defects are selected or positions at which defects are confined to a prescribed area are selected.例文帳に追加

欠陥の無い部分がない場合は、欠陥の数が最も少ない位置を選択するか、欠陥が全て指定した領域内にある位置を選択する。 - 特許庁

To improve pixel defects due to defects of a storage capacitance and defects of pixel TFT(thin film transistor) to be a satisfactory spot (to make a display device perform normal operation) substantially completely.例文帳に追加

各画素に蓄積容量とスイッチング素子を有する表示装置において、蓄積容量やスイッチング素子に欠陥があった場合の画素欠陥 - 特許庁

To provide improved osteogenic devices and methods of use thereof for repair of bone defects, cartilage defects and/or osteochondral defects.例文帳に追加

骨欠損、軟骨欠損、および／または骨軟骨欠損を修復するための、改良された骨形成デバイス、およびその使用方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspecting apparatus of paper cups for accurately determining defects according to a relation in a level in the area of the defects regardless of the shape of the defects.例文帳に追加

欠陥の形状に関係なく欠陥の面積の大小による欠陥判定を正しく行うことができる紙カップの検査装置を提供する。 - 特許庁

One method for binning defects includes binning defects into groups based on defect characteristics and the sets of inspection data in which the defects were detected.例文帳に追加

欠陥をビン分類する一方法は、欠陥の特性、及び、これらの欠陥が検出された検査データの組に基づいて、これらの欠陥をグループにビン分類する。 - 特許庁