「total reflection method」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain an attenuated total reflection(ATR) apparatus by which an ATR measurement can be performed with high accuracy by a method wherein a sample on the surface of an ATR crystal is pressed by a pressure force from the vertical direction.例文帳に追加

ＡＴＲ結晶上面の試料を垂直な方向から適切な押圧力で押圧し、ＡＴＲ測定を高精度で行えるようにすること。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescent X-ray analyzer which condenses a solution to the minute region of a pinpoint and capable of analyzing an ultrafine amount of a sample with high sensitivity using the condensed sample to be meanured, and an analyzing method using total reflection fluorescent X-rays.例文帳に追加

溶液をピンポイントの微小領域に凝縮させると共に、凝縮した測定対象試料を用いて超微量の測定対象試料を高感度で分析できる全反射蛍光Ｘ線分析装置および全反射蛍光Ｘ線を用いた分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection prism sheet that ensures observation of a satisfactory image by restraining effects of outside light and stray light even in the case that image light enters at a large incident angle and that is easily manufactured, to provide a total reflection prism sheet manufacturing method, and a rear projection type display device.例文帳に追加

大きな入射角度で入射する映像光であっても、外光及び迷光の影響を抑え、良好な画像を観察することができ、製造が容易な全反射プリズムシート、全反射プリズムシートの製造方法、背面投射型表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection prism sheet, constituted so that the influence of external light and stray light is suppressed, even if the image light is made incident at a large incident angle, and a proper images can be observed, and the sheet can be easily manufactured, to provide a method for manufacturing the total reflection prism sheet, and to provide a rear projection type display apparatus.例文帳に追加

大きな入射角度で入射する映像光であっても、外光及び迷光の影響を抑え、良好な画像を観察することができ、製造が容易な全反射プリズムシート、全反射プリズムシートの製造方法、背面投射型表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an organic electroluminescent element, the method easily forming a desired structure for restraining total reflection generated at electrodes in a layer fitted between a pair of electrodes.例文帳に追加

電極で生じる全反射を抑制する所期の構造を、一対の電極間に設けられる層に容易に形成することのできる有機ＥＬ素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating the total amount of Cu that is solid-solved in a silicon wafer, and moreover the Cu concentration of a bulk region even though in the use of a total X-ray reflection fluorescence (TXRF) method for measuring the Cu concentration of a surface of the silicon wafer.例文帳に追加

シリコンウェーハの表面におけるＣｕの濃度を測定するＴＸＲＦ法を用いるにもかかわらず、シリコンウェーハ中に固溶しているＣｕの全量、ひいてはバルク領域中のＣｕ濃度を評価する方法を提供する。 - 特許庁

In this method, a light beam focused on the system which achieves surface inspection with the highest sensitivity and highest throughput is oriented to the surface under test at total reflection angle.例文帳に追加

表面の検査を高い感度で高い処理能力で行うシステムに焦点合わせさせられた光ビームを検査されるべき表面に全反射の角度で向ける。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for enabling application of TIR (total internal reflection) holography to a large high-resolution pattern whose dimensions are larger than those obtainable in the original chromium mask.例文帳に追加

元のクロムマスク内で取得される寸法よりも寸法がより大きい高解像度パターンに対して、ＴＩＲホログラフィを利用できる方法及び装置を提示する。 - 特許庁

To provide a new total reflection X-ray fluorescence analysis method and a device for it capable of achieving an ultramicroanalysis with excellent energy resolution and detection efficiency.例文帳に追加

エネルギー分解能および検出効率ともに優れた、超微量分析を実現することのできる、新しい全反射蛍光Ｘ線分析法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide an imaging method capable of observing one fluorescent coloring matter molecule with high time resolving power, an imaging device therefor and a total reflection type fluorescence microscope using the imaging device.例文帳に追加

蛍光色素分子1個の観察を高時間分解能で可能にする画像化方法及び装置、並びに、それを用いた全反射型蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The inspection method for an coating layer observes a surface state of the coating layer formed from the coating solution applied to a base material and dried, by radiating the surface of the coating layer with illuminating light at an angle for total reflection from the light source, and receiving reflected light by total reflection of the illuminating light.例文帳に追加

また、基材上に、塗布液を塗布、乾燥して設けた塗布層の表面状態を、前記塗布層の表面に、光源から全反射する角度で照射光を照射し、次に、前記照射光が全反射した反射光を受光し、観察することを特徴とする塗布層の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescence X-ray analyzer which can significantly improve the utilization efficiency and the measuring limit of X rays by using a secondary target method ideal for the analysis of light elements.例文帳に追加

