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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > impurity densityに関連した英語例文

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impurity densityの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 197



例文

An impurity density of the first semiconductor region is higher than an impurity density of the second semiconductor region.例文帳に追加

第1半導体領域の不純物濃度が、第2半導体領域の不純物濃度よりも高い。 - 特許庁

Further, the density of the channel area is made less than the impurity density of the low-density drain area.例文帳に追加

更に、前記チャネル領域を低濃度ドレイン領域の不純物濃度よりも低濃度にする。 - 特許庁

Then, an impurity density of the upper electrode is higher than an impurity density of the memory gate electrode MG.例文帳に追加

そして、上部電極の不純物濃度は、メモリゲート電極MGの不純物濃度よりも高くなっている。 - 特許庁

A source/drain region 17 includes a low density impurity region 171 and a high density impurity region 172.例文帳に追加

ソース・ドレイン領域17は、低濃度の不純物領域171及び高濃度の不純物領域172を含む。 - 特許庁

例文

The gate impurity region 6 and/or the channel forming impurity region 2 has an impurity density difference in the channel direction.例文帳に追加

ゲート不純物領域6および/またはチャネル形成不純物領域2が、チャネル方向に不純物濃度差を有する。 - 特許庁


例文

The drift region includes a second layer with impurity density increased in the lateral direction, and a first layer with impurity density adjusted to a low value.例文帳に追加

ドリフト領域は、横方向に不純物濃度が増加する第2層と、不純物濃度が薄く調整された第1層を備えている。 - 特許庁

The rectifier has a first semiconductor region of a first conductive type to which an impurity of a first impurity density is injected and a second semiconductor region of a second conductive type to which an impurity of a second impurity density that is lower than the first impurity density is injected.例文帳に追加

整流素子は、第1の不純物濃度で不純物が導入された第1導電型の第1半導体領域と、第1の不純物濃度よりも低い第2の不純物濃度で不純物が導入された第2導電型の第2半導体領域とを有する。 - 特許庁

The current diffusion layer has a first conductivity type impurity density.例文帳に追加

電流拡散層は、第1の導電形の不純物濃度を有する。 - 特許庁

In addition, the impurity density Nd of the JFET region 10 is equal to or higher than the impurity density of a drift layer 17 and equal to or lower than10^16 cm^-3.例文帳に追加

またJFET領域10の不純物密度Ndを、ドリフト層17の不純物密度以上であって1×10^16cm^-3以上とする。 - 特許庁

例文

The ions form a first impurity density in the first area 22 and form a second impurity density in the second area 20.例文帳に追加

イオンは、前記第1の領域22において第1の不純物濃度を形成するとともに前記第2の領域20において第2の不純物濃度を形成する。 - 特許庁

例文

Furthermore, the semiconductor layer 30 is provided with first and second Si body areas 22 and 23 including high-density p-type impurity, an SiGe layer 24 including low-density p-type impurity, and an Si channel layer 25 including the low-density p-type impurity.例文帳に追加

また、高濃度のp型不純物を含む第1,第2Siボディ領域22,23と、低濃度のp型不純物を含むSiGe層24と、低濃度のp型不純物を含むSiチャネル層25とが設けられている。 - 特許庁

The body region 3 has an impurity density of10^16 cm^-3 or more.例文帳に追加

ボディ領域3は5×10^16cm^-3以上の不純物密度を有する。 - 特許庁

The p-type InGaAlP cladding layer 34 is provided with a high density layer 41 having a relatively high doping density of a p-type impurity, and a low density layer 42 formed on the high density layer 41 and having a relatively low doping density of a p-type impurity.例文帳に追加

p型InGaAlP下クラッド層34は、p型不純物のドーピング濃度の相対的に高い高濃度層41と、その高濃度層41上に形成され、p型不純物のドーピング濃度の相対的に低い低濃度層42とを備えている。 - 特許庁

