不良品数の英語

まず、ステップＳ１で、良品基板、不良品基板の全ネットまたは選択されたネットのパルス数または電圧を測定する。例文帳に追加

Firstly, the pulse number or voltages of the all or selected nets of defectless boards and defective boards are measured (S1). - 特許庁

トラブル等が生じた場合にも、不良品と良品との選別を確実に行うことができ、不良品の数を最小限に抑えることのできるディスク製造装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a device for manufacturing disks in which defective products can be accurately separated from good products even when troubles occur and the number of defective products can be suppressed to the minimum. - 特許庁

ウェハー上のチップを１個ずつテストし、良品/不良品の識別が出来るようにマークをつけていくか、良品/不良品の情報を記憶していく従来の方式では、ウェハー上のチップ数が増えるに従ってテスト時間が増える。例文帳に追加

To suppress the increase of the test time even if the number of chips on a wafer increases, differently from a conventional method of testing the chips on the wafer one by one and marking the chips to identify good/defective products or storing information about the good/defective products. - 特許庁

ウェブ状の剥離台紙に並んで剥離可能に貼着されて搬送される複数のＩＣラベルのうち不良ラベルを、別途搬送経路を設けることなく良品ラベルに貼り替えることができるとともに、貼り替えた良品ラベルが不良品である場合に良品に貼り替える。例文帳に追加

To replace a defective label of a plurality of IC labels peelably stuck on a web release paper mount side by side and conveyed with a good label without separately providing a conveyance route, and to replace a defective product with a good product when the replaced good label is the defective product. - 特許庁

複数のねじ同士が塗料によって固着して不良品となることを防止する。例文帳に追加

To prevent a plurality of screws from sticking to each other by a coating material liquid and becoming defectives. - 特許庁

検査途中に、複数の被測定半導体の中で、不良品の半導体があれば、即座に不良品半導体をその他の良品半導体から切り離して、不良品半導体から他の良品半導体に、電気特性的にも影響が及ばないようにすることができ、被測定半導体に対して、よりミスのないさらに正確な良否判定の検査を実行することができる半導体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection device capable of preventing semiconductors which are good products from being adversely affected by a defective semiconductor from the viewpoint of electric characteristics by separating the defective semiconductor from the other good semiconductors immediately when the defective semiconductor is detected from among a plurality of semiconductors to be inspected during the inspection to conduct the inspection for determining good or defective semiconductor accurately without causing error. - 特許庁

その後、ステップＳ１３において、無作為抽出したチップ中に不良品チップが、欠陥有り・不良品チップ数Ｎ４に相当する数以上になる確率である、無作為不良確率Ｐ（Ｎ４）を求める。例文帳に追加

Subsequently, at step S13, a random rejection probability P(N4), i.e., a probability where the number of rejectable chips in the randomly extracted chips is not smaller than a defective/rejectable number of chips N4, is determined. - 特許庁

従来の製箱機に付加して使用することができ、折り畳まれた状態で所定枚数積み重ねられた段ボール箱のブロックから不良品を分別し、良品のみを所定枚数積み重ねて搬出することができる不良品分別装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defective product separation device attached to a conventional box production machine to be used, separating a defective product from a block of a prescribed number of cardboard boxes stacked in a folded state, and stacking and carrying out only a prescribed number of good products. - 特許庁