「microscopy method」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MICROSCOPY SYSTEM FOR EYE SURGERY, AND METHOD FOR OPERATING THE SAME例文帳に追加

眼科外科手術用顕微鏡システムおよびその作動方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING SAMPLE WITH SCANNING MICROSCOPY例文帳に追加

走査顕微鏡により試料を画像化するための方法および装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY例文帳に追加

透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法および装置 - 特許庁

APPARATUS FOR DETERMINING LIGHT POWER LEVEL, MICROSCOPE, AND METHOD FOR MICROSCOPY例文帳に追加

光パワーレベルを決定するための装置、顕微鏡および顕微鏡法 - 特許庁

a method of using fluorescence microscopy to detect the presence of an antigen indirectly 例文帳に追加

抗原を間接的に検出するための蛍光顕微鏡検査の方法 - 日本語WordNet

MICROSCOPY IMAGING SYSTEM AND METHOD EMPLOYING STIMULATED RAMAN SPECTROSCOPY AS CONTRAST MECHANISM例文帳に追加

誘導ラマン分光を対比機構として利用する顕微撮像システム及び方法 - 特許庁

METHOD FOR QUANTITATIVE VIDEO-MICROSCOPY AND ASSOCIATED SYSTEM THEREWITH AND COMPUTER SOFTWARE PROGRAM PRODUCT例文帳に追加

定量ビデオ顕微鏡法とそれに関連するシステムおよびコンピュータソフトウェアプログラム製品 - 特許庁

EVACUATED TUBE, METHOD FOR MICROSCOPY EXAMINATION OF URINE SEDIMENT, CHEMISTRY, AND MICROBIOLOGICAL ASSAY例文帳に追加

真空の管および尿沈殿物の顕微鏡検査、化学及び微生物の分析のための方法 - 特許庁

To provide a system and method for processing and analyzing virtual microscopy digital images ("virtual slides").例文帳に追加

バーチャル鏡検法デジタル画像（「バーチャルスライド」）を処理及び解析するシステムと方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD例文帳に追加

走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁

FUNCTIONAL DEVICE, PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPY HAVING PROBE, AND MANUFACTURING METHOD OF FUNCTIONAL DEVICE AND PROBE例文帳に追加

機能デバイス、プローブおよびそれを用いた走査プローブ顕微鏡、ならびに、機能デバイスおよびプローブの作製方法 - 特許庁

To provide a method of fabricating an acicular sample for field ion microscopy which can be observed at a desired part.例文帳に追加

所望の箇所での観察が可能な電界イオン顕微鏡観察用針状試料作製方法を提供する。 - 特許庁

ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁

In a method of producing samples for transmission electron microscopy, a sample is prepared from a substrate (110) of a sample material.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法の場合、サンプルはサンプル材料の基材（１１０）から準備される。 - 特許庁

AUTOMATIC POSITION SUPERIMPOSING METHOD OF TWO-DIMENSIONAL ANALYSIS IMAGE BY MASS SPECTROMETRY MICROSCOPY AND TWO-DIMENSIONAL VISIBLE IMAGE BY OPTICAL PHOTOMICROSCOPY例文帳に追加

顕微質量分析の二次元解析画像と、光学顕微鏡撮影の二次元可視画像との自動的位置重ね合わせ方法 - 特許庁

To provide a dielectric recording and reproducing head and a tracking method of a dielectric recording and reproducing device using an SNDM(Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy).例文帳に追加

ＳＮＤＭを利用した誘電体記録再生装置の誘電体記録再生ヘッド及びトラッキング方法を提供する。 - 特許庁

To provide surgical microscopy examination system and method, including an image processor capable of favorably detecting the center of an eye.例文帳に追加

眼の中心を良好に検出することができる画像処理装置を持つ手術用顕微鏡検査システム及び方法を提供する。 - 特許庁

A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.例文帳に追加

強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for three-dimensional optical microscopy which provides very enhanced depth that is Z direction resolution.例文帳に追加

