A/M operationとは 意味・読み方・使い方

To provide a thrust roller bearing 7 with a plurality of rollers 12 and a M-shaped cage 13, having more stabilized operation and longer life.例文帳に追加

複数個のころ１２とＭ形の保持器１３とを備えるスラストころ軸受７の動作安定化ならびに長寿命化を図る。 - 特許庁

Arithmetic operation of a M group and the chip group (exclusive NOR) is performed, the operation result is made 56 chips, the modulation wobble signal corresponding to 56 chips and constituted of 56 wobbles is generated and this signal is recorded.例文帳に追加

Ｍ系列とチップ系列との演算（排他的ＮＯＲ）行い、演算結果を５６チップとし、５６チップに対応した５６ウォブルからなる変調ウォブル信号を生成し、この信号を記録する。 - 特許庁

In a heater control device 10, a center operation unit 28, an A/M dial 66 and a mode dial 74 are arranged in a cluster panel 14, and a center body 22, a right body 56 and a left body 58 are provided on back sides of the center operation unit 28, the A/M dial 66 and the mode dial 74.例文帳に追加

ヒータコントロール装置１０では、クラスタパネル１４に中央操作部２８、Ａ／Ｍダイヤル６６及びモードダイヤル７４が配置されており、中央操作部２８、Ａ／Ｍダイヤル６６及びモードダイヤル７４の裏側にそれぞれ中央ボデー２２、右ボデー５６及び左ボデー５８が設けられている。 - 特許庁

In addition, by communicating the insides of the right body 56 and the left body 58 with the center body 22, a lamp 50 in the center body 22 is capable of illuminating the center operation unit 28, the A/M dial 66 and the mode dial 74.例文帳に追加

さらに、右ボデー５６内及び左ボデー５８内が中央ボデー２２内に連通されることで、中央ボデー２２内のランプ５０が、中央操作部２８、Ａ／Ｍダイヤル６６及びモードダイヤル７４を照明可能にされている。 - 特許庁

To provide an electro-refining method for obtaining a high-quality electrolytic copper excellent in purity (especially S grade) and surface condition by which the electrodeposited surface is not wrinkled, and grains and lumps are never generated in the operation at ≥330 A/m2 current density.例文帳に追加

電流密度330 A/m^2以上の操業において電着表面のしわ、粒およびコブの発生を防止でき、純度（特にＳ品位）、表面状態共、高品質の電気銅が得られる銅の電解精製方法および電気銅を提供する。 - 特許庁

In the maximum heating operation, the A/M door 7 is positioned as blocking the bypass passage 6, and therein the film member 74 is taken up on the rotary shaft 71 and retreated from an opening 10.例文帳に追加

最大暖房時には、Ａ／Ｍドア７はバイパス通路６を塞ぐように位置しており、この状態においては、フィルム部材は７４は回転軸７１に巻き取られて、開口部１０から退避している。 - 特許庁

Upon reception of a line address signal A<m+n:0>, a determination circuit A performs a coincidence comparison operation between its higher-order address signal A<m+n:m+1> and the higher-order address FA<m+n:m+1> of a defective memory cell stored in a fuse latch group A to determine the selection/nonselection of a spare row block A.例文帳に追加

判定回路Ａは、外部からの行アドレス信号Ａ＜ｍ＋ｎ：０＞を受けると、その上位アドレス信号Ａ＜ｍ＋ｎ：ｍ＋１＞と、ヒューズラッチ群Ａの記憶する不良メモリセルの上位アドレスＦＡ＜ｍ＋ｎ：ｍ＋１＞との一致比較動作を実行して、スペアロウブロックＡの選択／非選択を判定する。 - 特許庁