| 意味 | 例文 |
throughput analysisの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 69件
To provide a cell analyzer which can capture a great amount of cells in a sample, with high density and at single cellular level, without giving damage thereto, and analyze cell information on the cells with high throughput; and to provide a cell analysis method using the device.例文帳に追加
試料中の大量の細胞を、ダメージを与えることなく高密度に単一細胞レベルで捕捉し、当該細胞の細胞情報をハイスループットに解析可能な細胞解析装置、及び当該装置を用いた細胞解析方法の提供。 - 特許庁
To develop an amphipathic molecular film capsule in which an entire in-vitro transfer and translation system is sealed into an artificial amphipathic molecular film in order to efficiently produce membrane protein or the like and perform high-throughput analysis of its functionality.例文帳に追加
膜タンパク質等を効率よく産生して、その機能のハイスループット解析を行うために、試験管内転写及び翻訳システム全体が人工両親媒性分子膜に封入された両親媒性分子膜カプセルを開発すること。 - 特許庁
To provide a method, assay and component for rapid, high throughput, specific and highly sensitive detection and analysis of organism molecules and chemical interactions, more concretely an identifier for identifying substances associated with those and other assay.例文帳に追加
生体分子および化学的相互作用の迅速、ハイスループット、特異的および高感度な検出および分析のための方法、アッセイ、および成分に関し、より具体的には、これらおよび他のアッセイに関与する物の識別のための識別子の提供。 - 特許庁
To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method that carry out observation and analysis of a sectional face of a wafer from horizontal to vertical directions without breaking the wafer to be a sample with higher resolution, higher accuracy, and higher throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現する。 - 特許庁
To provide a method of controlling data output and the like, with which various internal data of control softwares can be outputted to outside at any time, and with which a trouble that otherwise consumes extraordinary time for analysis can be analyzed rapidly and solved, without degrading throughput of an exposure system.例文帳に追加
露光装置のスループットを落とすことなく、制御ソフトウェアの種々の内部データを常に外部へ出力可能であり、従来は解析に非常に時間を要したトラブルが迅速に解析、解決できるデータ出力制御方法等を提供する。 - 特許庁
To provide a minute sample processing/observing device and a minute sample processing/observing method, which execute cress section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a minute sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a trace sample working observation apparatus and a minute sample working observation method where cross-sectional observation and analysis of wafer cross section from horizontal direction up to vertical direction can be performed with high resolution, high precision and high throughput, without having to breaking the wafer which is to become samples.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方角からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
An equipment information / network analysis circuit 104 analyzes the type and throughput of the reception terminal and the condition of the communication channel, and a scene / object conversion circuit 101 judges whether to divide and transmit the scene description data 102 and the object description data 103 corresponding to analyzed results.例文帳に追加
機器情報／ネットワーク解析回路１０４は、受信端末の種類や処理能力、通信回線の状況を分析し、分析結果に応じてシーン／オブジェクト変換回路１０１は、シーン記述データ１０２、オブジェクト記述データ１０３を分割して送信すべきか否かを判断する。 - 特許庁
To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能，高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a nucleic acid analyzer which, when required to continuously analyze a plurality of samples of different preprocessing times and fluorescence measuring times, can minimize the deterioration in the samples, while improving the throughput of the analyzer by starting preprocessing of the next sample during the analysis of the current sample.例文帳に追加
本発明の目的は、前処理時間および蛍光測定時間の異なる複数の試料が連続的に分析依頼される場合に、分析中に次の試料の前処理を開始することで装置のスループットの向上を図り且つ、試料の劣化を最小限に抑えることができる核酸分析装置を提供することに関する。 - 特許庁
To heighten a throughput of inspection by allocating each inspection to a pretreatment cell, or by arranging it according to each pretreatment kind so that a specimen pretreated without rest to the utmost can be dispensed into an inspection device 1009, in an automatic analysis device having a plurality of pretreatment disks 1006, 1007 for pretreating the specimen 1003, and the inspection device 1009 for dispensing the pretreated specimen and inspecting it.例文帳に追加
検体1003を前処理するための複数の前処理ディスク1006,1007と、前処理された検体を分注し検査するための検査装置1009を持つ自動分析装置において、できるだけ休みなく前処理された検体を検査装置1009に分注するように、前処理セルへ検査を割り当て、また前処理種別を配置することにより、検査のスループットを大きくする。 - 特許庁
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