Additionally, the impurity density of a p-type anode layer 50 in the diode element region J2 is low compared to the impurity density of a p-type body layer 30 in the IGBT element region J1.例文帳に追加

また、ダイオード素子領域J2のp型のアノード層50の不純物濃度が、IGBT素子領域J1のp型のボディ層30の不純物濃度と比較して低い。 - 特許庁

This can form the first metal film with different density of the impurity elements.例文帳に追加

これにより、不純物元素濃度の異なる第1の金属膜を基板上に形成できる。 - 特許庁

The TFT is not provided with an LDD region (low density impurity region).例文帳に追加

このTFTは、LDD領域(低濃度不純物領域)を有しない構造とする。 - 特許庁

METHOD FOR OPTIMIZING DENSITY DISTRIBUTION OF IMPURITY IN SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EQUIPMENT AND RECORDING MEDIA THEREFOR例文帳に追加

半導体素子の不純物濃度分布の最適化方法、装置および記録媒体 - 特許庁

Because of the short-time heat treatment, impurity density profile in the diffused layer is not disturbed.例文帳に追加

短期間の熱処理のため拡散層の不純物プロファイルに影響を与えない。 - 特許庁

Further, the gate electrode 12d is formed to such a thickness that impurity ions are stopped from being transmitted when the impurity ions are injected in a high-density impurity layer forming stage, a high-density impurity layer 22 can be formed by injecting the impurity ions into the semiconductor substrate 10 while using the same gate electrode 12d as a mask.例文帳に追加

また、ゲート電極12dが高濃度不純物層形成工程で不純物イオンを注入するときに不純物イオンの透過を妨げる厚さに形成されるため、同じゲート電極12dをマスクにして半導体基板10に不純物イオンを注入し、高濃度不純物層22を形成することができる。 - 特許庁

To easily execute the extraction of impurity density distribution at a high speed from the electric characteristics of a MOS FET at the time of extracting the impurity density distribution in the horizontal direction of the channel surface of the MOS FET.例文帳に追加

MOS FET のチヤネル表面の横方向における不純物濃度分布を抽出する際、MOS FET の電気的特性から不純物濃度分布の抽出を高速かつ簡便に実行する。 - 特許庁

A base region BA of the bipolar transistor BT has a p-type impurity density higher than the n-type impurity density of the n-channel forming region NC of the p-MOS transistor PT.例文帳に追加

バイポーラトランジスタBTのベース領域BAは、pMOSトランジスタPTのn^-チャネル形成領域NCのn型の不純物濃度よりも高いp型の不純物濃度を有している。 - 特許庁

The impurity density of a second diffusion region constituting the first ballast resistance 4 is lower than the impurity density of a fourth diffusion region constituting the second ballast resistance 6.例文帳に追加

第1バラスト抵抗4を構成する第2拡散領域の不純物濃度は、第2バラスト抵抗6を構成する第4拡散領域の不純物濃度よりも低濃度にされている。 - 特許庁

Thus, the continuity of the impurity regions between the impurity region 172 and the impurity region 171 being a low density extension region can be ensured, and the electric connection can be stabilized.例文帳に追加

これにより、不純物領域172と低濃度エクステンション領域である不純物領域171相互間の不純物領域の連続性が確保され、電気的接続が安定化する。 - 特許庁

To make steep impurity density distribution in a channel direction, in an extension region.例文帳に追加

エクステンション領域におけるチャネル方向の不純物濃度分布を急峻にすることができる。 - 特許庁

The source and drain regions 14a, 14b have practically the same shape and the same impurity density.例文帳に追加

各ソース,ドレイン領域14a,14bは実質的に同等の形状及び不純物濃度である。 - 特許庁

Namely, the shape of the gate electrode 12d need not be changed between the forming stages of the low-density impurity layer 21 and high-density impurity layer 22, so the electrode forming stage can be shortened.例文帳に追加

