「x‐ray spectroscopic analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a two-dimensional spectroscopic element for X-ray having high spatial resolution for a fluorescent X-ray two-dimensional analysis and a two-dimensional distribution measuring instrument.例文帳に追加

蛍光X線二次元分析のための、空間分解能の高いＸ線用二次元分光素子及び二次元分布測定装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the parallel X-ray beam can be extracted at the same position in the same direction in the two stages of spectroscopic analysis.例文帳に追加

これにより、二つの分光段階で、同じ位置と方向に平行Ｘ線ビームが取り出される。 - 特許庁

To provide a new spectroscopic analyzer in which a fluorescent X-ray spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on constituent elements and a Raman spectroscopic analysis system, capable of acquiring information on atomic coupling are skillfully combined with each other.例文帳に追加

構成元素に関する情報が得られる蛍光Ｘ線分光分析装置と、原子の結合に関する情報が得られるラマン分光分析装置との組み合わせ方に工夫を凝らした新しい分光分析装置を提供する。 - 特許庁

The regenerated catalyst is subjected to an X-ray diffraction analysis and/or an X-ray photoelectron spectroscopic analysis of metal pieces to judge whether the regenerated catalyst is to be recovered.例文帳に追加

得られた再生処理後の触媒について、金属種のＸ線回折分析及び／又はＸ線光電子分光分析を行い、触媒の回収の要否を判定する。 - 特許庁

In the surface carbon film, the bond between the carbons has an sp3 bonding/sp2 bonding ratio of 5%-90% by X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加

該表面炭素膜において、炭素同士の結合が室温のＸ線光電子分光分析でｓｐ３結合／ｓｐ２結合比が５％〜９０％である。 - 特許庁

To provide an electron beam source used for X-ray spectroscopic analysis or the like which achieves less time degradation, excellent reproducibility, high luminance, and stability.例文帳に追加

Ｘ線分光分析等に使用される電子線源であって、経時劣化が少なく再現性に優れた、高輝度かつ安定な電子線源を提供する。 - 特許庁

To provide a device for laser plasma X-ray spectroscopic analysis capable of identifying and measuring a quantity of a minute element in a sample.例文帳に追加

試料中の微量な元素を迅速に同定・定量することのできるレーザプラズマＸ線分光分析装置を提供する。 - 特許庁

To improve waveform resolution in a device for performing spectroscopic analysis of an X-ray generated from a fine domain on a sample such as EPMA, and to enable selection between the waveform resolution and analysis sensitivity corresponding to an analysis purpose or the like.例文帳に追加

ＥＰＭＡ等、試料上の微小領域から発生するＸ線を分光分析する装置における波長分解能を向上させるとともに、分析目的等に応じて波長分解能と分析感度とを選択することを可能とする。 - 特許庁

To provide a method for simply and easily analyzing a high resistance sample in X-ray photoelectron spectroscopic analysis and secondary ion mass spectrometry.例文帳に追加

本発明は、Ｘ線光電子分光分析方法及び2次イオン質量分析方法で従来法以上に簡便に高抵抗試料の分析を行なう方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

The developer carrier has a specific relation between the proportion of the sulfur atoms and the molybdenum atoms present in the surface of the conductive resin coating layer measured by X-ray photoelectron spectroscopic analysis and the proportion of the sulfur atoms and the molybdenum atoms present at a depth of 2 μm from the surface.例文帳に追加

Ｘ線光電子分光分析により測定される該導電性樹脂被覆層の表面おける硫黄原子、モリブデン原子の存在率と、表面から２μｍの深さにおける硫黄原子、モリブデン原子の存在率が特定の関係を有する。 - 特許庁

In this aluminum alloy extended material subjected to phosphate treatment and coating treatment, iron hydroxide or iron oxide precipitated from an aqueous solution of iron salt and identified by X-ray photoelectron spectroscopic analysis is adhered to the surface of the extended material.例文帳に追加

リン酸塩処理および塗装処理されるアルミニウム合金展伸材であって、鉄塩の水溶液から析出させ、X 線光電子分光分析により同定される、水酸化鉄または酸化鉄を展伸材表面に付着させたことである。 - 特許庁