非常に強化された深度即ちＺ方向の分解能を提供する３次元光学顕微鏡法のための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This method and apparatus is particularly applicable to microscopy and high-speed optical data communication, particularly at wavelengths in the visible and ultraviolet spectra.例文帳に追加

この方法及び装置は、特に、顕微鏡法及び高速光データ通信、特に可視もしくは紫外線スペクトルの波長でのものに適用できる。 - 特許庁

To provide an analysis method of observing, with an electron microscopy, a specific matter itself observed with an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。 - 特許庁

The method for analyzing core-shell particles further includes the steps of: confirming that the carrier having the core-shell particle supported thereon has a core-shell structure by an electron microscopy; and analyzing the composition of the carrier having the core-shell particle supported thereon by the electron microscopy.例文帳に追加

このコアシェル粒子の分析法には、更に、コアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡によりコアシェル構造であることを確認する工程、及びコアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡により組成分析する工程を付加することができる。 - 特許庁

A non-binding component in a solution subjected to analysis is separated from a bound fraction, and the binding can be detected by microscopy, fluorometry, epi-fluorometry, luminescence method, phosphorescent method, radioactive method or absorption photometry.例文帳に追加

分析に付される溶液中の非結合成分は結合画分から分離され、結合は、顕微鏡法、蛍光法、エピ蛍光法、ルミネッセンス法、燐光法、放射能法、あるいは吸光度法による検出が可能である。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PROVIDING TUNABLE OPTICAL PARAMETRIC OSCILLATOR LASER SYSTEM THAT PROVIDES DUAL FREQUENCY OUTPUT FOR NON-LINEAR VIBRATIONAL SPECTROSCOPY AND MICROSCOPY例文帳に追加

非線形振動分光法および顕微鏡法のための２周波出力を提供する同調可能な光パラメトリック発振器レーザシステムを提供するシステムおよび方法 - 特許庁

The method for quantitative video-microscopy determining an amount of at least one molecular specie comprising a sample, each molecular specie being indicated by a dye, is provided.例文帳に追加

サンプルを構成する少なくとも１つの分子種であって、それぞれ色素によって示される分子種の量を決定する定量ビデオ顕微鏡法が提供される。 - 特許庁

It should be mentioned that if the image is changed from underfocus into overfocus, the white lines change into black lines in the defocus method of Lorentz microscopy. 例文帳に追加

もし像がアンダーフォーカスからオーバーフォーカスに変えられると、ローレンツ顕微鏡法のデフォーカス法においては、白い線は黒い線に変わるということが言及されるべきである。 - 科学技術論文動詞集

To provide a method and an apparatus for preparing a genome physical map in which position information is recovered by directly positioning a library clone and a marker on a chromosome in a pachytene stage in high resolution by SNOM (scanning near-field optical microscopy).例文帳に追加

SNOMによりライブラリークローンやマーカーをパキテン期染色体上に高分解能で直接位置づけることにより位置情報を回復するゲノム物理地図作成方法及び装置。 - 特許庁

The method and apparatus for three-dimensional optical microscopy employ dual opposing objective lenses (70 and 72) about a sample (94) and extended incoherent illumination (84) to provide enhanced depth resolution.例文帳に追加

標本（９４）についてデュアル対向対物レンズ（７０、７２）及び拡張インコヒーレント照明（８４）を用いて向上された深度分解能を提供する３次元光学顕微鏡法のための方法及び装置が開示される。 - 特許庁

To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.例文帳に追加

ＬＳＴで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なＴＥＭで測定できる八面体のＢＭＤを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of producing a sample for transmission electron microscopy that effectively restricts the zone of the sample, is rapidly produced in a reproduced form, and hardly causes breakage in many different sample materials, and a device appropriate for executing the method.例文帳に追加

サンプルが、効果的に区域限定されかつ再現されるような形で迅速に作成されることを可能にすると共に、多数の異なるサンプル材料に関して損傷を殆ど引き起こさない透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法、および該方法を実施するのに適した装置を提供する。 - 特許庁

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