「principal normal」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The microlens sheet is designed so that the range of the emission angle of the light through each unit lens is ≥±30° with respect to a normal line to the principal plane of the microlens sheet, and also, the range of horizontal spherical aberration generated by each unit lens with respect to the lens diameter satisfies the following expression: 0%< horizontal spherical aberration/lens diameter ≤50%.例文帳に追加

個々の単位レンズによる光線射出角度の範囲が、マイクロレンズシート主平面への法線に対して±３０°以上であり、かつ、個々の単位レンズにより生じる横球面収差の範囲を、レンズ径に対して、０％＜横球面収差／レンズ径≦５０％となるように設計してなることを特徴とする。 - 特許庁

The microlens sheet is designed in such a manner that the range of the ray exit angles by the individual unit lenses is ≥±30° with respect to the normal to the principal plane of the microlens sheet and that the range of the transverse spherical aberrations produced by the individual unit lenses attains 0% < transverse spherical aberrations ≤ 50% with respect to the diameters of the lenses.例文帳に追加

個々の単位レンズによる光線射出角度の範囲が、マイクロレンズシート主平面への法線に対して±３０°以上であり、かつ、個々の単位レンズにより生じる横球面収差の範囲を、レンズ径に対して、０％＜横球面収差≦５０％となるように設計してなることを特徴とする。 - 特許庁

On a substrate whose normal direction of a principal surface is inclined by 15° toward a crystal orientation [111]A direction with respect to a crystal orientation [100] direction, a plurality of semiconductor layers including a resonator structural body including an active layer, and a lower semiconductor DBR and an upper semiconductor DBR sandwiching the resonator structural body are stacked.例文帳に追加

主面の法線方向が、結晶方位［１ ０ ０］方向に対して、結晶方位［１ １ １］Ａ方向に向かって１５度傾斜している基板上に、活性層を含む共振器構造体及び該共振器構造体を挟んで設けられた下部半導体ＤＢＲ及び上部半導体ＤＢＲを含む複数の半導体層が積層されている。 - 特許庁

In the abnormal inspection system 100, the foreign materials or the detective products are detected by analyzing the spectrum image with the support vector machine and thus can be detected, for example, even if the difference of spectrum between a normal part and an abnormal part is slight compared to a conventional principal component analysis, thereby the abnormal part can be detected with higher accuracy.例文帳に追加

この異状検査システム１００では、サポートベクターマシンを用いてスペクトル画像を解析して、異物また不良品を検出するため、従来の主成分分析と比較して、例えば正常部分と異状部分とのスペクトルの差が微弱であっても検出が可能となるため、より高い精度で異状部分の検出を行うことができる。 - 特許庁

Further, a buried collector layer 103 is formed by ion-implanting (151) second conductivity second impurities to the semiconductor single crystal substrate 100 in a direction having an inclined angle to the normal line direction of the principal surface of the semiconductor single crystal substrate 100, with an implantation energy higher than that in the ion implantation process of the first impurities.例文帳に追加

また、半導体単結晶基板１００の主面の法線方向に対して傾斜角度を持つ方向に沿って半導体単結晶基板１００に、前記第１不純物のイオン注入処理における注入エネルギーよりも高い注入エネルギーで、第２導電型の第２不純物をイオン注入（１５１）することにより埋め込みコレクタ層１０３を形成する。 - 特許庁

A maximum angle θ1 out of angles formed between respective principal rays going from a first imaging system toward a second imaging system and a normal of a reduction-side conjugate surface and an angular difference θ2 between an incidence angle and an exit angle in the second imaging system, of the ray emitted at this maximum angle are prescribed so as to be within prescribed ranges.例文帳に追加

また、第１結像系から第２結像系に向かう主光線の各々と縮小側の共役面の法線とのなす角度のうち最大角θ１、およびこの最大角で出射された光線の第２結像系における入射角と出射角の角度差θ２、が所定範囲となるように規定されている。 - 特許庁

The crystalline ceria thin film catalyst is a thin film consisting of a crystal with the ceria formed on the surface of a base material as a principal component, wherein the thin film is grown from the surface of the base material and is composed of columnar crystal, and the orientation of a crystal face in the thin film is in a (100) direction to a normal of the base material surface is provided.例文帳に追加

基材の表面に形成されたセリアを主成分とする結晶からなる薄膜であって、前記薄膜が前記基材表面から成長してなる柱状結晶からなり、且つ前記薄膜の結晶面の方位が前記基材表面の法線に対して（１００）方向となっていることを特徴とする結晶性セリア薄膜触媒。 - 特許庁