つまり、ゲート電極12dの形状を低濃度不純物層21と高濃度不純物層22の形成工程で変更する必要がないので、電極形成工程を短縮することができる。 - 特許庁

The infrared light block layer 3c includes a high density impurity doping layer which is doped with a high density impurity (for example, boron, etc.) (i.e. the infrared light block layer 3c is formed in the base portion 3b).例文帳に追加

赤外線阻止層3cは、不純物(例えば、ボロンなど)が高濃度ドーピングされた高濃度不純物ドーピング層により構成してある(つまり、赤外線阻止層3cをベース部3b内に形成してある)。 - 特許庁

Then, the controller 30 controls the fuel electrode exit valve 13 to be opened when impurity density Dn in a presumed fuel electrode becomes larger than upper limit impurity density Ds.例文帳に追加

そして、コントローラ30は、推定された燃料極における不純物濃度Dnが上限不純物濃度Dsよりも大きくなった場合、燃料極出口バルブ13を開状態に制御する。 - 特許庁

Impurity density of the surface of the wafer may be10^11 atoms/cm^2 or less.例文帳に追加

また、当該ウェハの表面の不純物密度を1×10^11atoms/cm^2以下とすればよい。 - 特許庁

The impurity density of the collector well region 44 is lower than those of the collector regions 46, 48.例文帳に追加

コレクタウェル領域44の不純物濃度は、コレクタ領域46,48の不純物濃度よりも薄い。 - 特許庁

The impurity density of the p-type body regions 14 is10^16 cm^-3 or more.例文帳に追加

p型ボディ領域14における不純物密度は5×10^16cm^−3以上となっている。 - 特許庁

In the channel region 111, an impurity density in a first region near the drain region 107 is lower than an impurity density in a second region other than the first region in the channel region 111.例文帳に追加

チャネル領域111において、ドレイン領域107近傍の第1領域における不純物濃度は、チャネル領域111における第1領域以外の第2領域における不純物濃度に比べて低い。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a semiconductor wafer having a check element capable of electrically and easily detecting low-density impurity contamination below a high-density impurity region in a process of manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造工程において、高濃度不純物領域下の低濃度不純物汚染を電気的に容易に検出することができるチェック素子を有する半導体装置及び半導体ウェハを提供する。 - 特許庁

When the density of impurities is lower than a first threshold, a controller 30 allows stoppage of idling, and prohibits the idling when the density of the impurity exceeds the threshold.例文帳に追加

コントローラ30は、この不純物濃度が第1閾値以下である場合、アイドルストップを許可し、不純物濃度が第1閾値を超えた場合、アイドルストップを禁止する。 - 特許庁

At that time, impurity for imparting one conductivity is not doped to the semiconductor layer 14, and impurity for one conductivity is doped to the semiconductor layer 15 at high density.例文帳に追加

この際、半導体層(14)には一導電型を付与する不純物を添加せず、半導体層(15)には一導電型を付与する不純物を高濃度に添加する。 - 特許庁

In this layer structure, a p-type impurity density at the area near the hetero interface of the interface 1 is specified as follows.例文帳に追加

この層構成において、界面1のヘテロ界面近傍のp型不純物密度を以下のように規定する。 - 特許庁

Impurity concentration in the plating film can be set by controlling a current density, a plating temperature and a liquid composition.例文帳に追加

めっき膜中の不純物濃度は電流密度、めっき温度、液組成などにより設定することができる。 - 特許庁

In the drain area 24, a drain 11d is formed having larger impurity density than the drain area 24.例文帳に追加

ドレイン領域24内にドレイン領域24よりも濃い不純物濃度をもつドレイン11dが形成されている。 - 特許庁

EXTRACTION METHOD AND EXTRACTION DEVICE FOR IMPURITY DENSITY DISTRIBUTION WITHIN SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND EXTRACTION PROGRAM RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体基板内不純物濃度分布の抽出方法、抽出装置および抽出プログラム記録媒体 - 特許庁

The p-type impurity density in the p-type body regions 4 is more than or equal to10^16 cm^-3.例文帳に追加

