「fail bit map」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A failure analysis system performs mesh splitting of a physical fail bit map, sorts the fail bit map image data of a part of the bit failure area by a contraction ratio, a chip, and a layer, and stores it in a first image data storage area 32.例文帳に追加

不良解析システムは、物理フェイルビットマップをメッシュ分割して、一部ビット不良領域のフェイルビットマップ画像データを縮約率毎、チップ毎、レイヤ毎に分類して第１画像データ記憶領域３２に記憶する。 - 特許庁

Next, an FBM (fail bit map) 27b is made by degenerating the FBM 27b with 8×8 bits.例文帳に追加

次に、ＦＢＭ２７ａを８×８ビットで縮退することにより、ＦＢＭ２７ｂが作成される。 - 特許庁

To disclose defect information such as fail bit map for many and unspecified persons by simple operation.例文帳に追加

簡単な操作によりより不特定多数者に対してフェイルビットマップ等の不良情報の開示を可能とする。 - 特許庁

To provide a device for failure analysis capable of simplifying an operation, related to superposition of each fail-bit map.例文帳に追加

フェイルビットマップ同士の重ね合わせに関連する操作を簡略化することができるフェイル解析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device comprising a means for instantly checking of fail bit map over the whole address space.例文帳に追加

全アドレス空間に亘ってのフェイルビットマップの確認を瞬時に可能とする手段を備える半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To easily prepare an FBM (fail bit map) by converting a logical address of a semiconductor chip with many memory macros mounted into a physical address.例文帳に追加

多数のメモリマクロが搭載された半導体チップの論理アドレスを物理アドレスに変換し、ＦＢＭの作成を容易に行う。 - 特許庁

The semiconductor memory testing apparatus constructed to allow fail bit map display for every wafer based on fail data taken from a fail memory is provided with a section for setting a chip retrieving condition for arbitrarily setting the fail chip retrieving condition.例文帳に追加

フェイルメモリから取り込んだフェイルデータに基づきウェハ単位でフェイルビットマップ表示するように構成された半導体メモリ検査装置において、フェイルチップ検索条件を任意に設定できるチップ検索条件設定部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

A calculation processing part 240 creates a fail bit map on the basis of the test result and the calculation expression selected by the calculation expression selection part 238.例文帳に追加

計算処理部２４０は、試験結果と、計算式選択部２３８によって選択された計算式と、に基づいてフェイルビットマップを作成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device failure analysis system that displays a fail bit map speedily so as to prevent increase in the cost of semiconductor device testing.例文帳に追加

フェイルビットマップを速やかに表示し、半導体装置の検査コストの増大を防止できる半導体装置の不良解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor defect analysis support device which supports improvement of fail bit map preparation efficiency in the test device of a semiconductor device, and a support method.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト装置におけるフェイルビットマップ作成効率の向上を支援する半導体不良解析支援装置および支援方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a transformation table for transforming fail bit map data in the test process of a semiconductor memory into physical coordinates using design data.例文帳に追加

半導体メモリのテスト工程におけるフェイルビットマップデータを物理座標に変換するテーブルを設計データを利用して作成する方法を提供する。 - 特許庁

The failure analysis system also sorts the fail bit map image data by a failure mode type, a contraction ratio, a chip, and a layer, and stores it in a second image data storage area 34.例文帳に追加

また、不良解析システムは、フェイルビットマップ画像データを不良モードの種類毎、縮約率毎、チップ毎、レイヤ毎に分類して第２画像データ記憶領域３４に記憶する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory inspection device which suppresses memory consumption in fail bit map data display processing of a GUI tool, and can increase processing speed.例文帳に追加

ＧＵＩツールでのフェイルビットマップデータ表示処理におけるメモリ使用量を抑え、処理速度を向上させることができる半導体メモリ検査装置を提供すること。 - 特許庁

When zooming or movement of a display range is instructed, a display range changing part 87 executes zooming processing or moving processing, so that images of each associated fail bit map move sequentially.例文帳に追加

