「sample points」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The skew adjustment circuit comprises a sampling point selection section 300 that performs comparison processing on oversampled data, estimates transition points of serial data, and outputs a sampling point selection signal, and a data recovery section 400 that outputs the oversampled data at the sampling point selected by the selection signal, as sample data for the serial data.例文帳に追加

スキュー調整回路は、オーバーサンプルデータの比較処理を行い、シリアルデータの遷移点を推定し、サンプリングポイントの選択信号を出力するサンプリングポイント選択部３００と、選択信号により選択されるサンプリングポイントでのオーバーサンプルデータをシリアルデータのサンプルデータとして出力するデータリカバリ部４００を含む。 - 特許庁

To automatically increase color reproducibility without depending on a device even in an area with strong linearity or an area with strong non-linearity by noting the property of the device, especially the geometrical relation of adjacent or neighboring sample points when determining the mixture rate of color conversion results in different algorithms.例文帳に追加

異なる補間アルゴリズムの色変換結果の混合割合を決定する際に、デバイスの性質、特に隣接するまたは近傍の標本点同士の幾何学的な関係に着目することで、線形性が強いエリアでも非線形性が強いエリアでもデバイスによらないで自動的に色再現性を向上させることにある。 - 特許庁

The external parameters from the global coordinate system GCS at the given position Q is calculated by using the transformed external parameters of the local coordinate systems LCSi of the sample points Pi, and shading or illumination at the given position Q is then performed by using the calculated surface normal N at the given position Q and the calculated external parameters at the given position Q.例文帳に追加

所定位置Ｑにおける全体座標系ＧＣＳからの外部パラメータを、サンプル点Ｐiの局所座標系ＬＣＳiの変換済み外部パラメータを使用することによって計算し、所定位置Ｑにおける計算済み表面法線Ｎと所定位置Ｑにおける計算済み外部パラメータを使用して、所定位置Ｑにおけるシェーディング又は照明を行う。 - 特許庁

In the analysis apparatus for analyzing samples having known concentration at many points for creating or correcting a calibration curve, an analyzer section 5 measures at least m (1≤m≤n-1) sample having known concentration, and the measurement result is used by a data processor section 16 and the calibration curve is created or corrected.例文帳に追加

検量線の作成若しくは補正のために多点の既知濃度試料を分析する分析装置に於いて、アナライザ部５にて、ｎ個の既知濃度試料のうち、少なくともｍ（１≦ｍ≦ｎ−１）個の既知濃度試料の測定が行われ、データプロセッサ部１６にてその測定結果が用いられて検量線の作成若しくは補正が行われる。 - 特許庁

To quantitatively and correctly recognize by using a sample for analysis an impact to a semiconductor device or the like given by hydrogen generated in manufacturing the semiconductor device or the like, for example various impacts by the hydrogen which are affected to a ferroelectric film, that is, a capacitor film in manufacturing an FRAM and are weak points of the ferroelectric film.例文帳に追加

半導体装置等の製造において発生する水素が、当該半導体装置等に与える影響、例えばＦＲＡＭの製造においてキャパシタ膜である強誘電体膜に及ぼされる、当該強誘電体膜の弱点である水素による様々な影響を、分析用試料を用いて定量的に正確に把握することを可能とする。 - 特許庁

Regarding a set combining a source IP address and a source port number, sample points are selected respectively from each of areas to which a plurality of rules to be verified are singly corresponding, each of areas to which a plurality of arbitrary rules in the plurality of rules are commonly corresponding, and areas to which all the plurality of rules are not corresponding, in the entire set.例文帳に追加

始点ＩＰアドレスと始点ポート番号の組み合わせによる集合について、その全体集合の中で検証対象の複数のルールが単独で該当する個々の領域、該複数のルールのうち任意の複数のルールが共通に該当する個々の領域、該複数のルールがいずれも該当しない領域からサンプル点をそれぞれ選択する。 - 特許庁

A sample such as a food is incubated, the amounts of a nucleic acid at two different points of time during the incubation are determined by using a carrier to which a probe to be hybridized with a detection object region specific to a microorganism to be detected so as to quickly and simply detect the viable microbial cells of the detection object and to simultaneously identify the microorganism.例文帳に追加

食品等の試料をインキュベーションし、インキュベーション中の異なる２点の時間における核酸の量を、検出する微生物に特異的な検出対象領域とハイブリダイズし得るプローブが固定化された担体を用いて測定することにより、検出対象の微生物の生菌を迅速かつ簡便に検出し、同時に微生物の種類を同定する。 - 特許庁

The silicon substrate is tilted so that the side surface opposite to the former points upward, a converged ion beam is radiated to the upward pointing side surface from the perpendicular direction to cut it into a thin-film-like thin piece including the fault place, thereby preparing the flat TEM sample including the fault place from the semiconductor integrated circuit having the wiring layer on its surface.例文帳に追加

そして、前記側面とは反対側の側面が上を向くようにシリコン基板を傾け、上を向いた側面に対し垂直方向から収束イオンビームを照射して不良箇所を含む薄膜状の薄片に切り出すことにより、表面に配線層が形成された半導体集積回路から不良箇所を含む平面ＴＥＭサンプルを作製する。 - 特許庁

This method for displaying the state of the biological structure, the heart for instance, by utilizing the mapping is provided with a process for preparing the map of the surface of the heart, the process for measuring biological responses at at least three sample points on the surface of the heart, the process for calculating a vector function relating to the responses and the process for displaying the expression of vectors on the map.例文帳に追加

マッピングを利用して生物学的構造、例えば心臓の状態を表示する方法は、心臓の表面のマップを作成する工程と、心臓表面上で少なくとも３つの標本点における生理学的応答を測定する工程と、この応答に関連したベクトル関数を計算する工程と、マップ上にベクトルの表現を表示する工程とを有する。 - 特許庁