軽元素分析に好適な２次ターゲット法を用いて、Ｘ線の利用効率および測定限界を大幅に向上できる全反射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

In the measuring method utilizing the attenuation of total reflection, the reaction on the sensor surface is measured by obtaining the measuring signal which fluctuates in the signal level corresponding to the light intensity.例文帳に追加

全反射減衰を利用する測定方法では、センサ面における試料の反応を、光強度に応じて信号レベルが変化する測定信号を取得することにより測定する。 - 特許庁

The attenuated total infrared reflection spectroscopy (ATR method) is preferably used as the surface analytical method, and hereby the adsorption state can be determined by calculating the relative absorption intensity between the adsorbed material and the sample.例文帳に追加

表面分析法として赤外全反射分光法（ＡＴＲ法）を用いるのが好ましく、これにより、吸着物質と試料の相対吸収強度を計算して吸着状態の判定を行うことができる。 - 特許庁

To provide an epitaxial wafer for an AlGaInP-based light-emitting diode and its manufacturing method which makes it possible to simply suppress the total reflection of light in the surface of a GaP current dispersion layer.例文帳に追加

簡易にＧａＰ電流分散層の表面における光の全反射を抑制することを可能とした、ＡｌＧａＩｎＰ系発光ダイオード用エピタキシャルウェハ及びその製造方法を提供する - 特許庁

Its method, for example, is varying the magnification of a condensing lens in the prestage of a photodetector in an optical pickup, or providing a diaphragm in the prestage of the photodetector 31 to repel the total reflection component.例文帳に追加

その方法としては、たとえば、光学ピックアップ内の受光素子の前段の収束レンズの倍率を変化させる、あるいは、受光素子３１の前段に絞りを設けて全反射成分をける。 - 特許庁

In the measuring method utilizing attenuated total reflection, a reaction of a sample on a sensor plane is measured by acquiring the light intensity distribution of the reflected light reflected on the rear face of sensor plane with a photodetector.例文帳に追加

全反射減衰を利用する測定方法では、センサ面における試料の反応を、センサ面の裏面で反射する反射光の光強度分布を光検出器で取得して測定する。 - 特許庁

The production method of the high density optical disk comprises forming the double-sided substrate 18 by injection molding, film-forming the total reflection layers 16, 17 on the substrate 18 and laminating it with the one-sided substrates 10, 11 having the translucent layers 12, 13 respectively.例文帳に追加

両面基材１８は射出成形により形成され全反射層１６、１７を成膜後、半透明反射層１２、１３を各々持つ片面基材１０、１１と貼り合わされている。 - 特許庁

To provide a visual inspection method which rationalizes and simplifies a setup process before a defect of an anti-reflection film is observed and a cleanup process after the observation, and to provide a visual inspection device which enables visual inspection of the total length of the anti-reflection film to be manufactured at a time.例文帳に追加

反射防止フィルムの欠陥を観察するに至るまでの段取り工程及び観察後の後始末工程を合理化・簡略化する外観検査方法を提供し、同時に製造した反射防止フィルム全長の外観検査が可能な外観検査装置を提供することを目的とした - 特許庁

Before the metal impurities 16 existing on the surface of the silicon substrate 13 are quantitatively analyzed by a total reflection X-ray fluorescence method, hydrofluoric acid vapor is brought into contact with the surface of the substrate 13 for one to ten minutes.例文帳に追加

シリコン基板１３表面に存在する金属不純物１６を全反射蛍光Ｘ線分析法により定量分析する前に基板１３表面にフッ化水素酸蒸気を１〜１０分間接触させる。 - 特許庁

In the data analysis method in the total reflection spectroscopic measurement, a value q based on a ratio P of reference amplitude R_ref to sample amplitude R_sig and a phase difference Δ between a reference phase Φ_ref and a sample phase Φ_sig is found out.例文帳に追加

この全反射分光計測におけるデータ解析方法では、リファレンス振幅Ｒ_ｒｅｆとサンプル振幅Ｒ_ｓｉｇとの比Ｐ、及びリファレンス位相Φ_ｒｅｆとサンプル位相Φ_ｓｉｇとの位相差Δに基づく値ｑを求めている。 - 特許庁

To provide a total reflection fluorescent X-ray analysis method and a device for use in the same, which detect or quantitatively analyze a metal contaminant element on the surface of a silicon wafer at high sensitivity and which can accurately obtain the positional information thereof.例文帳に追加