表示範囲のズームや移動が指示されたときに、表示範囲変更部８７は、これらの関連付けが行われた各フェイルビットマップの画像が連動するように、ズーム処理や移動処理を行う。 - 特許庁

To make it possible to acquire FBM (Fail Bit Map) data at the actual operating speed (high speed operation) of a mounted memory even without providing an external memory for storing the FBM data in between a tester, with respect to a semiconductor device having a plurality of memories.例文帳に追加

複数のメモリを有する半導体装置に関し、テスタとの間にＦＢＭデータ格納用の外部メモリを設けなくとも、搭載メモリの実動作速度（高速動作）でのＦＢＭデータを取得できるようにする。 - 特許庁

To obtain a measuring system for a fail bit map of a semiconductor memory in which FBM data at high speed operation of a memory can be gathered even when a fault exists in a RAM for storing FBM data.例文帳に追加

ＦＢＭデータを保管する保管用ＲＡＭ自体に故障がある場合でも、メモリを高速で動作させた時のＦＢＭデータを採取することを可能にする半導体記憶装置フェイルビットマップ測定方式を得る。 - 特許庁

To efficiently capture FBM (a fail bit map) information for indicating physical position information of failure in a testing device and an testing method, especially in the failure analysis, for a RAM inside an LSI chip, such as a CPU and a DSP.例文帳に追加

ＣＰＵやＤＳＰ等のＬＳＩ内部におけるＲＡＭ用の試験装置及び試験方法に関し、特に障害解析において故障の物理位置情報を表すＦＢＭ情報（フェイルビットマップ）の取得を効率良く行うこと。 - 特許庁

Furthermore, the failure analysis system extracts the fail bit map image data from the first image data storage area 32 or the second image data storage area 34, merges it, and displays it on a display part 44, on the basis of instruction from a user for a display format and/or a display area.例文帳に追加

さらに、不良解析システムは、ユーザからの表示形式及び／又は表示領域の指示に基づいて、第１画像データ記憶領域３２又は第２画像データ記憶領域３４からフェイルビットマップ画像データを抽出して結合し、表示部４４に表示する。 - 特許庁

In a case where such an LSI is manufactured, defection analysis is carried out to create an FBM(fail bit map), if a plurality of continuous memory cells in the first row or column are defective, then it is judged that the contact plug 14 connecting the first and second wiring lines 12 and 13 is broken.例文帳に追加

このようなＬＳＩを製造し、不良解析を行ってＦＢＭを作成した場合、１ロウ又は１カラム内の連続する複数のメモリセルが不良であるときは、第１配線１２を第２配線１３に接続するコンタクトプラグ１４が断線していると判断する。 - 特許庁

The failure analysis device includes: a classification part for performing the classification of failure types in a fail bit map corresponding to each layer; a storage part for storing a rule for combining the defective cells of the different layers; and a determination part for performing the grouping of the classification results matched with the rule among the classification results of the classification part.例文帳に追加

本実施形態の不良解析装置は、各レイヤに対応するフェイルビットマップにおける不良タイプの分類を行う分類部と、異なるレイヤの不良セルを組み合わせるためのルールを格納する記憶部と、前記分類部による分類結果のうち前記ルールに合致する分類結果をグループ化する判定部と、を備える。 - 特許庁

When shmoo plot measurement, function data log measurement and fail bit map measurement are performed, part of a command included in a device test program, which is to be transferred to the thermostatic bath part 20 or tester part 20, is skipped (not transferred) according to the information stored in a shmoo condition table storage part 13 (or a structure corresponding thereto).例文帳に追加

但し、シュムプロット測定、ファンクションデータログ測定、及びフェイルビットマップ測定を行う場合には、シュム条件テーブル記憶部１３（又はこれに相応する構成）に記憶された情報に応じて、デバイステストプログラムに含まれ、恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送する命令の一部をスキップする（転送しない）。 - 特許庁