On the above-mentioned surface of the solder resist layer 408, X-ray photoelectron spectroscopic analysis spectrum has a value y/x not smaller than 0.4, where x is the detection intensity at bound energy of 284.5 eV, and y is the detection intensity at bound energy of 286 eV.例文帳に追加

ソルダーレジスト層４０８の上記面において、Ｘ線光電子分光分析スペクトルが、束縛エネルギー２８４．５ｅＶにおける検出強度をｘ、束縛エネルギー２８６ｅＶにおける検出強度をｙとしたときに、ｙ／ｘの値が０．４以上となるようにする。 - 特許庁

To uniformly and electrically neutralize the surface of a sample which is charged nonuniformly and positively by the effects of photoelectrons, when the sample made of an insulator or a sample, in which insulators and conductors are arranged in a matrix is irradiated with X-rays in X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加

Ｘ線光電子分光分析において、絶縁体からなる試料、または絶縁体と導電体がマトリックスに配列した試料にＸ線を照射した際に光電子効果により表面が不均一にプラス帯電した試料の該表面を均一に電気的に中和する。 - 特許庁

On the surface of the solder resist layer 408, X-ray photoelectron spectroscopic analysis spectrum has a value of y/x not smaller than 0.4, where x is detection intensity at 284.5 eV constraint energy and y is detection intensity at 286 eV constraint energy.例文帳に追加

ソルダーレジスト層４０８の上記面において、Ｘ線光電子分光分析スペクトルが、束縛エネルギー２８４．５ｅＶにおける検出強度をｘ、束縛エネルギー２８６ｅＶにおける検出強度をｙとしたときに、ｙ／ｘの値が０．４以上となるようにする。 - 特許庁

The crosslinked polymer particle comprises a vinyl alcohol unit and a polymerization unit containing nitrogen as the constituents wherein the nitrogen content in the dry weight of the particle as determined by the elemental analysis is in the range of 10.0-18.0 wt.% and the surface nitrogen concentration as determined by X-ray photoelectron spectroscopic analysis (XPS) is in the range of 3.0-9.5 at%.例文帳に追加

ビニルアルコール単位および窒素を含有する重合単位を構成要素として含む架橋ポリマー粒子であって、元素分析により特定される乾燥重量中の窒素含有量が１０．０〜１８．０重量％の範囲にあり、Ｘ線光電子分光分析（ＸＰＳ）により特定される表面窒素濃度が３．０〜９．５ａｔ％の範囲にある架橋ポリマー粒子。 - 特許庁

In the analysis of the chemical bond of carbon by an X-ray photoelectron spectroscopic analysis method, coating layers 2 of polyphenylene ether-based organic matter are formed on the upper and lower surfaces of a liquid crystal polymer layer 1 of 7-18% area ratio caused by carboxy groups in the C1s peak area of the surface.例文帳に追加

Ｘ線光電子分光分析法による炭素の化学結合状態の分析で、表面のＣ１ｓピーク面積におけるカルボキシル基に起因する面積の割合が７〜１８％である液晶ポリマー層１の上下面にポリフェニレンエーテル系有機物から成る被覆層２を形成して成ることを特徴とする絶縁フィルム３。 - 特許庁

The toner for electrostatic image development contains a binder resin and a colorant, wherein group IA elements (excluding hydrogen) exist in a range of 0.03-1.0 atom% and group IIA elements, group IIIB elements and group IVB elements (excluding carbon) exist in a range of 0.05-2.0 atom% in total, as measured by XPS (X-ray photoelectron spectroscopic analysis).例文帳に追加

結着樹脂と着色剤とを含む静電荷像現像用トナーであって、ＸＰＳ（Ｘ線光電子分光分析）による第ＩＡ族元素（水素除く）の存在割合が０．０３〜１．０ａｔｏｍ％の範囲であり、かつ、第IIＡ族元素、第IIIＢ族元素及び第IVＢ族元素（炭素除く）の存在割合の合計が０．０５〜２．０ａｔｏｍ％の範囲である静電荷像現像用トナーである。 - 特許庁