シリコンウエハ表面の金属汚染物元素を高感度で検出あるいは定量分析し、その位置情報を正確に得ることができる全反射蛍光Ｘ線分析方法及びそのために使用する装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for plating Ag-Sn onto a copper or copper alloy plate, and to provide an Ag-Sn-plated copper or copper alloy plate which is produced by the method and excellent in sulfurization resistance and resistance to ultraviolet light, and has high total reflectivity and superior reflection directivity of light.例文帳に追加

耐硫化性及び耐紫外線性に優れ、高い全反射率と優れた光の反射指向性を有する銅或いは銅合金板へのＡｇ−Ｓｎめっき方法及びその方法により製造されたＡｇ−Ｓｎめっきが施された銅或いは銅合金板が提供される。 - 特許庁

To provide a measurement method and a system for reducing affects due to the difference in sensitivity between a reference unit and a measuring unit for improving the measurement accuracy of variation in attenuated total reflection state, when using measurement results in the reference unit to compensate measured results in the measuring unit.例文帳に追加

リファレンスユニットにおける測定結果を用いて、測定ユニットにおける測定結果を補正する際に、リファレンスユニットと測定ユニット間の感度差による影響を低減し、全反射減衰の状態の変化の測定精度を向上する。 - 特許庁

The concentration of glucose in a specimen (blood, intercellular fluid) is measured by a total reflection measuring method using an ATR prism 11, an infrared light source 14, an interference filter 18 (permitting only light with a wavelength of the absorption peak of glucose to pass) and a photodetector 20.例文帳に追加

ＡＴＲプリズム１１、赤外光源１４、干渉フィルタ１８（グルコースの吸光ピークの波長の光のみ通過させるもの）及び光検出器２０を用いた全反射測定法により試料（血液、細胞間液）のグルコース濃度を測定する。 - 特許庁

In the method for measuring the structure of the silicon surface, soft X-rays are made incident onto a wafer surface under condition of total reflection, and intervals between peaks in the intensity of diffraction (especially the interval between a maximum peak and the following peak) are measured to identify a step width.例文帳に追加

シリコン表面構造を計測する方法において、軟Ｘ線をウェーハ表面に全反射条件で入射し、回折強度のピーク間隔（とくに最大ピークとその次のピークとの間隔）を測定することによりステップ幅を同定する。 - 特許庁

The oil component extract 16 obtained using an oil component extracting solvent 12 is volatilized on the surface of an ATR crystal 2 and the amount of the oil component contained in the volatile residue 5 on the surface of the ATR crystal 2 is measured by an infrared total reflection absorbing method.例文帳に追加

油分抽出溶媒１２を用いて得られる油分抽出液１６を、ＡＴＲ結晶２の表面において揮発させ、その揮発残留物５に含まれる油分量を赤外線全反射吸収法によって測定する。 - 特許庁

To provide a total reflection pattern light guiding plate for applying to a front light source or a backlight source, that realizes high efficiency by lowering the cost of production by means of applying the same kind of design method respectively in different light source direction.例文帳に追加

同種の設計法をそれぞれ異なる光源方向に適用させることにより、製造コストを低下し、高効率化を実現する、フロントライト光源又はバックライト光源の両者に適用する全反射パターン導光板を提供する。 - 特許庁

In a method for detecting scattered light using the total reflection illumination, the scattered light 20 having directivity is produced by approximately equalizing the size of the wavelength of a measurement light 9 to the size of the diameter of a scattering label microparticle 5 which labels a substance to be detected 2.例文帳に追加

全反射照明を利用する散乱光検出方法において、測定光９の波長の大きさと、被検出物質２を標識する散乱性標識微粒子５の直径の大きさとをほぼ同等にすることによって、指向性を有する散乱光２０を生じさせる。 - 特許庁

To provide a nitride semiconductor light-emitting device and a method of manufacturing the same whereby light-emitting efficiency can be improved by forming patterns with variable optical gradients on the upper and lower surfaces of a substrate receiving light, and reducing total reflection characteristics on an interface in a flip-chip bonding structure.例文帳に追加

本発明は、フリップチップボンディング構造において、光が放出される基板の上下面に夫々光傾度を変えられるパターンを形成し界面での全反射特性を減少させることにより発光効率を改善した窒化物半導体発光素子及びその製造方法に関するものである。 - 特許庁

In this method or device, light 202 emitted by a remote light source 100 is maintained within a front light plate 200 by total internal reflection until the light 202 contacts a surfaces 204, from which the light is reflected through a substrate 300 and into elements 310.例文帳に追加

本方法及び装置は、遠隔光源１００により放射された光２０２は、光２０２が表面２０４に接触するまで、内部の全反射により前面光プレート２００の内部に保持され、その表面から光が基板３００を抜けそして素子３１０の中に向け反射される。 - 特許庁