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test case generationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23件
TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD AND TEST CASE GENERATION PROGRAM例文帳に追加
テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラム - 特許庁
TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD, AND TEST CASE GENERATOR例文帳に追加
テストケース生成装置、テストケース生成方法及びテストケース生成プログラム - 特許庁
SUPPORT TEST CASE GENERATION DEVICE AND TEST CASE GENERATION METHOD例文帳に追加
支援テストケース作成装置及びテストケース作成方法 - 特許庁
TEST CASE GENERATOR, AND TEST CASE GENERATION PROGRAM AND METHOD例文帳に追加
テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、およびテストケース生成方法 - 特許庁
To provide a test case generation device, a test case generation method and a test case generation program which improve the test efficiency of a computer program represented by a source code.例文帳に追加
ソースコードが表すコンピュータプログラムのテスト効率を向上するテストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを提供する。 - 特許庁
TEST CASE GENERATING DEVICE AND ITS METHOD AND MEDIUM FOR RECORDING TEST CASE GENERATION PROGRAM例文帳に追加
テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体 - 特許庁
In a test case generation device 100, a scenario test case extraction section 104 extracts a test case based on a scenario input from a scenario input section 102.例文帳に追加
テストケース生成装置100において、シナリオテストケース抽出部104は、シナリオ入力部102から入力されるシナリオをもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁
A test case generation section 106 compares an extraction result by the activity test case extraction section 105 and an extraction result by the scenario test case extraction section 104 and generates a test case which includes all differences.例文帳に追加
テストケース生成部106は、アクティビティテストケース抽出部105による抽出結果と、シナリオテストケース抽出部104による抽出結果とを比較し、差分をすべて包含するテストケースを生成する。 - 特許庁
TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION PROGRAM, MODEL BASE DEVELOPMENT PROGRAM, DEVICE AND PROGRAM FOR DIAGNOSING VALIDITY OF SOURCE CODE GENERATION, AND METHOD FOR DEVELOPING MODEL BASE例文帳に追加
テストケース生成装置、テストケース生成プログラム、モデルベース開発プログラム、ソースコード生成妥当性診断装置、ソースコード生成妥当性診断プログラム、およびモデルベース開発方法。 - 特許庁
A control procedure information converting part 130 for test case generation inputs the model identifier and the model configuration information for test case generation and generates a test case generation condition by using a control procedure obtained by retrieving the control procedure storing part 102 by using the model identifier, the model configuration information for test case generation and the control procedure.例文帳に追加
テストケース生成用制御手順情報変換部130は、機種識別子とテストケース生成用機種構成情報とを入力し、機種識別子を用いて制御手順記憶部102を検索して取得した制御手順と、テストケース生成用機種構成情報と制御手順とを用いて、テストケース生成条件を生成する。 - 特許庁
When a stub program is replaced by an actual program, a test case generation unit 14 generates test case information (2f) for testing the replaced program according to stub information stored in a stub information storage unit 23, and stores the generated test case information in a test case storage unit 22.例文帳に追加
テストケース生成部14は、スタブ情報記憶部23に記憶されたスタブ情報に従い、スタブプログラムが実際のプログラムに置き換わった際に、置き換わったプログラムをテストするためのテストケース情報(2f)を生成し、テストケース記憶部22に格納する。 - 特許庁
A test data generation device 100 includes: a test case storage part 101 for storing test cases; a test input data generation part 102 for generating new test cases; a program execution part 103 for executing a program (hereafter called application 110) to be tested according to a test case; and a test case generating part 104 for generating new test cases.例文帳に追加
上記課題を解決するために、テストデータ生成装置100に、テストケースを記憶するテストケース記憶部101と、新たなテストケースを生成するテスト入力データ生成部102と、テストケースにしたがってテスト対象のプログラム(以下、「アプリケーション110」という)を実行させるプログラム実行部103と、新たなテストケースを生成するテストケース生成部104と、を備える。 - 特許庁
A test case generation part 7 creates a test case from an obtainable value of an input variable of the function of the test target and an obtainable value of the output variable of the stub function output by the stub function output value generation part 6.例文帳に追加
テストケース生成部7は、試験対象の関数の入力変数の取り得る値と、スタブ関数出力値生成部6が出力したスタブ関数の出力変数の取り得る値とからテストケースの作成を行う。 - 特許庁
To provide an automatic test program generation system not complicating operation even in the case of providing a plurality of generation screens for specifying operation.例文帳に追加
指定操作の生成画面を複数の生成画面にした場合にも操作が複雑化しないテストプログラム自動生成システムを提供すること。 - 特許庁
The number of test signal inputs is small as compared with a case where the generation circuit 16 does not exist in the LSI package.例文帳に追加
テスト信号入力の本数は、信号自動発生回路16がそのLSIパッケージにない場合に比べ、少なくなる。 - 特許庁
The normal operation confirmation test of an FCS inspection processing (FCS inspection processing part) is performed based on generation or no generation of an FCS error due to coincidence or difference of the number of bits in a CRC polynomial between the CRC generation in the case of transmission and CRC inspection in the case of reception.例文帳に追加
FCS検査処理(FCS検査処理部)の正常動作確認試験を、送信時のCRC生成と受信時のCRC検査とのCRC多項式におけるビット数の一致又は相違によるFCSエラーの発生又は非発生に基づいて行う。 - 特許庁
A second voltage generation circuit generates a second high level voltage higher than the power supply voltage and lower than the first high level voltage and stops in a case of a burn-in test.例文帳に追加
第2電圧生成回路は、電源電圧より高く、第1高レベル電圧より低い第2高レベル電圧を生成し、バーンイン試験時に停止する。 - 特許庁
When this test case generation device makes the transition phenomena sequentially occur based on system operation specification description to generate the system state transition system, the test case generation device makes a scenario state transition system representing order restriction of the transition phenomena be simultaneously transited, and restricts the transition phenomenon made to sequentially occur to the transition phenomenon capable of transiting in the scenario state transition system.例文帳に追加
システム動作仕様記述に基づいて遷移事象を順次生起させてシステム状態遷移系を生成する際に、遷移事象の順序制約を表現するシナリオ状態遷移系も同時に遷移させ、順次生起させる遷移事象を、当該シナリオ状態遷移系で遷移可能なものに制限する。 - 特許庁
To provide an electrode which has an excellent safety that can steadily clear the 150°C heating test as defined in UL 1642 Regulation and which is capable of forming an electrochemical element having little generation of hydrofluoric acid even in the case of calcination at disposal, and an electrochemical element using this electrode.例文帳に追加
UL1642規定の150℃加熱試験を確実にクリアすることのできる優れた安全性を有し、廃棄時に焼却された場合であってもフッ酸の発生量が少ない電気化学素子を形成することが可能な電極及びそれを用いた電気化学素子を提供すること。 - 特許庁
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