二次偏位の英語

静電偏向器１９及び２０により一次電子線を偏向してマーカ１８上を走査する間に得られた該マーカの二次電子画像の左右が丁度反転するとき又はその倍率が実質的に∞になるときの偏向器１９及び２０の偏向電圧比に基づいて、試料面の光軸方向の位置を検出する。例文帳に追加

The optical axis direction position of the sample face is detected on the basis of the deflection voltage ratio of the deflection systems 19, 20 when the left and right of a secondary electron image of the marker obtained while a primary electron beam is deflected by the electrostatic deflection systems 19, 20 to scan on the marker 18, are just reversed, or the magnification substantially becomes infinite. - 特許庁

冷却媒体の流通構造を改善して、単位電池の温度制御効果が優れていると共に、各単位電池間の温度偏差を最小化することができる二次電池モジュールを提供する。例文帳に追加

To provide a secondary battery module having excellent temperature control effect of a unit cell, and capable of minimizing a temperature difference between the respective unit cells, by improving a circulation structure of a refrigerant. - 特許庁

第二接合体２０は、光入射面１１に対して所定の角度Ｂをなす第二斜面２３を有する複数の透光性部材２４が、第二斜面２３に設けられた偏光変換部としての１枚の位相差板２５を挟んで順次貼り合わされて形成される。例文帳に追加

The second joined body 20 is formed by successively laminating a plurality of translucent members 24 each having a second slope 23 forming a prescribed angle B with respect to the light-entering face 11, as interposing a sheet of the retardation plate 25 functioning as a polarization converting part provided on the second slope 23. - 特許庁

直線偏光ビームで試料表面を二次元走査して磁区検出を行う、カー効果やファラデー効果を利用した光学的磁区検出装置において、機械的可動部を用いずに高速で、信頼性が高く、繰り返し位置決め精度が良く、簡便に直線偏光ビームを走査すること。例文帳に追加

To easily scan a linear polarized beam at a high speed, high reliability, and high repeated positioning precision, without using a mechanical moving part, in an optical magnetic domain detector using a Kerr effect or a Faraday effect for scanning a sample surface two-dimensionally by the linear polarized beam to detect a magnetic domain. - 特許庁

ビーム偏向制御回路の構成素子で発生する偏向回路雑音による電子ビーム照射位置のずれによる二次元画像化したときの画素ずれを低減して画質及び欠陥検出感度を向上させたＳＥＭ式検査装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide an SEM type inspection device improved in image quality and defect detection sensitivity by reducing pixel displacement when a two-dimensional image is formed by displacement of an electron beam irradiation position by deflection circuit noise generated in a constituent element of a beam deflection control circuit. - 特許庁

光ファイバ束６６は、特定偏光成分のみ抽出されたプローブパルス光を、結晶６１の各部位に対応するもの毎に、二次的にチャーピングしてそのパルス幅をそれぞれ拡大させる。例文帳に追加

Optical fiber flux 66 secondarily chirps the probe pulse light where only the specific polarization component is extracted for each corresponding to each site of the crystal 61 to expand each pulse width. - 特許庁

上面と下面を連通するオリフィス２７を開けたピストン７の上面に設定圧力と二次側圧力との偏差に基づいて一次側流体を導入することによりピストン７を変位せしめてピストン７に連結した主弁６を開閉操作する。例文帳に追加

A primary fluid is introduced on the basis of a deviation between a set pressure and a secondary pressure to the upper face of a piston 7 with an opened orifice 27 that communicates the upper face and lower face, to displace a piston 7, and open/close a main valve 6 connected to the piston 7. - 特許庁

連続鋳造されたスラブ６を圧延して鋼管製造用丸ビレットを製造するに当たり、前記スラブの連続鋳造過程において二次冷却帯の冷却水量を調節して偏析帯１１の生成位置を穿孔予定位置になるスラブ中心位置からスラブ厚さの５％以上偏在させる。例文帳に追加

When a continuously cast slab 6 is rolled to produce the round billet for producing the steel pipe, in the continuous casting process for slab, a position developing a segregation zone 11 is unevenly distributed at ≥ 5% of the slab thickness from the slab center position as a planning position to the piercing by adjusting cooling water amount in a secondary cooling zone. - 特許庁