そして、p型ボディ領域4におけるp型不純物密度は5×10^16cm^−3以上である。 - 特許庁

A thickness and impurity density of an I layer 32I (channel region, semiconductor layer) of a photo detector 3 and a thickness and impurity density of an I layer 22I (channel region, semiconductor layer) of a TFT element 2 are nearly identical to each other.例文帳に追加

光検出素子3におけるI層32I(チャネル領域,半導体層)と、TFT素子2におけるI層22I(チャネル領域,半導体層)とにおいて、それらの厚みおよび不純物濃度がそれぞれ互いに略等しくなっている。 - 特許庁

An n^--type impurity is doped in the gate oxide film to provide a high performance structure having a low surface level density, a low fixed charge density and a high reliability.例文帳に追加

これにより、ゲート酸化膜中にN型不純物がドーピングされるようにして、界面準位密度や固定電荷密度の低い信頼性が高く、高性能な構造とする。 - 特許庁

The high-density pressed solid material having a relative density of70% of the high-temperature superconducting substance with less impurity is obtained by pressing using a shock wave.例文帳に追加

衝撃波を用い圧縮することで、相対密度が70%以上の不純物の少ない高温超伝導物質の高密度圧縮固形材料を得る。 - 特許庁

The impurity density of the unidirectionally conductive semiconductor substrate is lower than usual.例文帳に追加

また、本願発明は、一導電型半導体基板の不純物濃度を通常よりも低くしておくことを特徴とする。 - 特許庁

A first conductive type impurity region is formed below the first terminal 11c, and a high-density second conductive type impurity region is formed below the second terminal 11b.例文帳に追加

第1端子11cの下には第1導電型不純物領域が形成されており、第2端子11bの下には、高濃度第2導電型不純物領域が形成されている。 - 特許庁

To provide technology for forming a plurality of impurity regions having mutually-different depths to a peak position of impurity density in a semiconductor substrate with small man hours compared with the conventional art.例文帳に追加

不純物濃度のピーク位置までの深さが互いに異なる複数の不純物領域を半導体基板内に従来よりも少ない工数で形成するための技術を提供する。 - 特許庁

Apart from an n-type collector layer 24, a p^- -type impurity area 31 is formed which has lower impurity density than a p-type base layer 21 while connected to the p-type base layer 21.例文帳に追加

n型コレクタ層24と離間した位置に、p型ベース層21に接続した状態でp型ベース層21より不純物濃度の低いp^−型不純物領域31を形成する。 - 特許庁

The well 58 has a 1st peak of impurity density in an area deeper than the pocket area 40 and shallower than the bottom of the source/drain area 60 and also has a 2nd peak of impurity density in an area of the source/drain area 60 in the vicinity of the bottom.例文帳に追加

ウェル58は、ポケット領域40よりも深くソース/ドレイン領域60の底部よりも浅い領域に不純物濃度の第1のピークを有し、ソース/ドレイン領域60の底部近傍の領域に不純物濃度の第2のピークを有する。 - 特許庁

Moreover, the impurity density of the fourth semiconductor layer 107 is configured to be greater than that of the second region 106, and the impurity density of the second semiconductor layer 103 is configured to be greater than that of the first region 105 and smaller than that of the first semiconductor layer 102.例文帳に追加

さらに、第4半導体層107の不純物濃度を第2領域106以上にするとともに、第2半導体層103の不純物濃度を第1領域105以上にし、第1半導体層102よりも小さく設定する。 - 特許庁

例文

In a varactor part 11a, an anode electrode 104a is formed in the emitter intermediate layer 53 with high impurity density, and a cathode electrode 105a is formed on the emitter layer 51 with low impurity density to constitute a diode with hyperabrupt junction structure.例文帳に追加

バラクタ部11aにおいては、高不純物濃度のエミッタ中間層53にはアノード電極104aが、一方、低不純物濃度のエミッタ層51の上にはカソード電極105aが形成され、超階段接合構造のダイオードを構成している。 - 特許庁




  
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